[發明專利]雙探針系統及印制電路板檢測設備

在審

• 申請號: 201811614915.6
• 申請日: 2018-12-27
• 公開（公告）號: CN109581007A
• 公開（公告）日: 2019-04-05
• 發明（設計）人: 李景濤
• 申請（專利權）人: 南京協辰電子科技有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073;G01R31/28
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 朱靜謙

本發明提供了一種雙探針系統及印制電路板檢測設備，包括固定支架、固定于固定支架的探針驅動機構以及由探針驅動機構驅動的間距調整機構，間距調整機構包括直線驅動組件、導軌組件、第一探針組件和第二探針組件，第一探針組件和第二探針組件中至少之一為在直線驅動組件驅動下沿導軌組件往復滑動的活動探針組件。本發明提供的雙探針系統及印制電路板檢測設備，活動探針組件可以在直線驅動組件的帶動下沿著導軌組件移動，從而對固定探針組件和活動探針組件之間的相對位置進行調整，可以實現對印制電路板檢測過程中雙探針的同步探刺，可以通過僅移動單個印制電路板檢測設備既可以實現多印制電路板的檢測，大大的提高了檢測效率。

技術領域

本發明屬于印制電路板的加工檢測設備的技術領域，更具體地說，是涉及一種雙探針系統及印制電路板檢測設備。

背景技術

印制電路板檢測設備一般包括多個探測系統協同工作，每個探針系統上驅動單個探針完成探測動作，從而保證檢測的效率。在對于內置線圈的電路板進行電感值檢測時，需要同時對兩點同時進行刺探測量，且同一規格的印制電路板中被測點的相對位置以及點距完全相同。

現有技術中，普遍采用傳統單的探針系統對內置線圈的電路板進行探測，在進行檢測時通過兩個探針系統相配合，從而實現探刺操作，在對大批量多規格的內置線圈的電路板進行檢測時，檢測效率較低。

發明內容

本發明的目的在于提供一種雙探針系統及印制電路板檢測設備，以解決現有技術中存在單探針系統對大批量多規格的內置線圈的電路板進行檢測時效率較低的技術問題。

為實現上述目的，本發明采用的技術方案是：提供一種雙探針系統，包括：固定支架、固定于所述固定支架的探針驅動機構以及由所述探針驅動機構驅動的間距調整機構，所述間距調整機構包括直線驅動組件、導軌組件、第一探針組件和第二探針組件，所述第一探針組件和所述第二探針組件中至少之一為在所述直線驅動組件驅動下沿所述導軌組件往復滑動的活動探針組件。

進一步地，所述第一探針組件為固定于所述導軌組件的側壁的固定探針組件，所述第二探針組件為所述活動探針組件，所述活動探針組件與所述直線驅動組件相連接。進一步地，所述直線驅動組件包括直線電機、固定桿和探針臂，所述固定桿的兩端均固定于所述導軌組件上，所述直線電機設于所述固定桿上并沿所述固定桿直線運動，所述探針臂與所述直線電機固定連接。

進一步地，所述導軌組件包括基板和設于所述基板底部的第一導軌，所述第一導軌的長度方向與所述固定桿的長度方向一致。

進一步地，所述基板的兩側開設有長條孔，所述探針臂穿過所述長條孔與所述活動探針組件固定連接。

進一步地，所述探針臂的底部固定連接有第一滑塊，所述第一滑塊上開設有與所述第一導軌配合的第一滑槽。

進一步地，所述活動探針組件和所述固定探針組件均包括依次連接的高度連接件、間距調整件和探針，所述高度連接件和探針臂或基板固定連接，所述間距調整件調整兩個所述探針之間的間距。

進一步地，所述探針驅動機構包括角度調節組件和高度調節組件，所述角度調節組件與所述固定支架固定連接，所述高度調節組件固定于所述角度調節組件上，且所述高度調節組件帶動所述間距調整機構移動。

進一步地，所述角度調節組件包括旋轉電機、電機固定板和支柱組，所述旋轉電機設于所述電機固定板上且與所述固定支架固定連接，所述支柱組與所述電機固定板固定連接。

進一步地，所述高度調節組件包括固定背板、高度調節電機和傳動部，所述支柱組和所述固定背板固定連接，且所述高度調節電機固定于所述固定背板上，所述傳動部連接所述高度調節電機和所述間距調整機構。