[發明專利]電容測試裝置

在審

• 申請號: 201811597901.8
• 申請日: 2018-12-26
• 公開（公告）號: CN111366797A
• 公開（公告）日: 2020-07-03
• 發明（設計）人: 伍翔榆;邱奕豪;翁晨軒;王耀南
• 申請（專利權）人: 致茂電子（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

本發明提供一種電容測試裝置，包含入料模塊、預檢查模塊以及充電測試模塊。入料模塊用以將多個待測電容分別放置于多個待測位置。預檢查模塊用以測試所述多個待測位置中的多個待測電容，并判斷每一個待測電容是否符合預檢查標準。充電測試模塊用以對符合預檢查標準的待測電容進行充電測試程序。其中，當預檢查模塊判斷所述多個待測電容其中之一不符合預檢查標準時，預檢查模塊將不符合預檢查標準的待測電容從對應的待測位置移除。

技術領域

本發明是有關于一種電容測試裝置，特別是關于一種在充電測試之前先進行預檢查的電容測試裝置。

背景技術

隨著科技的進步，電子產品種類越來越多且越來越普及。由于每個電子產品中會需要使用數量不一的電容，不可避免地，使得市場對電容的需求量越來越大。目前市場中已經推出了大容量的電容，例如超級電容器(electrostatic double-layer capacitors，EDLC或稱雙層電容器)，有各種不同的放電時間與電流大小可供選擇。

在超級電容器出廠時，可能會經過反復地測試，來檢視超級電容器的可靠度。舉超級電容器進行老化測試為例，當多個超級電容器批次地測試時，需要使用排架先夾住多個超級電容器的連接腳，再經由高溫烤箱烘烤一定時間以模擬超級電容器老化時的狀態。此時，排架可能會同時提供電流給被夾住的所有超級電容器，以加速后續檢測(例如漏電電流檢測)的流程。然而，如果部分的超級電容器的連接腳沒有確實被排架夾住，或者部分的超級電容器在運送時連接腳被撞歪、毀損，將使得后續測試不準確，更甚至可能導致測試機臺的損壞。

因此，業界需要一種新的電容測試裝置，可以在充電測試前，先偵測電容的連接腳是否被確實夾住，并且可以偵測電容的連接腳是否已經損壞。

發明內容

有鑒于此，本發明提出一種電容測試裝置，可以在充電測試前，先進行預檢查，并對符合預檢查標準的電容進行充電。藉此，本發明在發現電容不符合預檢查標準后，可以及時停止所述電容的后續測試，以避免測試機臺產生非預期的故障或損壞。

本發明提供一種電容測試裝置，包含入料模塊、預檢查模塊以及充電測試模塊。入料模塊用以將多個待測電容分別放置于多個待測位置。預檢查模塊用以測試所述多個待測位置中的多個待測電容，并判斷每一個待測電容是否符合預檢查標準。充電測試模塊用以對符合預檢查標準的待測電容進行充電測試程序。其中，當預檢查模塊判斷所述多個待測電容其中之一不符合預檢查標準時，預檢查模塊將不符合預檢查標準的待測電容從對應的待測位置移除。

于一些實施例中，預檢查模塊可以包含第一電壓源、第一電流設定單元以及多個電壓檢測單元。第一電壓源電性連接至每一個待測位置的第一端與第二端，用以提供第一測試電壓給每一個待測位置的第一端與第二端。第一電流設定單元用以設定流經每一個待測位置的第一測試電流。每一個電壓檢測單元電性連接所述多個待測位置其中之一，用以檢測所述多個待測位置中的待測電容，是否符合預檢查標準。在此，所述多個待測位置其中之一可以定義為第一待測位置，第一電壓源與第一電流設定單元分別用以提供第一測試電壓與第一測試電流到第一待測位置，且持續一段預設時間。另外，電壓檢測單元可以判斷第一待測位置的第一端與第二端的跨壓是否在預設電壓范圍內，當第一待測位置的第一端與第二端的跨壓在預設電壓范圍內，則第一待測位置中的待測電容符合預檢查標準。

于一些實施例中，入料模塊用以將所述多個待測電容放置于載盤上的所述多個待測位置，且所述多個待測位置以排列成第一數組。預檢查模塊可以同時判斷第一數組其中一列對應的所述多個待測位置是否符合預檢查標準。預檢查模塊可以標記第一數組中不符合預檢查標準的待測位置。

綜上所述，本發明提供的電容測試裝置具有預檢查模塊，預檢查模塊可以在充電測試前，檢查待測電容是否符合一定的標準。當預檢查模塊認為待測電容不符合標準時，將不會繼續對待測電容進行充電。藉此，本發明的電容測試裝置可以減少電容測試裝置在測試電容時損壞的機會。

有關本發明的其它功效及實施例的詳細內容，配合附圖說明如下。