[發明專利]一種存儲設備壞塊的處理方法、裝置及存儲設備有效
| 申請號: | 201811596218.2 | 申請日: | 2015-01-27 |
| 公開(公告)號: | CN109783017B | 公開(公告)日: | 2021-05-18 |
| 發明(設計)人: | 辜多艮 | 申請(專利權)人: | 華為技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/06 | 分類號: | G06F3/06 |
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| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 存儲 設備 處理 方法 裝置 | ||
本發明公開了一種存儲設備壞塊的處理方法、裝置及存儲設備,涉及通信終端領域,用于解決存儲設備的使用過程中,IOPS穩定性差的問題。本發明提供的具體實施例應用于存儲設備,且存儲設備配置有:用戶數據區、超供區、預留區,其中用戶數據區和超供區用于實際存儲用戶數據,預留區包括預留塊;當用戶數據區出現壞塊時,檢測壞塊類型,并為壞塊在預留區中申請替換預留塊,進而按照壞塊類型,將申請到的替換預留塊替換掉這一壞塊。本發明提供的技術方案適用于存儲設備對壞塊的處理流程中。
技術領域
本發明涉及通信終端領域,尤其涉及一種存儲設備壞塊的處理方法、裝置及存儲設備。
背景技術
隨著網絡通信技術的發展,對存儲設備存儲性能的要求也越來也高。比如存儲設備SSD(英文全稱為:SolidStateDevice/SolidStateDrive,中文全稱為:固態硬盤)的存儲性能通過其生命周期內的IOPS(英文全稱為:Input/output Operations PerSecond,中文全稱為:每秒進行讀寫操作的次數)穩定性體現,IOPS越穩定則SSD的存儲性能越好,即用戶使用SSD的體驗也越好。現有技術通過超供技術來提高SSD生命周期內的IOPS穩定性。
超供技術包括:將SSD中的一部分空間,用于存儲用戶數據,即用戶數據區;另一部分空間作為超供空間,該超供空間是用戶不可見的存儲空間,用于為用戶數據提供緩存空間,SSD中超供空間的存在能夠改善SSD性能、IO(英文全稱為:Input output,中文全稱為:輸入輸出)一致性,并且能夠提高SSD壽命。存儲設備的超供空間的大小與放大系數成反比,而放大系數反映的是存儲設備穩態特性,放大系數越大說明IOPS穩定性越差,所以超供空間的大小直接決定了SSD的存儲性能。
但是通過上述超供技術的使用,只能在SSD使用初期獲得較高的IOPS穩定性,而在SSD整個生命周期內隨著時間的推移,該SSD的用戶數據區內的壞塊會不斷增加,通過超供技術在保持隨存儲用戶數據的空間不變的同時,用超供空間中的塊來替換用戶數據區的壞塊,并將用戶數據區的壞塊隔離,這就必將導致SSD的超供空間減少,與之對應的放大系數增大,從而IOPS穩定性降低。所以使用超供技術,隨著時間的推移同樣存在IOPS穩定性惡化的問題。
發明內容
本發明的實施例提供一種存儲設備壞塊的處理方法、裝置及存儲設備,用于解決存儲設備的使用過程中,IOPS穩定性差的問題。
第一方面,本發明的實施例提供一種存儲設備壞塊的處理方法,所述方法應用于存儲設備,所述存儲設備配置有:用戶數據區、超供區、預留區,所述用戶數據區用于存儲用戶數據,所述超供區用于為所述用戶數據提供緩存,所述預留區包括預留塊;
所述方法包括:
當所述用戶數據區出現壞塊時,
檢測所述壞塊的壞塊類型,所述壞塊類型包括:讀寫壞塊和擦失敗壞塊;在所述預留區中為所述壞塊申請替換預留塊,所述替換預留塊與所述壞塊大小相同;
按照所述壞塊的壞塊類型,用所述替換預留塊替換所述壞塊。
結合第一方面,在第一方面的第一種可能實現方式中,當所述壞塊的壞塊類型為所述讀寫壞塊時,所述用所述替換預留塊替換所述壞塊包括:
將所述壞塊中的數據寫入所述替換預留塊,并將所述替換預留塊的標記修改為所述壞塊的標記;
將所述壞塊的標記修改為隔離標記。
結合第一方面、第一方面的第一種可能實現方式,在第一方面的第二種可能實現方式中,所述壞塊為存儲有效數據的健康塊,所述壞塊的標記為健康標記,所述健康標記用于表示所述壞塊的健康等級,所述健康塊為所述存儲設備中塊類型的一種。
結合第一方面,在第一方面的第三種可能實現方式中,當所述壞塊的壞塊類型為所述擦失敗壞塊時,所述用所述替換預留塊替換所述壞塊包括:
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