[發明專利]饋電電路結構和測試夾具

在審

• 申請號: 201811598410.5
• 申請日: 2018-12-26
• 公開（公告）號: CN109596866A
• 公開（公告）日: 2019-04-09
• 發明（設計）人: 李靜強;曹健;胡志富;劉亞男;馮彬;彭志農;何美林;王亞冰;何銳聰
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十三研究所
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/02
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 趙寶琴

本發明適用于微波功率器件測試領域，提供了一種饋電電路結構和測試夾具。所述電路結構包括：饋電端、微波端和金屬傳輸線；饋電端與外部直流饋電電路連接，微波端與外部測試夾具連接；所述饋電端和所述微波端設置在所述金屬傳輸線的兩端，所述金屬傳輸線呈圓弧形；其中，所述金屬傳輸線的長度為以所述饋電端與所述微波端之間的距離為直徑的圓的半個周長。本發明的饋電電路結構和測試夾具制作簡單，帶寬寬，通用性強，測試頻率范圍大，節約制作成本和開發周期。

技術領域

本發明屬于微波功率器件測試領域，尤其涉及一種饋電電路結構和測試夾具。

背景技術

測試夾具是微波功率管器件測試系統中不可缺少的關鍵部件，一般要實現固定被測微波器件、預匹配、饋電以及信號同軸傳輸轉微帶傳輸等功能，其性能好壞直接影響到測試結果的準確性。在封裝微波功率器件的實際生產過程中，測試的產品往往種類很多，封裝外殼形式、測試條件各有不同，這就要求夾具和供電電路有一定的通用性，否則針對不同的產品需要開發不同的夾具和供電電路，影響產品開發周期，造成資源的嚴重浪費。其中，饋電電路結構的設計是影響測試夾具頻率通用的主要因素之一。

傳統的饋電電路結構帶寬較窄，當測試不同頻段的封裝微波功率器件，需要根據被測微波器件的測試頻段重新設計饋電電路結構，進而需要重新設計新的測試夾具和供電電路，影響產品開發周期，造成資源的嚴重浪費。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供了一種饋電電路結構和測試夾具，以解決現有技術中饋電電路結構的通用性低，影響產品開發周期，并造成資源的嚴重浪費的問題。

本發明實施例的第一方面提供了一種饋電電路結構，包括：饋電端、微波端和金屬傳輸線；

所述饋電端與外部直流饋電電路連接，所述微波端與外部測試夾具連接；

所述饋電端和所述微波端設置在所述金屬傳輸線的兩端，所述金屬傳輸線呈圓弧形；

其中，所述金屬傳輸線的長度為以所述饋電端與所述微波端之間的距離為直徑的圓的半個周長。

可選的，所述金屬傳輸線的橫截面積通過

得到；其中，M為所述金屬傳輸線的橫截面積，N為被測微波器件的最大電流，Q為所述金屬傳輸線的單位面積最大可承受電流。

可選的，所述金屬傳輸線為銅線。

可選的，所述饋電端與所述外部直流饋電電路焊接。

可選的，所述微波端與所述外部測試夾具的微帶線焊接。

可選的，所述金屬傳輸線的第一端為所述饋電端，所述金屬傳輸線的第二端為所述微波端。

本發明實施例的第二方面提供了一種測試夾具，包括輸入端夾具和輸出端夾具，還包括兩個分別與所述輸入端夾具和所述輸出端夾具連接的如上述實施例的第一方面提供的所述饋電電路結構；

其中一個所述饋電電路結構的微波端與所述輸出端夾具的微帶線連接；

另一個所述饋電電路結構的微波端與所述輸入端夾具的微帶線連接。

可選的，所述測試夾具還包括：至少一個為所述輸出端夾具和所述輸入端夾具供電的直流饋電電路；

所述直流饋電電路與所述饋電電路結構的饋電端連接。

可選的，所述測試夾具還包括：兩個分別設置在所述輸入端夾具和所述輸出端夾具一側的隔離電容；

每個所述隔離電容的兩側均設置金屬引線；所述隔離電容通過所述金屬引線與所述輸入端夾具或所述輸出端夾具連接。