[發明專利]一種EMC自動測試系統多測試項并行測試的實現方法

在審

• 申請號: 201811631497.1
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN109709424A
• 公開（公告）日: 2019-05-03
• 發明（設計）人: 曹晉;李中群
• 申請（專利權）人: 中電科儀器儀表有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 青島智地領創專利代理有限公司 37252
• 代理人: 種艷麗

本發明公開了一種EMC自動測試系統多測試項并行測試的實現方法，屬于電磁兼容測試領域，本發明通過對測試資源的需求分析，對測試項的合理規劃與測試資源的合理分配，在不產生沖突的前提下，對硬件資源進行合理劃分，提出敏感度測試與傳導發射測試同時進行的硬件方案，最大程度上減少資源閑置，在不增加現有的硬件設備的基礎上，通過軟件系統實現測試資源的多線程調用并建立相應的測試通路，最終實現了電磁兼容測試系統測試項并行測試，調高了測試效率，縮短了測試時間，節約了測試成本。

技術領域

本發明屬于電磁兼容測試領域，具體涉及一種EMC自動測試系統多測試項并行測試的實現方法。

背景技術

隨著現代科技的發展，電子設備的應用領域越來越廣泛，所處的電磁環境也越來越復雜，因此產生了越來越多的電磁兼容問題。為了保障電子設備及使用人員的安全，電磁兼容性已經成為電子、電氣類產品市場準入的必要條件。而產品電磁兼容性是否滿足市場要求是要通過電磁兼容測試來衡量的，電磁兼容測試不僅能評估被測產品是否達到相關標準的要求，還能通過測試來定位、分析存在的電磁兼容問題，從而幫助生產者改進設計。

電磁兼容測試主要分為發射測試(EMI)和敏感度測試(EMS)，兩類測試所需要的實驗室測試資源包括測試設備、測試通道與測試場地。發射測試與敏感度測試中的許多測試資源是共用的，例如測試場地都是在暗室中或控制室中，測試通道都是由開關矩陣與各種線纜接口板組成的通路，測試設備中的信號源，在發射測試中作為校準設備使用，同時在敏感度測試中又作為干擾場強生成設備使用。為了避免測試資源的使用沖突，在測試的過程中，大部分實驗室同一時間只進行一個測試項的測試，當前測試項未用到的資源則處于閑置狀態，導致設備資源利用率不高、測試效率低下，特別是在敏感度測試中，在長時間的測試過程中無法進行其他的測試，造成了實驗室測試資源的極大浪費。因此，一些測試任務重的實驗室需要配置多臺/套功能相同或相近的設備，才能同時開展多個項目的測試工作，造成了實驗室成本的提高。

當前的電磁兼容測試系統中，對于不同測試項測試的實現方法有兩種：

第一種方法是逐項進行。由于各個敏感度測試測試項與各個發射測試測試項之間存在共用的測試儀器，為了保證各項測試不受相互之間的干擾，保證測試正常進行，許多實驗室采取了逐項測試的方法，即同一時間只測試一個測試項，當前測試項完成后再進行下一個測試項的測試。此種方法造成了其他測試資源的閑置，降低了測試效率。

第二種方法是購置多臺/套功能相近的測試設備/系統。部分實驗室由于測試任務繁重，測試時間緊張，為了更充分的利用測試資源，另購買了部分設備來實現不同測試項的同時測試。比如兩臺功能相近的信號源，一臺用于發射測試校準使用，一臺用于敏感度測試生成干擾信號使用，一定程度上提高了資源的利用率，但是卻增加了實驗室硬件成本，造成了資源的浪費。

直接采用現有的方法進行電磁兼容多測試項測試的問題時，主要存在以下缺點：

效率低。為了保證測試過程中不同測試項不產生相互干擾，同時只進行一個測試項的測試，當前測試項不需要的測試資源處于閑置狀態，降低了測試效率，延長了測試時間。

成本高。為提高測試效率，測試系統中存在多臺/套功能相近的測試設備/系統，實現了多測試項的同時測試，減少了測試資源的閑置，但增加了需要購置的硬件設備，增加了實驗室的建設成本。

發明內容

針對現有技術中存在的上述技術問題，本發明提出了一種EMC(Electro MagneticCompatibility，電磁兼容)自動測試系統多測試項并行測試的實現方法，設計合理，克服了現有技術的不足，具有良好的效果。

為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

一種EMC自動測試系統多測試項并行測試的實現方法，包括如下步驟：