[發(fā)明專利]烹飪器具及其沸騰檢測(cè)方法、裝置和系統(tǒng)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811611339.X
• 申請(qǐng)日: 2018-12-27
• 公開（公告）號(hào): CN109613025A
• 公開（公告）日: 2019-04-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳添洪;唐相偉;陳茂順;陳禮康
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣東美的廚房電器制造有限公司;美的集團(tuán)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01N22/00
• 分類號(hào): G01N22/00;A47J36/00;A47J36/32
• 代理公司: 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201
• 代理人: 張潤(rùn)

1.一種烹飪器具的沸騰檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

向烹飪器具的腔體內(nèi)發(fā)射第一微波信號(hào)；

獲取返回的第二微波信號(hào)；

根據(jù)所述第一微波信號(hào)的第一功率和所述第二微波信號(hào)的第二功率，判斷所述腔體內(nèi)的負(fù)載的是否沸騰。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的沸騰檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一微波信號(hào)的第一功率和所述第二微波信號(hào)的第二功率，判斷所述腔體內(nèi)的負(fù)載是否沸騰，包括：

根據(jù)所述第一功率和所述第二功率，計(jì)算回波損耗；

根據(jù)所述回波損耗，判斷所述負(fù)載是否沸騰。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的沸騰檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一功率和所述第二功率，計(jì)算回波損耗，包括：

采用預(yù)設(shè)公式，計(jì)算所述回波損耗，所述預(yù)設(shè)公式為：

RL＝10*log(Pi/Pr)；

其中，所述RL為所述回波損耗；

所述Pi為所述第一功率；

所述Pr為所述第二功率。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的沸騰檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述回波損耗，判斷所述負(fù)載是否沸騰，包括：

確認(rèn)所述第一微波信號(hào)呈周期性變化，在每個(gè)周期結(jié)束后延遲第一預(yù)設(shè)時(shí)間，獲取預(yù)設(shè)個(gè)所述回波損耗，其中，所述第一預(yù)設(shè)時(shí)間根據(jù)所述第一微波信號(hào)的變化周期設(shè)定；獲取所述預(yù)設(shè)個(gè)回波損耗中的最大值、最小值和平均值；

根據(jù)所述最大值、所述最小值和所述平均值判斷所述負(fù)載是否沸騰。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的沸騰檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述回波損耗，判斷所述負(fù)載是否沸騰，包括：

所述第一微波信號(hào)恒定，每隔第二預(yù)設(shè)時(shí)間，獲取預(yù)設(shè)個(gè)所述回波損耗；

獲取所述預(yù)設(shè)個(gè)回波損耗中的最大值、最小值和平均值；

根據(jù)所述最大值、所述最小值和所述平均值判斷所述負(fù)載是否沸騰。

6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的沸騰檢測(cè)方法，其特征在于，所述根據(jù)所述最大值、所述最小值和所述平均值判斷所述負(fù)載是否沸騰，包括：

確認(rèn)連續(xù)預(yù)設(shè)次的所述最大值與所述最小值的差值大于0.1倍的所述平均值，判斷所述負(fù)載沸騰。

7.一種烹飪器具的沸騰檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：

發(fā)射單元，所述發(fā)射單元用以向烹飪器具的腔體內(nèi)發(fā)射第一微波信號(hào)；

獲取單元，所述獲取單元用以獲取返回的第二微波信號(hào)；

判斷單元，所述判斷單元用以根據(jù)所述第一微波信號(hào)的第一功率和所述第二微波信號(hào)的第二功率，判斷所述腔體內(nèi)的負(fù)載的是否沸騰。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的沸騰檢測(cè)裝置，其特征在于，所述判斷單元進(jìn)一步用以：根據(jù)所述第一功率和所述第二功率，計(jì)算回波損耗，并根據(jù)所述回波損耗，判斷所述負(fù)載是否沸騰。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的沸騰檢測(cè)裝置，其特征在于，所述判斷單元根據(jù)所述第一功率和所述第二功率，計(jì)算回波損耗，包括：采用預(yù)設(shè)公式，計(jì)算所述回波損耗，所述預(yù)設(shè)公式為：

RL＝10*log(Pi/Pr)；

其中，所述RL為所述回波損耗；

所述Pi為所述第一功率；

所述Pr為所述第二功率。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的沸騰檢測(cè)裝置，其特征在于，所述判斷單元具體用于：所述第一微波信號(hào)呈周期性變化，在每個(gè)周期結(jié)束后延遲第一預(yù)設(shè)時(shí)間，獲取預(yù)設(shè)個(gè)所述回波損耗；獲取所述預(yù)設(shè)個(gè)回波損耗中的最大值、最小值和平均值；

根據(jù)所述最大值、所述最小值和所述平均值判斷所述負(fù)載是否沸騰。

11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的沸騰檢測(cè)裝置，其特征在于，所述判斷單元具體用于：所述第一微波信號(hào)恒定，每隔第二預(yù)設(shè)時(shí)間，獲取預(yù)設(shè)個(gè)所述回波損耗；

獲取所述預(yù)設(shè)個(gè)回波損耗中的最大值、最小值和平均值；

根據(jù)所述最大值、所述最小值和所述平均值判斷所述負(fù)載是否沸騰。