[發明專利]一種圖像重建方法、裝置及計算機可讀存儲介質在審
| 申請號: | 201811565875.0 | 申請日: | 2018-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN111353944A | 公開(公告)日: | 2020-06-30 |
| 發明(設計)人: | 孔德輝;徐科;張曉;韓彬;韓周;王洪;魯國寧;黃龍;羅盛 | 申請(專利權)人: | 深圳市中興微電子技術有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00 |
| 代理公司: | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;張天舒 |
| 地址: | 518055 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 圖像 重建 方法 裝置 計算機 可讀 存儲 介質 | ||
1.一種圖像重建方法,其特征在于,所述方法包括:
確定深度神經網絡模型的每一卷積層的卷積核的范數;
確定所述每一卷積層中范數大于或等于預設閾值的卷積核,得到所述每一卷積層的目標卷積核集合;
利用所述每一卷積層的目標卷積核集合中的卷積核對所述每一卷積層的輸入圖像進行處理,得到第一圖像處理結果;
獲取對所述輸入圖像經過插值處理的第二圖像處理結果;
根據所述第一圖像處理結果和所述第二圖像處理結果,確定融合處理結果,以使根據所述融合處理結果對所述輸入圖像進行重建。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述每一卷積層的目標卷積核集合中的卷積核對所述每一卷積層的輸入圖像進行處理,包括:
如果所述每一卷積層的卷積核的最大范數與最小范數之間的差值在預設范圍內,則利用范數大于或等于預設閾值的卷積核對所述輸入圖像進行處理;
如果所述每一卷積層的卷積核的最大范數與最小范數之間的差值不在預設的范圍內,則按照范數大小順序對所述卷積核進行排序,利用排序結果中前M個卷積核對所述輸入圖像進行處理;其中,所述M為大于或等于1的自然數。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述確定所述每一卷積層中范數大于或等于預設閾值的卷積核,得到所述每一卷積層的目標卷積核集合,包括:
將所述每一卷積層中的第i卷積層的卷積核的范數與預設閾值進行比較,確定所述第i卷積層中范數大于或等于預設閾值的卷積核,得到所述第i卷積層的第一目標卷積核子集合;
將所述每一卷積層中的第i+1卷積層的卷積核的范數與預設閾值進行比較,確定所述第i+1卷積層中范數大于或等于預設閾值的卷積核,得到所述第i+1卷積層的第二目標卷積核子集合;
其中,所述深度神經網絡模型包括N個卷積層,i為大于1且小于N的自然數;所述第i+1卷積層表征所述第i卷積層的下一卷積層。
4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述利用所述每一卷積層的目標卷積核集合中的卷積核對所述每一卷積層的輸入圖像進行處理,得到第一圖像處理結果,包括:
利用所述第一目標卷積核子集合,對所述第i卷積層的輸入圖像進行處理,獲得第i卷積層圖像處理結果;
將所述第i卷積層圖像處理結果作為所述第i+1卷積層的輸入圖像;
利用所述第二目標卷積核子集合,對所述第i+1卷積層的輸入圖像進行處理,獲得第i+1卷積層圖像處理結果;
將所述第i+1卷積層圖像處理結果作為所述第一圖像處理結果。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述第一圖像處理結果和所述第二圖像處理結果,確定融合處理結果,包括:
分別確定所述第一圖像處理結果和所述第二圖像處理結果對應的權值;
根據所述第一圖像處理結果、所述第二圖像處理結果、所述第一圖像處理結果對應的權值和所述第二圖像處理結果對應的權值,確定所述融合處理結果。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,所述分別確定所述第一圖像處理結果和所述第二圖像處理結果對應的權值,包括:
根據所述每一卷積層的可靠系數,確定所述第一圖像處理結果對應的權值;
根據所述第一圖像處理結果對應的權值,確定所述第二圖像處理結果對應的權值。
7.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
按照下面的公式確定所述每一卷積層的可靠系數:
其中,ti表征第i卷積層的可靠系數;|fij(x)|表征第i卷積層的第j個卷積核的范數;Ω表征第i卷積層中范數大于或等于預設閾值的卷積核集合;Q表征第i卷積層中所有卷積核集合。
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