[發明專利]一種光源驅動自適應的方法及裝置有效
| 申請號: | 201811564329.5 | 申請日: | 2018-12-20 |
| 公開(公告)號: | CN109688658B | 公開(公告)日: | 2021-06-04 |
| 發明(設計)人: | 藍天;謝劍新;林立平 | 申請(專利權)人: | 廈門贏科光電有限公司 |
| 主分類號: | H05B45/37 | 分類號: | H05B45/37 |
| 代理公司: | 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414 | 代理人: | 李艷麗 |
| 地址: | 361000 福建省廈門市自由貿易試驗區*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光源 驅動 自適應 方法 裝置 | ||
1.一種光源驅動自適應的方法,其特征在于,包括以下步驟:
根據調試信號測試目標發光二極管的反饋參數;
根據所述反饋參數獲取所述反饋參數對應的工作參數;其中,所述調試信號包括多個調試電壓、多個調試電流、多個調試脈沖信號、多個調試載波信號中的至少一種,所述反饋參數包括反饋電壓、反饋電流、反饋功率中的至少一種,所述工作參數包括工作電壓、工作電流、工作脈沖信號、工作載波信號中的至少一種;
根據所述工作參數驅動所述目標發光二極管;
所述調試信號不會點亮所述目標發光二極管;
所述根據所述反饋參數獲取所述反饋參數對應的工作參數包括:
根據所述反饋參數遍歷預存的數據庫,獲取所述目標發光二極管的所述工作參數。
2.如權利要求1所述的光源驅動自適應的方法,其特征在于,所述根據調試信號測試目標發光二極管的反饋參數之前還包括:
測試多個目標發光二極管在調試信號下各自對應的反饋參數;其中,所述反饋參數包括反饋電壓、反饋電流、反饋功率中的至少一種,所述調試信號包括多個調試電壓、多個調試電流、多個調試脈沖信號、多個調試載波信號中的至少一種;
將所述多個目標發光二極管各自對應的工作參數和所述反饋參數對應關聯保存至所述數據庫。
3.如權利要求1所述的光源驅動自適應的方法,其特征在于,所述根據所述反饋參數獲取所述反饋參數對應的工作參數還包括:
根據所述反饋參數計算得到所述目標發光二極管的工作參數。
4.一種光源驅動自適應的裝置,其特征在于,包括:
測試模塊,用于根據調試信號測試目標發光二極管的反饋參數;
工作參數確定模塊,用于根據所述反饋參數獲取所述反饋參數對應的工作參數;其中,所述調試信號包括多個調試電壓、多個調試電流、多個調試脈沖信號、多個調試載波信號中的至少一種,所述反饋參數包括反饋電壓、反饋電流、反饋功率中的至少一種,所述工作參數包括工作電壓、工作電流、工作脈沖信號、工作載波信號中的至少一種;
驅動模塊,用于根據所述工作參數驅動所述目標發光二極管;
所述調試信號不會點亮所述目標發光二極管;
所述工作參數確定模塊具體用于:
根據所述反饋參數遍歷預存的數據庫,獲取所述目標發光二極管的所述工作參數。
5.根據權利要求4所述的光源驅動自適應的裝置,其特征在于,還包括:
預先測試模塊,用于測試多個目標發光二極管在調試信號下各自對應的反饋參數;其中,所述反饋參數包括反饋電壓、反饋電流、反饋功率中的至少一種,所述調試信號包括多個調試電壓、多個調試電流、多個調試脈沖信號、多個調試載波信號中的至少一種;
數據庫建立模塊,用于將所述多個目標發光二極管各自對應的工作參數和所述反饋參數對應關聯保存至所述數據庫。
6.一種光源驅動自適應的裝置,包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序,其特征在于,所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求1至3任一項所述光源驅動自適應的方法的步驟。
7.一種計算機可讀存儲介質,所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序,其特征在于,所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至3任一項所述光源驅動自適應的方法的步驟。
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