[發明專利]一種II級滾控單元測試儀的校準系統

有效

• 申請號: 201811558171.0
• 申請日: 2018-12-19
• 公開（公告）號: CN109901460B
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 王兵;高翌春;張鵬程;劉曉旭;印朝輝;張修建;張鐵犁
• 申請（專利權）人: 北京航天計量測試技術研究所;中國運載火箭技術研究院
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042
• 代理公司: 北京國之大銘知識產權代理事務所(普通合伙) 11565
• 代理人: 李卉

1.一種II級滾控單元測試儀的校準系統，其特征在于，包括總線測控主機、電學標準源、精密負載箱和信號適配箱，且所述總線測控主機包括總線控制器模塊、數字多用表模塊和數據通信模塊；

所述總線控制器模塊通過所述數據通信模塊實現對所述電學標準源的驅動控制，所述數字多用表模塊實現對所述II級滾控單元測試儀各通道輸出電壓、輸出電流及傳感器供電電壓的測量，并按所述總線控制器模塊內置的校準程序采集相應的電壓/電流數據，控制所述電學標準源輸出標準電壓信號完成對所述II級滾控單元測試儀各通道位移采集電壓的校準；所述數據通信模塊具備多個通信接口，實現所述總線控制器模塊對所述信號適配箱的數據交互和驅動控制；

所述精密負載箱采用多支大功率精密負載電阻構成多路獨立的電阻輸出通道，用于為II滾控單元測試儀提供多路精密負載電阻實現對II級滾控單元測試儀各通道阻值的校準；

當校準所述II級滾控單元測試儀各通道阻值、輸出電流及輸出電壓時，所述數字多用表模塊連接所述精密負載箱的輸入端，所述精密負載箱的輸出端連接所述II滾控單元測試儀；所述II級滾控單元測試儀各通道阻值的校準是通過所述精密負載箱向所述II滾控單元測試儀提供多路獨立的標準負載電阻來實現；所述II級滾控單元測試儀各通道輸出電流的校準是通過所述總線控制器模塊控制所述數字多用表模塊按校準程序采集所述II級滾控單元測試儀各通道發控時整個脈沖時間內的輸出電流波形，截取中間穩定段的n個數據取平均值作為輸出電流來實現，且n不小于6；所述II級滾控單元測試儀各通道輸出電壓的校準則是用獲取的所述II級滾控單元測試儀各通道輸出電流乘以所述II級滾控單元測試儀各通道的負載電阻值來實現；

當校準所述II級滾控單元測試儀各通道傳感器供電電壓及位移采集電壓時，所述總線控制器模塊通過所述數據通信模塊連接所述電學標準源的輸入端，所述數字多用表模塊通過所述數據通信模塊連接所述信號適配箱的輸入端，所述電學標準源的輸出端亦連接所述信號適配箱的輸入端，所述信號適配箱的輸出端連接II滾控單元測試儀；所述II級滾控單元測試儀各通道傳感器供電電壓的校準是由所述數字多用表模塊作為標準表測量II級滾控單元測試儀的傳感器供電電壓來實現；所述II級滾控單元測試儀各通道位移采集電壓的校準是由所述總線控制器模塊按校準程序控制所述電學標準源向所述II級滾控單元測試儀輸出規定的標準電壓信號來實現。

2.根據權利要求1所述的校準系統，其特征在于，所述總線測控主機還包括總線機箱，且所述總線控制器模塊、數字多用表模塊和數據通信模塊均為總線式板卡，插入所述總線機箱構成便攜式的總線測控主機。

3.根據權利要求1所述的校準系統，其特征在于，總線為PXI總線、PXIe總線、CPCI總線和VXI總線中的任意一種。