[發明專利]一種滑動式測斜儀的測試裝置及其測試方法

在審

• 申請號: 201811569808.6
• 申請日: 2018-12-21
• 公開（公告）號: CN111351505A
• 公開（公告）日: 2020-06-30
• 發明（設計）人: 萬順平;張文鵬;徐銳;張廷廷;杜文恒
• 申請（專利權）人: 航天科工慣性技術有限公司
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種滑動式測斜儀的測試裝置，其特征在于，包括測試平臺、光學分度頭、測試夾具以及溫度控制組件；

所述光學分度頭安裝于所述測試平臺的工作面上，所述測試夾具安裝于所述光學分度頭上，所述溫度控制組件與所述測試夾具配合設置；

所述測試夾具用于安裝待測試測斜儀，所述光學分度頭用于檢測偏轉角度；

所述溫度控制組件用于對所述待測試測斜儀進行溫度補償。

2.根據權利要求1所述的滑動式測斜儀的測試裝置，其特征在于，所述溫度控制組件包括溫控器、半導體制冷裝置以及保溫殼體，所述保溫殼體設置在所述測試夾具外，所述半導體制冷裝置與所述測試夾具配合設置。

3.根據權利要求2所述的滑動式測斜儀的測試裝置，其特征在于，所述半導體制冷裝置包括半導體制冷器和散熱片，所述半導體制冷器與所述溫控器連接，所述散熱片和半導體制冷器粘接于所述測試夾具上。

4.根據權利要求2所述的滑動式測斜儀的測試裝置，其特征在于，所述保溫殼體為材料為硅酸鋁保溫材料。

5.根據權利要求2所述的滑動式測斜儀的測試裝置，其特征在于，所述溫度控制組件還包括溫度傳感器，所述溫度傳感器與所述溫控器連接，所述溫度傳感器設置在所述保溫殼體內。

6.一種滑動式測斜儀的測試方法，其特征在于，采用如權利要求1-5任一所述的滑動式測斜儀的測試裝置進行測試，所述方法包括：

對所述測試裝置進行調平，并安裝待測試測斜儀；

通過溫度控制組件設置測試溫度；

在不同的測試溫度下分別檢測待測試測斜儀以下參數的一種或多種：零偏、最大允許誤差以及重復性。

7.根據權利要求6所述的滑動式測斜儀的測試方法，其特征在于，通過溫度控制組件設置測試溫度，包括：

采集測試夾具內的環境溫度；

將所述環境溫度與預設的測試溫度進行比較，根據比較結果調節測試夾具內的溫度，使得測試夾具內的環境溫度達到測試溫度；

所述測試溫度的范圍為-20℃至60℃。

8.根據權利要求7所述的滑動式測斜儀的測試方法，其特征在于，在不同的測試溫度下檢測待測試測斜儀的零偏，包括：

在設定的測試溫度下，將測試夾具調至水平位置或者垂直位置，將待測試測斜儀的測頭按A0向和A180向依次放入，記錄待測試測斜儀在A0向和A180向的垂直位移輸出和水平位移輸出，兩個方向的輸出值的一半即為零偏值。

9.根據權利要求7所述的滑動式測斜儀的測試方法，其特征在于，在不同的測試溫度下檢測待測試測斜儀的最大允許誤差，包括：

在設定的測試溫度下，將測試夾具轉至正測量范圍的最大位置；

將待測試測斜儀的測頭置于測試夾具中，讀數穩定后進行測試；

A0向：使測頭從正測量范圍的最大位置開始，按預設間隔角度調整直到負測量范圍的最大位置，獲得各角度下的位移輸出值；

將測頭再次調整至正測量范圍的最大位置；

A180向：將測頭取出，翻轉180°后重新放入，使測頭從正測量范圍的最大位置開始，按預設間隔角度調整直到負測量范圍的最大位置，獲得各角度下的位移輸出值；

根據各輸出值計算最大允許誤差。

10.根據權利要求7所述的滑動式測斜儀的測試方法，其特征在于，在不同的測試溫度下檢測待測試測斜儀的重復性，包括：

在設定的測試溫度下，將測試夾具調整至鉛錘位置；

將測頭置于測試夾具中，按預設間隔角度轉動測試夾具，讀取待檢測測斜儀在每個角度下的讀數，并重復測試；

根據讀數計算各角度下的重復性。