[發明專利]一種信號測試治具和信號測試方法

在審

• 申請號: 201811599108.1
• 申請日: 2018-12-26
• 公開（公告）號: CN109542710A
• 公開（公告）日: 2019-03-29
• 發明（設計）人: 吳忠良
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 林桐苒;解婷婷

本發明公開了一種信號測試治具和信號測試方法。涉及硬件測試技術，解決了缺乏不同類型接口測試治具的問題。該信號測試治具包括PCB電路板及所述PCB電路板上設置的標準插槽；所述信號測試治具上還設置有至少一個不同類型的連接器，每個連接器通過所述PCB電路板連接至所述標準插槽，所述連接器在相應類型的待測試接口和所述標準插槽之間建立連接。本發明的技術方案適用于服務器測試，實現了不同類型待測試接口通用的測試方案。

技術領域

本發明涉及硬件測試技術，尤指一種信號測試治具和信號測試方法。

背景技術

開放計算項目(OCP)接口是用于在服務器上連接外設部件互連標準(PCIe)網卡的接口。這種接口pin腳密度高，因此可以把PCIe接口做到更小，在服務器主板有限的空間上，具有節省空間的優勢。

但是正是由于OCP接口Pin腳密度高的特點，要測試OCP接口的PCIe信號的難度就會增加。現有技術中，并沒有直接來測試這種OCP接口的測試治具，因此每個應用該接口的服務器廠商都會面臨測試該接口PCIe信號的困難。

發明內容

為了解決上述技術問題，本發明提供了一種信號測試治具和信號測試方法。通過不同連接器將不同類型的待測試接口連接至標準插槽，以輸出標準測試信號，實現了對不同類型的接口的測試，解決了缺乏不同類型接口測試治具的問題。

為了達到本發明目的，本發明提供了一種信號測試治具，包括PCB電路板及所述PCB電路板上設置的標準插槽；

所述信號測試治具上還設置有至少一個不同類型的連接器，每個連接器通過所述PCB電路板連接至所述標準插槽，所述連接器在相應類型的待測試接口和所述標準插槽之間建立連接。

優選的，每個連接器連接至所述標準插槽的部分接口。

優選的，所述標準插槽為PCIe插槽。

優選的，所述標準插槽為PCIe x16插槽。

優選的，所述連接器至少包含如下類型：

OCP A型接口，OCP B型接口。

優選的，所述信號測試治具上設置有兩個連接器，一個為OCP A型接口連接器，一個為OCP B型接口連接器；

所述OCP A型接口連接器連接至所述PCIe x16插槽的8個接口，所述OCP B型接口連接器連接至所述PCIe x16插槽的另外8個接口。

本發明的另一方面還提供了一種使用上述信號測試治具的信號測試方法，包括：

不同類型的待測試信號接入所述連接器；

所述連接器將所述待測試信號傳入所述標準插槽，通過所述標準插槽輸出標準測試信號；

對所述標準測試信號進行測試。

優選的，所述待測試信號至少包含如下信息：

電源、時鐘、集成電路總線I2C。

本發明提供了一種信號測試治具和信號測試方法，使用包括PCB電路板及所述PCB電路板上設置的標準插槽的信號測試治具，所述信號測試治具上還設置有至少一個不同類型的連接器，每個連接器通過所述PCB電路板連接至所述標準插槽，所述連接器在相應類型的待測試接口和所述標準插槽之間建立連接。不同類型的待測試信號接入所述連接器，再由所述連接器將所述待測試信號傳入所述標準插槽，通過所述標準插槽輸出標準測試信號，之后對所述標準測試信號進行測試。實現了不同類型待測試接口通用的測試方案，解決了缺乏不同類型接口測試治具的問題。