[發(fā)明專利]一種SRM密封結(jié)構(gòu)密封性能評估方法

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• 申請日: 2018-12-27
• 公開（公告）號: CN109632201A
• 公開（公告）日: 2019-04-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳家照;王學(xué)仁;寧超;劉新國;徐志高;黃拳章;岳春國
• 申請（專利權(quán)）人: 中國人民解放軍火箭軍工程大學(xué)
• 主分類號: G01M3/20
• 分類號: G01M3/20
• 代理公司: 西安億諾專利代理有限公司 61220
• 代理人: 李永剛

1.一種SRM密封結(jié)構(gòu)密封性能評估方法，其特征在于：包括如下步驟：

(1)根據(jù)Roth分子流泄漏理論，建立SRM橡膠O型圈密封機理的漏孔分子流泄漏模型；

(2)依據(jù)時間變量建立橡膠老化預(yù)測模型；

(3)結(jié)合步驟(1)、步驟(2)建立長期貯存條件下SRM橡膠圈泄漏率模型，求解得到SRM密封結(jié)構(gòu)密封性能的評估結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SRM密封結(jié)構(gòu)密封性能評估方法，其特征在于：步驟(2)所述橡膠老化預(yù)測模型為：

式中：B和α為老化模型系數(shù)；K_c為老化速度常數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的SRM密封結(jié)構(gòu)密封性能評估方法，其特征在于：步驟(1)所述分子流泄漏模型為：

式中：Q為泄漏率；C為氣體從密封面流過的總流導(dǎo)；Δp為密封裝置內(nèi)外壓差；T為氣體的絕對溫度；M為氣體介質(zhì)分子量；H為單個泄漏通道三角形截面的初始高度；L為密封面的截面接觸長度；b為接觸面寬度；為擠壓填充時密封面上接觸應(yīng)力；R_s為密封系數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的SRM密封結(jié)構(gòu)密封性能評估方法，其特征在于：SRM橡膠O形圈的密封通過工作介質(zhì)壓力在密封面上產(chǎn)生的接觸應(yīng)力和預(yù)緊力在密封面上產(chǎn)生的預(yù)壓縮應(yīng)力相疊加實現(xiàn)，接觸應(yīng)力可表示成:

式中，k是介質(zhì)壓力對接觸應(yīng)力的傳遞系數(shù)，取決于泊松比γ；σ₀表示為：

式中：μ為密封圈與法蘭之間的摩擦系數(shù)；γ為泊松比；K_ε為O形圈的接觸寬度b與O形圈截面直徑d之比。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的SRM密封結(jié)構(gòu)密封性能評估方法，其特征在于：長期貯存條件下SRM橡膠圈泄漏率模型為：