[發明專利]一種提高測試效率的ATE測試方法有效
| 申請號: | 201811607629.7 | 申請日: | 2018-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN109884498B | 公開(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發明(設計)人: | 薛來熙;吳勇佳;余琨;季海英;蔡漪文;王靜 | 申請(專利權)人: | 上海華嶺集成電路技術股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 上海海貝律師事務所 31301 | 代理人: | 范海燕 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區中國(*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 提高 測試 效率 ate 方法 | ||
本發明公開了一種提高測試效率的ATE測試模式,本技術方案由2部分構成:數據處理用的電腦及數據傳輸使用的網絡路由器;將ATE測試電腦及數據處理電腦,通過網線接到數據傳輸路由器上,構成局域網,并將數據處理電腦的某個硬盤,通過局域網共享給ATE測試電腦使用,該硬盤為備份硬盤;本發明提供的提高測試效率的ATE測試模式,該模式是將采集數據、數據分析和處理及返回測試Bin進行分開,ATE將所需數據采集完,就可空出ATE,用于其他的集成電路測試,這樣可以提高ATE的測試效益;數據采集完,存檔在另一臺電腦中,也可避免因大數據處理中,ATE電腦死機時,造成數據丟失。
技術領域
本發明應用于集成電路測試中,尤其涉及一種提高測試效率的ATE測試方法。
背景技術
集成電路測試ATE測試,采集、分析、處理數據及返回結果后,進行下一個測試項測試。此類型技術進行小數據量處理時,可以快速直觀的觀察到測試Bin,出現異常時,數據雖然丟失,但是整個測試時間很短,進行重新測試即可。但是面對大數據量處理時,數據處理占用了大量的測試時間,出現異常時,進行重新測試就會增加大量的時間成本,測試工程師進行在線算法優化,也會占用ATE,還可能會出現采集的數據丟失,測試工程師就無法進行數據分析和算法優化。
發明內容
本發明為解決上述技術問題而采用的技術方案是提供一種提高測試效率的ATE測試方法,此項技術方案是針對需要大量數據處理的集成電路測試,解決了現有技術一中測試的數據處理額外占用ATE等測試設備及因數據處理異常引起的額外時間成本,提高了該類型測試的ATE效益,也為該類型測試的數據提供了備份保護,將測試工程師對數據處理的算法優化時間,獨立于ATE,其中,具體技術方案是:
本技術方案由2部分構成:數據處理用的電腦及數據傳輸使用的網絡路由器。
數據處理用的電腦,針對不同需求,可以是普通的個人電腦,也可以是專用的高性能數據處理服務器,本技術方案,旨在說明一種ATE測試的模式,以下泛稱數據處理電腦。
數據傳輸使用的網絡路由器,同理,泛稱數據傳輸路由器。
將ATE測試電腦及數據處理電腦,通過網線接到數據傳輸路由器上,構成局域網,并將數據處理電腦的某個硬盤,通過局域網共享給ATE測試電腦使用,該硬盤以下簡稱備份硬盤。
集成電路測試中,用ATE匹配的開發測試程序的軟件,將測試抓取的數據,以一定的命名規則,通過共享,放到數據處理電腦的備份硬盤上,數據存儲完成后,返回一個虛擬的測試Bin給ATE,ATE收到Bin后進行下一個測試任務,并將該測試電路,以相同的命名規則存放,依次完成該批次集成電路所有測試任務。完成測試任務后,該批次測試電路均以虛擬測試Bin存放,同時數據處理電腦上也已按對應關系(相同命名規則)存儲了所有測試數據,而ATE就可以進行其他集成電路的測試安排。
對于上述的用ATE匹配的開發測試程序的軟件,測試的時候,需要1個軟件來控制ATE,ATE廠商不同,控制ATE的軟件也不同,這個軟件是ATE廠商開發的,用于控制他們家的ATE。比如泰瑞達的J750系列ATE,需要通過IGXL的軟件,才能對ATE進行編程,才能實現控制ATE進行測試(比如電源上電)。而愛德萬的V93K系列,則使用的是smarttest的軟件。因為不同廠商的ATE用的軟件不一樣,概括為用ATE廠商自帶的匹配的軟件來開發測試程序,這里的測試程序就是指用ATE的軟件寫出來的,用于某個集成電路測試,不同電路,測試程序也是不一樣的,測試程序類似于window下的.exe這樣的軟件,某個電路專有。
對于上述的將測試抓取的數據后以一定的命名規則以一定的命名規則,通過共享,放到數據處理電腦的備份硬盤上;在實施例中有描述命名規則舉例,因為每個工程師喜好不一樣,這個規則不是固定的。因為大數據,一般不是人來處理數據的,都是電腦上開個腳本,或者寫個數據處理軟件。這個時候,用一定的命名規則,就方便電腦處理數據。
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