[發明專利]谷值校準的確定方法、電磁加熱電路及電磁加熱器具

有效

• 申請號: 201811613605.2
• 申請日: 2018-12-27
• 公開（公告）號: CN110049589B
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 孫鵬剛;趙禮榮
• 申請（專利權）人: 浙江紹興蘇泊爾生活電器有限公司
• 主分類號: H05B6/06
• 分類號: H05B6/06
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 張曉霞;劉芳

1.一種谷值校準的確定方法，其特征在于，包括：

確定試探信號，所述試探信號包括N個試探脈沖，每個試探脈沖的發出時刻為交流電源信號對應的谷值時刻與校準時長之和，任意兩個試探脈沖的發出時刻對應的谷值時刻和校準時長皆不同，N為正整數；

將所述試探信號輸入到驅動電路（103）中，以使所述驅動電路（103）生成驅動IGBT（102）導通的驅動信號，所述驅動信號包括寬度相同的N個驅動脈沖，所述N個驅動脈沖的初始時刻分別為所述N個試探脈沖的發出時刻；

根據所述IGBT（102）的N個導通電流中的最小電流，確定與所述最小電流對應的試探脈沖的發出時刻；

確定所述發出時刻對應的校準時長，其中，所述校準時長用于對實測到的交流電源信號對應的谷值時刻進行校準，以使所述驅動電路（103）驅動所述IGBT（102）在漏極電壓最低時導通。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定試探信號，包括：

將所述交流電源信號對應的任意一個谷值時刻作為初始時刻；

根據所述交流電源信號的周期，從所述初始時刻起，對所述交流電源信號對應的谷值時刻依次進行估計，得到N個試探時刻；

對所述N個試探時刻依次添加按照從小到大順序的N個校準時長，得到所述N個試探脈沖的發出時刻；

根據所述N個試探脈沖的發出時刻，確定所述試探信號。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，根據公式一，得到N個試探脈沖的發出時刻：

公式一；

其中，為任意一個試探脈沖的發出時刻，為所述初始時刻，為正整數，且，為所述交流電源信號的半個周期，，為校準時長。

4.根據權利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，在根據所述IGBT（102）導通對應的最小電流，確定與所述最小電流對應的試探脈沖的發出時刻之前，所述方法還包括：

在所述N個驅動脈沖的脈沖寬度對應的時間段內，對所述IGBT（102）導通時的電流進行檢測，得到N個導通電流；

從所述N個導通電流中選擇出所述最小電流。

5.根據權利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述根據所述IGBT（102）導通對應的最小電流，確定與所述最小電流對應的試探脈沖的發出時刻，包括：

確定與所述最小電流對應的驅動脈沖的初始時刻；

根據所述驅動脈沖的初始時刻，確定對應的試探脈沖的發出時刻。

6.一種電磁加熱電路（100），其特征在于，包括：主回路（101）、絕緣柵雙極型晶體管IGBT（102）、驅動電路（103）以及微控制單元MCU（104）；

其中，所述MCU（104）的輸出端與所述驅動電路（103）的輸入端連接，所述驅動電路（103）的輸出端與所述IGBT（102）的輸入端連接，所述IGBT（102）的輸出端與所述主回路（101）的輸出端連接；

所述MCU（104），用于獲取交流電源信號對應的谷值時刻；

所述MCU（104），還用于確定試探信號，所述試探信號包括N個試探脈沖，每個試探脈沖的發出時刻為所述交流電源信號對應的谷值時刻與校準時長之和，任意兩個試探脈沖的發出時刻對應的谷值時刻和校準時長皆不同，N為正整數；

所述MCU（104），還用于將所述試探信號輸入到所述驅動電路（103）中，以使所述驅動電路（103）生成驅動IGBT（102）導通的驅動信號，所述驅動信號包括寬度相同的N個驅動脈沖，所述N個驅動脈沖的初始時刻分別為所述N個試探脈沖的發出時刻；

所述MCU（104），還用于在所述N個驅動脈沖的脈沖寬度對應的時間段內，獲取所述IGBT（102）的N個導通電流；

所述MCU（104），還用于根據所述N個導通電流中的最小電流，確定與所述最小電流對應的試探脈沖的發出時刻；

所述MCU（104），還用于確定所述發出時刻對應的校準時長，其中，所述校準時長用于對實測到的交流電源信號對應的谷值時刻進行校準，以使所述驅動電路（103）驅動所述IGBT（102）在漏極電壓最低時導通。