[發(fā)明專利]一種膜片受壓式壓力表校準(zhǔn)工裝及使用方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811582001.6
• 申請(qǐng)日: 2018-12-24
• 公開（公告）號(hào): CN109632184A
• 公開（公告）日: 2019-04-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 韋學(xué)元
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 貴州航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所
• 主分類號(hào): G01L27/00
• 分類號(hào): G01L27/00
• 代理公司: 中國(guó)航天科工集團(tuán)公司專利中心 11024
• 代理人: 葛鵬

1.一種膜片受壓式壓力表校準(zhǔn)工裝，其特征在于，包括：下端雙規(guī)格螺紋、密封圈、上端缺口式半通螺母，所述下端雙規(guī)格螺紋的上部中央設(shè)置密封圈，并通過(guò)所述上端缺口式半通螺母進(jìn)行相互鎖緊。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的膜片受壓式壓力表校準(zhǔn)工裝，其特征在于，所述上端缺口式半通螺母，具有缺口部，所述缺口部對(duì)應(yīng)內(nèi)側(cè)設(shè)置內(nèi)螺紋，在所述內(nèi)螺紋的頂部設(shè)置小斜坡面，所述小斜坡面的上部設(shè)置第一鎖緊切面。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的膜片受壓式壓力表校準(zhǔn)工裝，其特征在于，所述第一鎖緊切面為相對(duì)于所述缺口部設(shè)置的對(duì)稱結(jié)構(gòu)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的膜片受壓式壓力表校準(zhǔn)工裝，其特征在于，所述下端雙規(guī)格螺紋包括標(biāo)準(zhǔn)螺紋，在所述標(biāo)準(zhǔn)螺紋上設(shè)置第二鎖緊切面，在所述第二鎖緊切面上設(shè)置上螺紋，所述上螺紋的上端面設(shè)置進(jìn)壓孔，所述第二鎖緊切面的形狀與所述第一鎖緊切面的截面形狀相適配。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的膜片受壓式壓力表校準(zhǔn)工裝，其特征在于，所述進(jìn)壓孔位于上端面的中央。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的膜片受壓式壓力表校準(zhǔn)工裝，其特征在于，所述第一鎖緊切面為方塊形狀。

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的膜片受壓式壓力表校準(zhǔn)工裝，其特征在于，所述截面為方形。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的膜片受壓式壓力表校準(zhǔn)工裝，其特征在于，所述密封圈為圓形。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的膜片受壓式壓力表校準(zhǔn)工裝，其特征在于，所述密封圈采用塑性塑膠材料。

10.一種膜片受壓式壓力表校準(zhǔn)工裝的使用方法，其特征在于，包括：

將膜片受壓式壓力表的受壓膜片和標(biāo)準(zhǔn)螺紋經(jīng)過(guò)上端缺口式半通螺母的缺口放置好后倒置；

將密封圈平放于下端雙規(guī)格螺紋的上端面的中心；

再將下端雙規(guī)格螺紋慢慢擰入上端缺口式半通螺母、直至手緊；

將壓力表倒轉(zhuǎn)正立后，經(jīng)下端雙規(guī)格螺紋另一端標(biāo)準(zhǔn)螺紋擰入壓力校驗(yàn)器壓力輸出口、應(yīng)用上下兩個(gè)工裝的鎖緊切面借助工具將上端缺口式半通螺母與下端雙規(guī)格螺紋再加緊，上端面和受壓膜片對(duì)密封圈進(jìn)行擠壓；

將壓力校驗(yàn)器按照壓力表的被測(cè)點(diǎn)進(jìn)行逐點(diǎn)升壓，讀取壓力表的壓力數(shù)值、對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)從而得出壓力表的計(jì)量特性是否符合要求，完成整個(gè)校準(zhǔn)工作。