[發明專利]一種用于GM制冷機制冷功率測量的裝置

在審

• 申請號: 201811601459.1
• 申請日: 2018-12-26
• 公開（公告）號: CN109632150A
• 公開（公告）日: 2019-04-16
• 發明（設計）人: 胡銳;丁開忠;畢延芳;李蕾;鄒春龍;張華輝;杜雙松;馮漢升;陳永華;陳根;李君君;宋云濤
• 申請（專利權）人: 合肥中科離子醫學技術裝備有限公司
• 主分類號: G01K17/00
• 分類號: G01K17/00
• 代理公司: 北京和信華成知識產權代理事務所(普通合伙) 11390
• 代理人: 胡劍輝

本發明公開了一種用于GM制冷機制冷功率測量的裝置，包括測量平臺和待測制冷機組件，所述待測制冷機組件縱向嵌設到所述測量平臺內部，且所述待測制冷機組件通過螺栓和密封圈一連接固定安裝在GM制冷機制冷量測量平臺中。本發明的有益效果是：本發明使用一臺制冷機分別對GM制冷機制冷量測量平臺的第一輻射屏和第二輻射屏進行冷卻，盡可能降低了外部傳導漏熱機輻射漏熱對待測GM制冷機制冷量測量的影響；本發明在待測GM制冷機一級冷頭和二級冷頭上分別安裝了加熱器，可以實現GM制冷機在不同溫度工況下制冷量的測量；本發明構造簡單，成本低廉，使用方便，便于購買方對GM制冷機冷頭進行裝配前測試，降低了后續生產的潛在風險。

技術領域

本發明涉及低溫系統檢測領域，具體涉及一種用于GM制冷機制冷功率測量的裝置。

背景技術

在超低溫液氦零揮發系統中，GM制冷機的冷頭與液氦共同組成超低溫系統的冷源，GM制冷機一級冷頭用于冷卻防輻射屏，二級冷頭用于將揮發的氦氣冷凝成液氦，使液氦系統形成閉式循環，正常工作時液氦實現零揮發。制冷量是GM制冷機冷頭的主要技術指標，要實現零揮發，首先要保證一級冷頭和二級冷頭的制冷量。但由于故障或者維護不當會造成制冷效率降低，所以裝機前進行制冷量的測量尤為重要。

現有GM制冷機的冷頭一般由生產廠家進行出廠前測試，一整套測試設備繁多且價格昂貴，購買方收貨后往往沒有很好的方法在裝配前來檢測GM制冷機的制冷量。

為了解決上述問題，本發明提供了一種用于GM制冷機制冷功率測量的裝置，可以實現對GM制冷機在多種工作溫況下的制冷量測量，且該測量裝置結構簡單、操作方便、成本低廉。

發明內容

本發明的目的就在于為了解決現有的GM制冷機測試設備價格昂貴，且購買方收貨后沒有很好的方法檢測GM制冷機制冷量的問題，而提出一種用于GM制冷機制冷功率測量的裝置，可以實現對GM制冷機在多種工作溫況下的制冷量測量，且該測量裝置結構簡單、操作方便、成本低廉。

本發明的目的可以通過以下技術方案實現：一種用于GM制冷機制冷功率測量的裝置，包括測量平臺和待測制冷機組件，所述待測制冷機組件縱向嵌設到所述測量平臺內部，且所述待測制冷機組件通過螺栓和密封圈一連接固定安裝在GM制冷機制冷量測量平臺中；

所述測量平臺包括測量真空容器、GM制冷機、第一輻射屏上蓋板、第一輻射屏、第二輻射屏、絕熱拉桿一和絕熱拉桿二，所述第一輻射屏上蓋板下方設置第一輻射屏，所述第一輻射屏內部設置有第二輻射屏，且所述第一輻射屏上蓋板安裝有絕熱拉桿一，所述第一輻射屏上蓋板與第二輻射屏之間設置有絕熱拉桿二；

其中，所述測量真空容器包括真空容器上蓋板、抽空口，加熱器線引出口和溫度信號線引出口，所述真空容器上蓋板設置在所述測量真空容器上端頂部，且所述測量真空容器底部一端貫穿設置有抽空口，所述真空容器上蓋板上方設置有加熱器線引出口，和溫度信號線引出口；

所述待測制冷機組件包括待測GM制冷機、線束引出口、連接螺栓、密封圈二和過渡法蘭，所述待測制冷機組件頂部設置有待測GM制冷機，且所述待測制冷機組件上方水平套設有過渡法蘭，且所述過渡法蘭兩端均安裝有連接螺栓，所述待測制冷機兩端上方均嵌設有密封圈二；

所述待測GM制冷機包括待測制冷機一級冷頭、一級加熱器、一級固定板、一級溫度傳感器、待測制冷機二級冷頭、二級加熱器、二級固定板、二級溫度傳感器，所述待測GM制冷機一級冷頭中部設置有一級加熱器，且所述一級加熱器上方設置有一級固定板，所述待測制冷機一級冷頭上設置有一級溫度傳感器，且所述待測制冷機二級冷頭底部設置有二級固定板，所述待機制冷機二級冷頭中部設置有二級加熱器，且所述制冷機二級冷頭上設置有二級溫度傳感器。