[發(fā)明專利]一種區(qū)塊特征指紋識別的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811550838.2
• 申請日: 2018-12-18
• 公開（公告）號: CN109640271B
• 公開（公告）日: 2020-11-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 朱懿;張軍
• 申請（專利權(quán)）人: 成都方未科技有限公司
• 主分類號: H04W4/029
• 分類號: H04W4/029;H04W64/00
• 代理公司: 成都頂峰專利事務(wù)所(普通合伙) 51224
• 代理人: 曾凱

1.一種區(qū)塊特征指紋識別的方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：獲取通信運營商提供的基站工程參數(shù)和地圖服務(wù)商提供的地理實體實際位置坐標(biāo)點集合；

S2：根據(jù)基站工程參數(shù)計算基站的覆蓋面；

S3：根據(jù)基站的覆蓋面和地理實體實際位置坐標(biāo)點集合計算地理實體與基站的匹配關(guān)系，形成地理實體特征指紋；

根據(jù)基站的覆蓋面和地理實體實際位置坐標(biāo)點集合計算地理實體與基站的匹配關(guān)系的計算方法為：

S301：根據(jù)地理實體的覆蓋范圍和基站的覆蓋面，通過gis空間計算引擎，計算得到地理實體和基站覆蓋的交叉面積S；

S302：通過基站的工程參數(shù)計算出基站的覆蓋面積Sb；

S303：通過基站的覆蓋面積Sb和交叉面積S，通過方程計算地理實體和基站的空間關(guān)系系數(shù)α，計算方程為：α＝S÷Sb；

S304：輸出地理實體和覆蓋該地理實體的基站的關(guān)系：

{B,{Lc1,α},{Lc2,α}{Lc3,α}..{Lcn,α}}

其中，B為地理實體，Lc1、Lc2、Lc3和Lcn均為基站編號。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的區(qū)塊特征指紋識別的方法，其特征在于：所述基站工程參數(shù)包括地區(qū)區(qū)域碼、基站識別碼、網(wǎng)絡(luò)制式、天線類型、天線方位角、基站覆蓋類型、基站天線位置經(jīng)度坐標(biāo)和基站天線位置緯度坐標(biāo)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的區(qū)塊特征指紋識別的方法，其特征在于：所述基站覆蓋類型包括室內(nèi)型和非室內(nèi)型。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的區(qū)塊特征指紋識別的方法，其特征在于：所述室內(nèi)型基站的覆蓋半徑R為固定值；非室內(nèi)型基站的覆蓋半徑R為，該基站天線經(jīng)緯度坐標(biāo)和最近的三個非室內(nèi)型基站的平均距離與特定系數(shù)的乘積。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的區(qū)塊特征指紋識別的方法，其特征在于：所述特定系數(shù)為1.6；所述室內(nèi)型基站的覆蓋半徑R默認(rèn)為400米。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的區(qū)塊特征指紋識別的方法，其特征在于：所述天線類型包括全向天線和定向天線。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的區(qū)塊特征指紋識別的方法，其特征在于，所述全向天線基站覆蓋面的計算方法為：以天線經(jīng)緯度為中心點，每隔45度向外延伸基站覆蓋半徑R的長度，分別得到八個坐標(biāo)點，將相鄰的坐標(biāo)點用直線兩兩連接，形成封閉的基站覆蓋區(qū)域，即得到全向天線基站的覆蓋面。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的區(qū)塊特征指紋識別的方法，其特征在于，所述定向天線基站覆蓋面的計算方法為：以天線經(jīng)緯度為中心點，分別按角度A、A+H÷6、A+H÷3、A+H÷2、A-H÷6、A-H÷3和A+H÷2向外延伸基站覆蓋半徑R的長度，得到七個坐標(biāo)點，將相鄰的坐標(biāo)點用直線兩兩連接，兩端的兩個坐標(biāo)點分別與天線經(jīng)緯度點相連，形成封閉的基站覆蓋區(qū)域，即得到全向天線基站的覆蓋面；所述角度A為天線方位角，角度H為水平波瓣角度。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的區(qū)塊特征指紋識別的方法，其特征在于：所述水平波瓣角度計算方法為，若該基站定向天線數(shù)量小于等于2，則為180度，否則為120度。