[發明專利]一種非標測試夾具

有效

• 申請號: 201811562456.1
• 申請日: 2018-12-20
• 公開（公告）號: CN110058056B
• 公開（公告）日: 2021-09-14
• 發明（設計）人: 孟繁博;張沛;馬強;黃彤明;林海英
• 申請（專利權）人: 中國科學院高能物理研究所
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R33/12
• 代理公司: 北京君尚知識產權代理有限公司 11200
• 代理人: 司立彬

本發明公開了一種非標測試夾具，其特征在于，包括用于放置材料樣品的樣品放置單元，非標轉接頭1和非標轉接頭2；其中，樣品放置單元位于非標轉接頭1與非標轉接頭2之間；所述非標轉接頭1的內側端口、非標轉接頭2的內側端口與該樣品放置單元連接，所述非標轉接頭1的外側端口、非標轉接頭2的外側端口作為測試端面，用于輸出測試數據。而本發明中非標夾具可以任意選取內、外導體的尺寸以便于樣品加工，從而大幅降低材料樣品的制樣難度，進而有效提高材料電磁參數的測試效率與測試精度。

技術領域

本發明涉及一種非標測試夾具，用于材料電磁參數測量，屬于微波工程、材料電磁參數測試技術領域。

背景技術

隨著材料科學及微波工程、電磁兼容技術的發展，透波材料、吸波材料的作用變得十分顯著，因此研究材料電磁參數的測量技術也變得越來越重要。在對射頻吸波材料性能的仿真計算中，介電常數和磁導率的測量對于合理選擇材料、器件等方面都至關重要。

電磁參數的測量方法與被測材料的形態、色散特性及應用的頻段等方面有關，目前國內外常用的測量方法有諧振腔法、自由空間法、開路終端同軸線法及傳輸線法等。其中，被廣泛應用的是傳輸/反射法(Transmission/Reflection method)，簡稱TR法。因為它具有測量頻帶寬、測量精度高、適用于同軸和波導系統以及簡單易操作等特點。

目前常用的基于TR法(即傳輸反射法)的電磁參數計算軟件是根據網絡分析儀測試的S 參數直接計算樣品材料的電磁參數，即相對介電常數ε_r和相對磁導率μ_r。現有軟件的計算流程如圖1所示。

現有方案的缺點：現有計算軟件只適用于采用標準傳輸線或波導夾具的測試系統，如果測試夾具中有異型或非標結構出現，將會對材料電磁參數的計算結果的準確性產生較大影響。

發明內容

針對現有技術中測試夾具存在的問題，本發明的目的在于提供一種適用性更廣的非標測試夾具。

本發明的技術方案為：

一種非標測試夾具，其特征在于，包括用于放置材料樣品的樣品放置單元，非標轉接頭1 和非標轉接頭2；其中，樣品放置單元位于非標轉接頭1與非標轉接頭2之間；所述非標轉接頭1的內側端口、非標轉接頭2的內側端口與該樣品放置單元連接，所述非標轉接頭1的外側端口、非標轉接頭2的外側端口作為測試端面，用于輸出測試數據。

進一步的，所述樣品放置單元包括由放樣內導體與放樣外導體構成的同軸線，所述同軸線用于連接固定待測樣品；所述同軸線與所述非標轉接頭1、非標轉接頭2電連接。

進一步的，所述同軸線通過法蘭與所述非標轉接頭1的內側端口、非標轉接頭2的內側端口連接固定。

進一步的，所述放樣外導體上設有若干定位螺孔，用于與定位螺絲配合將待測樣品固定在所述放樣外導體與所述放樣內導體之間。

進一步的，所述非標轉接頭1的內側端口、非標轉接頭2的內側端口分別為與所述同軸線匹配的同軸結構。

進一步的，所述非標轉接頭1的內導體、非標轉接頭2的內導體通過螺紋與所述放樣內導體連接。

進一步的，所述放樣內導體的一端設有定位槽、另一端設有定位凸起，所述非標轉接頭1 的內側端口設有與所述定位凸起匹配的定位槽，所述非標轉接頭2的內側端口設有與所述放樣內導體的定位槽匹配的定位凸起。

進一步的，所述同軸線的特性阻抗為50歐姆。

進一步的，所述非標轉接頭1的外側端口、非標轉接頭2的外側端口設有標準N型接口。