[發(fā)明專利]一種光電模塊反向測試方法及故障診斷判別方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811594815.1
• 申請日: 2018-12-25
• 公開（公告）號: CN109752684A
• 公開（公告）日: 2019-05-14
• 發(fā)明（設計）人: 張志鑫;靳俊杰;王利清;司磊
• 申請（專利權）人: 北京航天時代光電科技有限公司
• 主分類號: G01R35/02
• 分類號: G01R35/02
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 范曉毅

1.一種光電模塊反向測試方法，所述光電模塊包括光源(1)、耦合器A(2)、Y波導(3)、耦合器B(4)、光纖延遲環(huán)(5)、光電探測器(6)；其特征在于：包括如下步驟：

步驟一、測試耦合器A(2)與光電探測器(6)之間的光纖熔點的損耗，當該損耗值大于相應預設值時，對該熔點進行分離測試和故障排查，轉入步驟九；否則轉入步驟二；

步驟二、測試光纖延遲環(huán)(5)與外部光纖之間的光纖熔點的損耗，當該損耗值大于相應預設值時，對該熔點進行分離測試和故障排查，轉入步驟九；否則轉入步驟三；

步驟三、測試耦合器B(4)與光纖延遲環(huán)(5)之間的光纖熔點的損耗，測試光纖延遲環(huán)(5)的附加損耗；當耦合器B(4)與光纖延遲環(huán)(5)之間的光纖熔點的損耗值小于等于相應預設值，且，光纖延遲環(huán)(5)的附加損耗小于等于相應預設值時，轉入步驟四；否則當耦合器B(4)與光纖延遲環(huán)(5)之間的光纖熔點的損耗值大于相應預設值，對該熔點進行分離測試和故障排查，然后轉入步驟九，當光纖延遲環(huán)(5)的附加損耗大于相應預設值時，對光纖延遲環(huán)(5)進行分離測試和故障排查，然后轉入步驟九；

步驟四、測試耦合器B(4)的兩個輸出端的輸出光功率比，當該輸出光功率比大于相應預設值時，對耦合器B(4)進行分離測試和故障排查，然后轉入步驟九；否則轉入步驟五；

步驟五、測試耦合器B(4)的兩個輸入端分別與Y波導(3)之間的光纖熔點的損耗，當該損耗值均分別小于等于相應預設值時，轉入步驟六；否則對步驟五中任一損耗值大于相應預設值的光纖熔點進行分離測試和故障排查，然后轉入步驟九；

步驟六、測試Y波導(3)的分光比，當該分光比大于相應預設值時，對Y波導(3)進行分離測試和故障排查，然后轉入步驟九；否則測試耦合器B(4)的附加損耗，當該附加損耗大于相應預設值時，對耦合器B(4)進行分離測試和故障排查，如果該附加損耗小于等于相應預設值，則測試Y波導(3)的附加損耗，當該附加損耗大于相應預設值時，對Y波導(3)進行分離測試和故障排查，然后轉入步驟九，如果該附加損耗小于等于相應預設值時，轉入步驟七；

步驟七、測試耦合器A(2)與Y波導(3)之間的光纖熔點的損耗，當該損耗值大于相應預設值時，對該熔點進行分離測試和故障排查，然后轉入步驟九；否則測試耦合器A(2)的兩個輸出端的輸出光功率比，當該輸出光功率比大于相應預設值時，對耦合器A(2)進行分離測試和故障排查，然后轉入步驟九；否則轉入步驟八；

步驟八、測試耦合器A(2)與光源(1)之間的光纖熔點的損耗，當該損耗值大于相應預設值時，對該熔點進行分離測試和故障排查，然后轉入步驟九；否則測試光源(1)輸出的光功率值，當該光功率值小于相應預設值，對光源(1)進行分離測試和故障排查，然后轉入步驟九，如果該光功率值大于等于相應預設值，轉入步驟九；

步驟九、光電模塊反向測試結束。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種光電模塊反向測試方法，其特征在于：所述步驟一中的耦合器A(2)與光電探測器(6)之間的光纖熔點的損耗預設值最大為1dB；所述步驟二中光纖延遲環(huán)(5)與外部光纖之間的光纖熔點的損耗預設值最大為1dB；所述步驟三中耦合器B(4)與光纖延遲環(huán)(5)之間的光纖熔點的損耗預設值最大為1dB；所述步驟三中光纖延遲環(huán)(5)的附加損耗預設值最大為2dB；所述步驟四中耦合器B(4)的兩個輸出端的輸出光功率比預設值最大為1.5；所述步驟五中耦合器B(4)的兩個輸入端分別與Y波導(3)之間的光纖熔點的損耗預設值最大均為1dB；所述步驟六中Y波導(3)的分光比預設值最大為1.2；所述步驟六中耦合器B(4)的附加損耗預設值最大為2dB；所述步驟六中Y波導(3)的附加損耗預設值最大為5dB；所述步驟七中耦合器A(2)與Y波導(3)之間的光纖熔點的損耗預設值最大為1dB；所述步驟七中耦合器A(2)的兩個輸出端的輸出光功率比預設值最大為1.5；所述步驟八中耦合器A(2)與光源(1)之間的光纖熔點的損耗預設值最大為1dB；所述步驟九中光源(1)輸出的光功率值預設值最小為800uW。