[發(fā)明專(zhuān)利]用于功能薄膜的電學(xué)測(cè)試裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811580281.7 | 申請(qǐng)日： | 2018-12-24 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN109444222A | 公開(kāi)（公告）日： | 2019-03-08 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 張曉渝;臧濤成;葛麗娟;馬春蘭;邢園園 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人： | 蘇州科技大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào)： | G01N27/04 | 分類(lèi)號(hào)： | G01N27/04 |
| 代理公司： | 蘇州創(chuàng)元專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 32103 | 代理人： | 王健 |
| 地址： | 215009 *** | 國(guó)省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū)： | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū)： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 雙刀雙擲開(kāi)關(guān) 電極固定 電學(xué)測(cè)試 金屬銦 銅導(dǎo)線 測(cè)試樣品 功能薄膜 壓力機(jī)構(gòu) 下置物 置物孔 靜端 數(shù)據(jù)準(zhǔn)確率 安裝通孔 測(cè)試薄膜 測(cè)試裝置 焊接連接 電流表 電壓表 電阻率 可重復(fù) 上表面 下表面 電極 斷路 動(dòng)端 下端 測(cè)試 保證 | ||
1.一種用于功能薄膜的電學(xué)測(cè)試裝置，其特征在于：包括電極固定基座（1）、4個(gè)銅導(dǎo)線（2）、4個(gè)金屬銦柱（3）、電壓表（9）和電流表（11），所述電極固定基座（1）開(kāi)有4個(gè)由上置物孔（7）和下置物孔（8）連接的安裝通孔（10），所述銅導(dǎo)線位于下置物孔（8）內(nèi)，所述金屬銦柱（3）位于上置物孔（7）內(nèi)并與銅導(dǎo)線（2）焊接連接，一壓力機(jī)構(gòu)（5）安裝于電極固定基座（1）上，測(cè)試樣品（4）上表面和下表面分別與壓力機(jī)構(gòu)（5）的下端和金屬銦柱（3）接觸；
第一雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（12）、第二雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（13）、第三雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（14）和第四雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（15）均包括2個(gè)動(dòng)端、2個(gè)通路靜端和2個(gè)斷路靜端；
所述第一雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（12）的2個(gè)動(dòng)端（121、122）分別通過(guò)導(dǎo)線與4個(gè)銅導(dǎo)線（2）中的2個(gè)銅導(dǎo)線（2）電連接，第一雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（12）的2個(gè)通路靜端（123、124）分別與第三雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（14）和第四雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（15）的對(duì)應(yīng)的一個(gè)動(dòng)端（141、151）連接；
所述第二雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（13）的2個(gè)動(dòng)端（131、132）分別通過(guò)導(dǎo)線與4個(gè)銅導(dǎo)線（2）中的另2個(gè)銅導(dǎo)線電連接，第二雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（13）的2個(gè)通路靜端（133、134）分別與第三雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（14）和第四雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（15）的對(duì)應(yīng)的另一個(gè)動(dòng)端（142、152）連接；
所述電流表（11）跨接于第三雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（14）的一個(gè)通路靜端（143）和第四雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（15）的對(duì)應(yīng)的一個(gè)通路靜端（153）之間，所述電壓表（9）跨接于第三雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（14）的另一個(gè)通路靜端（144）和第四雙刀雙擲開(kāi)關(guān)（15）的對(duì)應(yīng)的另一個(gè)通路靜端（154）之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于功能薄膜的電學(xué)測(cè)試裝置，其特征在于：所述壓力機(jī)構(gòu)（5）包括彈簧柱塞（6），此彈簧柱塞（6）下端壓在測(cè)試樣品（4）的表面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于功能薄膜的電學(xué)測(cè)試裝置，其特征在于：所述上置物孔（7）的高度為2~5mm，直徑為0.4~0.6mm，所述下置物孔（8）的高度為3~6mm，直徑為1.5~2.0mm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于功能薄膜的電學(xué)測(cè)試裝置，其特征在于：所述上置物孔（7）的直徑小于下置物孔（8）的直徑。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于功能薄膜的電學(xué)測(cè)試裝置，其特征在于：所述銅導(dǎo)線（2）的外部套有外殼。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于功能薄膜的電學(xué)測(cè)試裝置，其特征在于：具有外殼的所述銅導(dǎo)線（2）的直徑為1.5~2.0mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于功能薄膜的電學(xué)測(cè)試裝置，其特征在于：所述壓力裝置（5）向下壓的壓力大小在0.1~0.8N之間可控。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于功能薄膜的電學(xué)測(cè)試裝置，其特征在于：所述電極固定基座（1）的材質(zhì)為聚四氟乙烯。
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