[發明專利]一種質量控制方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 201811621285.5
• 申請日: 2018-12-28
• 公開（公告）號: CN109740118B
• 公開（公告）日: 2020-08-14
• 發明（設計）人: 郭啟云;程凱琪;李昌興;楊榮康;張春澤;溫凱
• 申請（專利權）人: 中國氣象局氣象探測中心;天津訊聯科技有限公司
• 主分類號: G06F17/18
• 分類號: G06F17/18
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種質量控制方法，其特征在于，包括：

確定目標掩星數據的雙權重系數，并基于目標掩星數據的雙權重系數確定所述目標掩星數據中的錯誤數據和可疑數據，并分別作為第一錯誤數據以及第一可疑數據；

將所述目標掩星數據中的第一錯誤數據去除，得到第一剩余數據，并確定所述第一剩余數據與目標背景場數據中的對應數據之間的偏差數據；

確定所述偏差數據的雙權重系數，并基于所述偏差數據的雙權重系數確定所述偏差數據中的錯誤數據和可疑數據，并分別作為第二錯誤數據以及第二可疑數據；

將所述第一剩余數據中的所述第二錯誤數據對應的掩星數據去除，得到第二剩余數據；

確定所述第二剩余數據與目標背景場數據的相關系數，并基于所述相關系數，確定所述目標掩星數據中的正確數據。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述雙權重系數包括：雙權重平均值和雙權重標準差；

所述第一錯誤數據為所述目標掩星數據中除范圍之外的掩星數據；

所述第一可疑數據為所述目標掩星數據中在和范圍內的掩星數據；

所述第二錯誤數據為所述偏差數據中除范圍之外的數據；

所述第二可疑數據為所述偏差數據中在和范圍內的數據；

其中，和BSD分別為所述目標掩星數據的雙權重平均值和雙權重標準差；

和biasBSD分別為所述偏差數據的雙權重平均值和雙權重標準差。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于,

基于如下公式確定所述目標掩星數據的雙權重平均值：

基于如下公式確定所述目標掩星數據的雙權重標準差：

其中，n為所述目標掩星數據中采樣數據的個數，O_i為所述目標掩星數據中第i個采樣數據，M為所述目標掩星數據中n個采樣數據的中位數，MAD為所述目標掩星數據中n個采樣數據分別與M的差值絕對值組成的數組中的中位數,C＝7.5；

基于如下公式確定所述偏差數據的雙權重平均值：

基于如下公式確定所述偏差數據的雙權重標準差：

其中，m為所述第一剩余數據中采樣數據的個數，bias_j＝O_j-B_j,O_j為所述第一剩余數據中的第j個采樣數據，B_j為所述目標背景場數據中與O_j對應的采樣數據，biasM為m個所述偏差數據的中位數，biasMAD為m個所述偏差數據分別與biasM的差值絕對值組成的數組中的中位數。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述相關系數，確定所述目標掩星數據中的正確數據，包括：

若所述相關系數小于預設相關系數閾值，則所述第二可疑數據為錯誤數據，將所述第二剩余數據中的所述第二可疑數據對應的掩星數據去除，得到目標掩星數據的正確數據；

若所述相關系數不小于所述預設相關系數閾值，則所述第二可疑數據為正確數據，將所述第二剩余數據作為目標掩星數據的正確數據。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述相關系數閾值是基于數據統計計算出的閾值。

6.一種質量控制裝置，其特征在于，包括：

第一數據確定模塊，用于有確定目標掩星數據的雙權重系數，并基于所述目標掩星數據的雙權重系數確定所述目標掩星數據中的錯誤數據和可疑數據，并分別作為第一錯誤數據以及第一可疑數據；

偏差數據確定模塊，用于將所述目標掩星數據中的第一錯誤數據去除，得到第一剩余數據，并確定所述第一剩余數據與目標背景場數據中的對應數據之間的偏差數據；

第二數據確定模塊，用于確定所述偏差數據的雙權重系數，并基于所述偏差數據的雙權重系數確定所述偏差數據中的錯誤數據和可疑數據，并分別作為第二錯誤數據以及第二可疑數據；

第二剩余數據確定模塊，用于將所述第一剩余數據中的所述第二錯誤數據對應的掩星數據去除，得到第二剩余數據；

正確數據確定模塊，用于確定所述第二剩余數據與目標背景場數據的相關系數，并基于所述相關系數，確定所述目標掩星數據中的正確數據。