[發明專利]一種構造具有特定缺陷的渦流信號的方法

有效

• 申請號: 201811564448.0
• 申請日: 2018-12-20
• 公開（公告）號: CN111351838B
• 公開（公告）日: 2023-08-18
• 發明（設計）人: 馮美名;張益成;陳姝;魏文斌;廖述圣
• 申請（專利權）人: 核動力運行研究所;中核武漢核電運行技術股份有限公司
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90
• 代理公司: 核工業專利中心 11007
• 代理人: 王潔

1.一種構造具有特定缺陷的渦流信號的方法，其特征在于：步驟1：獲取標定管缺陷段通道水平方向和垂直方向數據X，數據長度以包含整個缺陷、缺陷居中為準；

步驟2：確定標定管缺陷的深度、寬度和缺陷的相位角、數據量以及旋轉角α；

步驟3：根據特定缺陷相位角需求，角度增加θ，將步驟1)取得的高頻差分通道水平和垂直信號進行旋轉變換；

步驟4：根據特定缺陷寬度要求進行抽樣或插值處理；

步驟5：根據特定缺陷幅值要求，進行線性變換。

2.如權利要求1所述的一種構造具有特定缺陷的渦流信號的方法，其特征在于：所述的步驟3中，進行旋轉變換的公式為：

3.如權利要求1所述的一種構造具有特定缺陷的渦流信號的方法，其特征在于：步驟4中進行抽樣或插值處理，包括：將缺陷寬度縮短N倍；抽取表達式為y[n]＝x[Nn]。

4.如權利要求3所述的一種構造具有特定缺陷的渦流信號的方法，其特征在于：步驟4中進行抽樣或插值處理，還包括：缺陷寬度伸張N倍的線性插值表達式為其基本做法是相鄰兩點間插入N-1個點，其中的第i個插值點的取值為

5.如權利要求1所述的一種構造具有特定缺陷的渦流信號的方法，其特征在于：所述步驟5中線性變換：y[n]＝kx[n]，k為常數。

6.如權利要求1所述的一種構造具有特定缺陷的渦流信號的方法，其特征在于：所述方法還包括步驟6：將經過步驟3至步驟5處理所構造的信號旋轉-α后疊加到實測渦流信號指定位置。

7.如權利要求6所述的一種構造具有特定缺陷的渦流信號的方法，其特征在于：還包括步驟7：對步驟6處理疊加后的信號進行混頻或對消處理。

8.如權利要求7所述的一種構造具有特定缺陷的渦流信號的方法，其特征在于：還包括步驟8：將混頻或對消處理算法給出的缺陷結果或人工判斷給出的結果與本算法確定的缺陷深度和寬度進行比對，判斷算法檢測缺陷的有效性或分析員對缺陷的識別能力。