[發明專利]基于知識庫的覆蓋數據通路邊界情況的測試向量生成方法及系統

有效

• 申請號: 201811620169.1
• 申請日: 2018-12-28
• 公開（公告）號: CN109753714B
• 公開（公告）日: 2023-03-21
• 發明（設計）人: 陳書明;呂昭;張見;王耀華;張廷榮;胡春媚;孫乾
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍國防科技大學
• 主分類號: G06F30/398
• 分類號: G06F30/398
• 代理公司: 湖南兆弘專利事務所(普通合伙) 43008
• 代理人: 譚武藝

本發明公開了一種基于知識庫的覆蓋數據通路邊界情況的測試向量生成方法及系統，包括步驟將數據通路中的數據端口分為數據傳輸類端口與控制類端口；建立基于數據類型的邊界值知識庫，輸入每個數據傳輸類端口的數據類型得到邊界值集合；輸入每個控制類端口的位寬通過約束求解器求得合法值域形成合法值域集合；將邊界值集合中的每個邊界值與控制類端口的合法值域集合中每個合法值正交組合，得到覆蓋數據通路邊界情況的測試向量。本發明充分利用數據端口的功能屬性和數據類型，通過建立邊界值知識庫、合法約束值域、邊界值集合與合法值域集合進行正交組合，生成覆蓋數據通路邊界情況的測試向量，實現了數據通路電路設計驗證的完備性與高效性。

技術領域

本發明涉及集成電路設計驗證領域，特別涉及一種基于知識庫的覆蓋數據通路邊界情況的測試向量生成方法及系統。

背景技術

模擬驗證依舊是集成電路設計驗證過程中主要的驗證手段。模擬驗證的過程是對待測設計的輸入端加載大量測試向量從而觀察待測設計的行為是否符合預期的功能規范。數據通路的電路設計往往具有較大位寬的數據端口，這些數據端口對應的巨大合法值域，這些合法值域所組成的巨大驗證空間使得面向數據通路生成高效完備的測試向量變得困難：由于驗證空間巨大，使用驗證空間全遍歷的方法產生測試向量無法保證在有效時間空間內完成數據通路的驗證；而采用在驗證空間中隨機生成測試向量的方法并不能夠保證完全覆蓋驗證空間的邊界情況，而邊界情況往往是電路設計環節最容易出錯的地方，這就造成了驗證的不完備與不充分。因此，面向數據通路的電路設計產生高效測試向量非常困難。

發明內容

本發明要解決的技術問題是：針對現有技術的上述問題，提供一種基于知識庫的覆蓋數據通路邊界情況的測試向量生成方法及系統，本發明能夠提高數據通路電路設計驗證的完備性與高效性。

為了解決上述技術問題，本發明采用的技術方案為：

一種基于知識庫的覆蓋數據通路邊界情況的測試向量生成方法，實施步驟包括：

S1.將數據通路中除時鐘端口、重置端口以外的所有數據端口按照功能屬性劃分為數據傳輸類端口與控制類端口；

S2.建立基于數據類型的邊界值知識庫，向該邊界值知識庫輸入步驟S1中所述每個數據傳輸類端口的數據類型，得到每個數據傳輸類端口的邊界值集合；.輸入步驟S1中每個控制類端口的位寬通過約束求解器求得每個控制類端口的合法值域，從而形成控制類端口的合法值域集合；

S3. 分別將步驟S2中數據傳輸類端口的邊界值集合中的每個邊界值與控制類端口的合法值域集合中的每個合法值進行正交組合，得到覆蓋數據通路邊界情況的測試向量。

所述步驟S1中的數據端口為輸入端口。

所述步驟S1中的數據端口為輸出端口。

所述步驟S2中的數據類型包括單/雙精度浮點、8/16/32/64位有符號/無符號整數、n位二進制數類型。

所述步驟S2中的約束求解器包括布爾可滿足性引擎的求解器、二叉判決樹引擎的求解器或基于約束邏輯編程系統的約束求解器。

本發明還提供一種基于知識庫的覆蓋數據通路邊界情況的測試向量生成系統，包括計算機設備，所述計算機設備被編程以執行本發明前述基于知識庫的覆蓋數據通路邊界情況的測試向量生成方法的步驟；或者所述計算機設備的存儲介質中存儲有被編程以執行本發明前述基于知識庫的覆蓋數據通路邊界情況的測試向量生成方法的計算機程序。

本發明還提供 一種存儲介質，所述存儲介質中存儲有被編程以執行本發明前述基于知識庫的覆蓋數據通路邊界情況的測試向量生成方法的計算機程序。

和現有技術相比，本發明具有下述優點：