[發明專利]一種基于圖像邊緣信息的壓縮采樣方法在審
| 申請號： | 201811576104.1 | 申請日： | 2018-12-22 |
| 公開（公告）號： | CN109754405A | 公開（公告）日： | 2019-05-14 |
| 發明（設計）人： | 楊俊;高漢琪;黎麗;蔣濤;崔晨 | 申請（專利權）人： | 嘉興學院 |
| 主分類號： | G06T7/13 | 分類號： | G06T7/13;G06T5/00;H04N5/232 |
| 代理公司： | 北京盛凡智榮知識產權代理有限公司 11616 | 代理人： | 劉玉珠 |
| 地址： | 314001 浙江省嘉興市*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 低質量圖像 測量 圖像邊緣信息 像素 圖像邊緣 壓縮采樣 數學形態學處理 高質量圖像 形態學處理 恢復 邊緣信息 邊緣預測 采樣模塊 腐蝕處理 優化算法 采樣 圖像 膨脹 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于圖像邊緣信息的壓縮采樣方法，它包括獲取低質量圖像模塊、圖像邊緣預測模塊、圖像邊緣數學形態學處理模塊、邊緣信息指導再次采樣模塊和高質量圖像恢復模塊，其主要步驟如下：
步驟一：啟動獲取低質量圖像模塊，選擇圖像采樣率，控制圖像采樣CCD矩陣開關，采樣圖像獲取第一次的測量值，利用測量值和優化算法恢復出低質量的圖像。
步驟二：啟動邊緣預測模塊，利用上一步獲取的低質量圖像進行邊緣提取，用提取的邊緣信息預測原始圖像的邊緣信息。
步驟三：啟動圖像邊緣數學形態學處理模塊，對低質量的圖像邊緣進行數學形態學運算，以提取圖像的邊緣信息，用以指導采樣時選取重要位置的像素。
步驟四：啟動圖像邊緣信息指導再次采樣模塊，在形態學處理后的邊緣上隨機的選取部分像素作為測量值，需要去掉首次低質量圖像獲取時已經選取的像素，
步驟五：啟動高質量圖像恢復模塊，把步驟一和步驟四中兩次的測量值作為最終總的測量值，用以恢復圖像，并使用總的測量值及優化算法恢復高質量圖像。
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