[發(fā)明專利]高密度檢測對象的檢測區(qū)域的選擇方法及其X射線管裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811593663.3 | 申請日： | 2018-12-25 |
| 公開（公告）號： | CN111157550A | 公開（公告）日： | 2020-05-15 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 金亨哲;金起范;金東郁 | 申請（專利權(quán)）人： | 嘉必思股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人： | 崔龍鉉;王璇 |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 高密度 檢測 對象 區(qū)域 選擇 方法 及其 射線 裝置 | ||
1.一種高密度檢測對象的檢測區(qū)域的選擇方法，包括以下步驟：
確定包括X射線管和檢測器的檢測模塊和檢測站點(diǎn)的位置；
從位于檢測站點(diǎn)的檢測對象中確定檢測區(qū)域；
旋轉(zhuǎn)檢測區(qū)域或檢測器，以獲取二維傾斜圖像；以及
從獲取的二維傾斜圖像中選擇檢測部分。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高密度檢測對象的檢測區(qū)域的選擇方法，其特征在于，在以預(yù)先確定的角度旋轉(zhuǎn)X射線管或檢測器的狀態(tài)下獲取二維傾斜圖像。
3.一種保護(hù)檢測對象的目標(biāo)限制結(jié)構(gòu)的X射線管裝置，其特征在于，用于檢測高密度集成電路，并且包括：
管體(51)，產(chǎn)生X射線并向目標(biāo)(T)放射；
限制引導(dǎo)單元(52)，將從管體(51)放射的X射線(XT、XP)引導(dǎo)至引導(dǎo)孔(521)；以及
屏蔽過濾器(53)，調(diào)節(jié)通過引導(dǎo)孔(521)引導(dǎo)的X射線的量，
其中，所述屏蔽過濾器(53)以引導(dǎo)孔(521)為基準(zhǔn)可移動(dòng)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的保護(hù)檢測對象的目標(biāo)限制結(jié)構(gòu)的X射線管裝置，其特征在于，限制引導(dǎo)單元(52)為準(zhǔn)直儀。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于嘉必思股份有限公司，未經(jīng)嘉必思股份有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811593663.3/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
