[發(fā)明專利]空間多因素環(huán)境地面模擬及原位分析試驗(yàn)艙裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811548841.0
• 申請日: 2018-12-18
• 公開（公告）號: CN109580884A
• 公開（公告）日: 2019-04-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳宜勇;孫承月;吳憂;趙會(huì)陽;王豪;琚丹丹
• 申請（專利權(quán)）人: 哈爾濱工業(yè)大學(xué)
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 23109
• 代理人: 畢雅鳳

1.空間多因素環(huán)境地面模擬及原位分析試驗(yàn)艙裝置，其特征在于，該試驗(yàn)艙裝置包括多因素環(huán)境模擬真空艙室、穿艙光纖和電學(xué)穿艙件；

多因素環(huán)境模擬真空艙室實(shí)現(xiàn)空間環(huán)境中的輻射環(huán)境因素質(zhì)子、電子和紫外環(huán)境的模擬；

穿艙光纖實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離光譜信號的傳輸，并且完成拉曼光譜和熒光光譜分析；

電學(xué)穿艙件將電信號從多因素環(huán)境模擬真空艙室內(nèi)引出，并且實(shí)現(xiàn)材料電性能的測試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的空間多因素環(huán)境地面模擬及原位分析試驗(yàn)艙裝置，其特征在于，多因素環(huán)境模擬真空艙室的封頭上設(shè)置有質(zhì)子加速器法蘭接口(1)、電子槍法蘭接口(2)和兩個(gè)紫外燈法蘭接口(3)；質(zhì)子加速器法蘭接口(1)用于安裝質(zhì)子加速器，電子槍法蘭接口(2)用于安裝電子槍，質(zhì)子加速器和電子槍之間的夾角為40度。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的所述的空間多因素環(huán)境地面模擬及原位分析試驗(yàn)艙裝置，其特征在于，多因素環(huán)境模擬真空艙室的封頭上還設(shè)置有質(zhì)譜儀法蘭接口(4)，質(zhì)譜儀法蘭接口(4)用于安裝質(zhì)譜儀，能夠?qū)Ρ粶y樣品的輻照老化析氣行為進(jìn)行分析。

4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3所述的所述的空間多因素環(huán)境地面模擬及原位分析試驗(yàn)艙裝置，其特征在于，多因素環(huán)境模擬真空艙室的外側(cè)壁上設(shè)置有拉曼光譜分析穿艙光纖法蘭接口(5)和熒光光譜分析穿艙光纖法蘭接口(6)，拉曼光譜分析穿艙光纖法蘭接口(5)安裝拉曼激光器和光譜儀，熒光光譜分析穿艙光纖法蘭接口(6)安裝熒光分析激光器和熒光分析光譜儀。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的空間多因素環(huán)境地面模擬及原位分析試驗(yàn)艙裝置，其特征在于，拉曼光譜分析穿艙光纖通過拉曼光譜分析穿艙光纖法蘭接口(5)接入多因素環(huán)境模擬真空艙室內(nèi)，拉曼光譜分析穿艙光纖與波紋管連接，通過波紋管的伸縮控制光譜儀的探頭與被測樣品之間的相對位置，完成拉曼光譜分析；

熒光光譜分析穿艙光纖通過熒光光譜分析穿艙光纖法蘭接口(6)接入多因素環(huán)境模擬真空艙室內(nèi)，熒光光譜分析穿艙光纖與波紋管連接，通過波紋管的伸縮控制熒光分析光譜儀的探頭與被測樣品之間的相對位置，完成熒光光譜分析。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的空間多因素環(huán)境地面模擬及原位分析試驗(yàn)艙裝置，其特征在于，多因素環(huán)境模擬真空艙室的封頭上設(shè)置有第一電學(xué)測試法蘭接口(7)，多因素環(huán)境模擬真空艙室的外側(cè)壁上設(shè)置有第二電學(xué)測試法蘭接口(8)，實(shí)現(xiàn)電信號的輸出，安裝測試設(shè)備后實(shí)現(xiàn)材料電性能的測試，材料電性能的測試包括輻致電導(dǎo)特性測試和表面電位特性測試。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的空間多因素環(huán)境地面模擬及原位分析試驗(yàn)艙裝置，其特征在于，多因素環(huán)境模擬真空艙室的外側(cè)壁上還設(shè)置有分子泵法蘭接口(9)和旁路抽氣法蘭接口(10)，分子泵法蘭接口(9)用于安裝分子泵，旁路抽氣法蘭接口(10)用于連接抽氧泵。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的空間多因素環(huán)境地面模擬及原位分析試驗(yàn)艙裝置，其特征在于，多因素環(huán)境模擬真空艙室的外側(cè)壁上還設(shè)置有艙門(11)。