[發明專利]一種色度測量方法及裝置

有效

• 申請號: 201811593240.1
• 申請日: 2018-12-25
• 公開（公告）號: CN109506781B
• 公開（公告）日: 2020-10-13
• 發明（設計）人: 馮曉帆;鄭增強;李苗;陳朋
• 申請（專利權）人: 武漢精立電子技術有限公司
• 主分類號: G01J3/50
• 分類號: G01J3/50
• 代理公司: 武漢科皓知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42222
• 代理人: 胡琦旖

本發明屬于顯示技術領域，公開了一種色度測量方法及裝置，通過光譜儀搭配相機的裝置，通過光譜儀采集的XYZ數值實時矯正相機，使相機對于不同光譜的色度測量無需重新標定。本發明解決了現有技術中顯示面板色度測量的誤差偏大、標定工作量巨大的問題，本發明對每個相機只需要在實驗室標定一次，對不同型號的屏幕均可適用，且能從根本上提高測量精度，此外，裝置成本低、易于實現、性價比高，具有較強的通用性。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種色度測量方法及裝置。

背景技術

隨著顯示技術的發展，人們對顯示設備品質的要求越來越高，顯示設備的顯色品質及色保真度也日益顯得重要。所以高精度的亮度色度測量設備在顯示設備的制造及檢測過程中必不可少。目前市面上已經有比較成熟的設備，例如分光光度計和濾鏡式色度計，這類色度計有很好的測量精度，但是因其測量的范圍非常有限，不能滿足客戶一次性測量整個顯示設備的要求，所以成像色度計應運而生。目前，成像色度計的在各個行業都有廣泛的應用，但存在的最主要的問題是測量誤差較大，特別是對于光譜差異較大的面板來說，測量誤差得不到保證。

目前有很多論文對成像面陣色度計的測量精度進行論證，現有研究指出，待測屏幕的主波長哪怕偏移標準光源的主波長僅1nm，色品坐標的誤差也會超過0.003，最大誤差甚至達到0.02。并且明確指出，這么驗證的測量誤差對于LED色度矯正來說無疑是無法接受的。現有研究中另外一種方案采用CIE匹配濾鏡，即濾鏡式的面陣色度計。濾鏡式面陣色度計的關鍵在于制作高匹配度的濾鏡，但是這種濾鏡工藝難度比較大，費用昂貴。并且，為了最終色度品坐標誤差控制在0.005，XYZ濾光片全波段光譜相應匹配度要求最大誤差小于2％，目前國內的水平只能達到5％。所以大部分濾鏡式面陣色度計使用的式低匹配度的濾鏡，不能從根本上解決精度低的問題。

現有研究對光譜的變化對測量精度的影響進行了驗證，以一個基準光譜，對其進行偏移(±10nm)，得到100個不同的光譜，用這個100個不同的光譜代表100塊不同的屏幕。以基準光譜計算矯正系數，然后用模擬光譜驗證測量誤差。結果表明，光譜僅僅是發生±10nm微小的偏移，測量的誤差也讓人難以接受，亮度誤差達到20％，色品誤差達到0.2；LED燈珠波長、帶寬都有一定的離散性，即使是同一批次的LED產生的波長差異也只能控制在5-10nm左右。此外，波長受外環境溫度、濕度、使用時間、驅動電流大小影響，給測量帶來了一系列不確定因素。

綜上，所以現有方案存在如下問題：1、顯示面板色度測量的實際應用中的誤差偏大，不能達到用戶的要求。2、即使對于不同光譜的屏幕進行重新標定，標定工作量巨大，也失去了實時測量的意義。

發明內容

本申請實施例通過提供一種色度測量方法及裝置，解決了現有技術中顯示面板色度測量的誤差偏大、標定工作量巨大的問題。

本申請實施例提供一種色度測量方法，測量采用的相機與光譜儀保持相對位置不變，將所述光譜儀的視場作為標定位置，色度測量方法包括以下步驟：

通過相機色度標定獲得轉換模型Q1；

通過所述相機和所述光譜儀同時對待測試顯示面板顯示的某個畫面進行采集，所述相機獲得采集區域的ImgRGB數值，所述光譜儀獲得標定位置的regXYZ數值；

采用所述轉換模型Q1對所述ImgRGB數值進行轉換，得到ImgXYZ數值；

提取所述ImgXYZ數值中對應所述標定位置的XYZ數值，并將對應所述標定位置的XYZ數值與所述regXYZ數值進行對比，獲得矯正系數Q2；

采用所述矯正系數Q2對采集區域內的ImgXYZ數值均進行矯正處理，得到第一色度亮度值ImgXYZ。

優選的，所述相機色度標定包括以下步驟：

將所述相機和所述光譜儀移至采集區域；