[發明專利]光學指紋傳感器模組的校正方法有效
| 申請號: | 201811543947.1 | 申請日: | 2018-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN109657606B | 公開(公告)日: | 2020-10-02 |
| 發明(設計)人: | 凌嚴;朱虹 | 申請(專利權)人: | 上海籮箕技術有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 薛異榮;吳敏 |
| 地址: | 200120 上海市浦東新區中*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 指紋 傳感器 模組 校正 方法 | ||
1.一種光學指紋傳感器模組的校正方法,其特征在于,包括:
提供光學指紋傳感器模組,所述光學指紋傳感器模組包括:自發光顯示面板,所述自發光顯示面板包括光源區,所述光源區包括第一子光源區至第N子光源區,N為大于等于2的整數;光學傳感器,光學傳感器包括采集區,所述采集區位于所述光源區底部,所述采集區包括第一子傳感區至第N子傳感區,第i子光源區位于第i子傳感區的正上方,且第i子光源區與第i子傳感區的形狀一致,i為大于等于1且小于等于N的整數;
逐個獲取第一子傳感區的校正子圖像組至第N子傳感區的校正子圖像組;獲取第i子傳感區的校正子圖像組的方法包括:點亮所述第i子光源區;獲取第i子傳感區在第i子光源區被點亮狀態下的校正子圖像組;
根據第一子傳感區的校正子圖像組至第N子傳感區的校正子圖像組,獲取所述光學傳感器的校正總圖像組;
在相同的位置,產生校正總圖像組時所采用的光源的亮度,和采用用戶指紋時局部點亮的光源的亮度差異在20%以內。
2.根據權利要求1所述的光學指紋傳感器模組的校正方法,其特征在于,所述校正子圖像組包括第一校正子圖像和第二校正子圖像;所述校正總圖像組包括第一校正總圖像和第二校正總圖像;
逐個獲取第一子傳感區的校正子圖像組至第N子傳感區的校正子圖像組的步驟包括:逐個獲取第一子傳感區的第一校正子圖像至第N子傳感區的第一校正子圖像;逐個獲取第一子傳感區的第二校正子圖像至第N子傳感區的第二校正子圖像;
根據第一子傳感區的校正子圖像組至第N子傳感區的校正子圖像組,獲取所述光學傳感器的校正總圖像組的方法包括:根據第一子傳感區的第一校正子圖像至第N子傳感區的第一校正子圖像,獲取所述光學傳感器的第一校正總圖像;根據第一子傳感區的第二校正子圖像至第N子傳感區的第二校正子圖像,獲取所述光學傳感器的第二校正總圖像。
3.根據權利要求2所述的光學指紋傳感器模組的校正方法,其特征在于,獲取第i子傳感區的第一校正子圖像的方法包括:點亮所述第i子光源區;在所述光源區處于第一遮光環境下,獲取第i子傳感區在第i子光源區被點亮狀態下的第一校正子圖像;
獲取第i子傳感區的第二校正子圖像的方法包括:點亮所述第i子光源區;在所述光源區處于第二遮光環境下,獲取第i子傳感區在第i子光源區被點亮狀態下的第二校正子圖像。
4.根據權利要求3所述的光學指紋傳感器模組的校正方法,其特征在于,所述第一遮光環境包括:所述自發光顯示面板的光源區被黑色吸光物遮擋;所述第二遮光環境包括:所述自發光顯示面板的光源區被肉色反光物遮擋。
5.根據權利要求1所述的光學指紋傳感器模組的校正方法,其特征在于,還包括:獲取第i子光源區的第i附光源區,第i附光源區環繞第i子光源區且與所述第i子光源區無縫相連;在點亮所述第i子光源區的同時,點亮第i附光源區;獲取第i子傳感區在第i子光源區和第i附光源區被點亮狀態下的校正子圖像組。
6.根據權利要求5所述的光學指紋傳感器模組的校正方法,其特征在于,第i附光源區的面積為第i子光源區面積的20%~100%。
7.根據權利要求1所述的光學指紋傳感器模組的校正方法,其特征在于,第一子傳感區至第N子傳感區均分別包括若干像素;
所述光學指紋傳感器模組的校正方法還包括:根據所述光學傳感器的校正總圖像組,獲取光學傳感器的校正系數矩陣,所述校正系數矩陣包括若干個校正系數,各校正系數和各像素一一對應。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海籮箕技術有限公司,未經上海籮箕技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811543947.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





