[發明專利]一種激光參數測試平臺

在審

• 申請號: 201811542419.4
• 申請日: 2018-12-17
• 公開（公告）號: CN109357756A
• 公開（公告）日: 2019-02-19
• 發明（設計）人: 黃志華;李超
• 申請（專利權）人: 武漢光至科技有限公司
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42;G01J3/28;G01J1/00
• 代理公司: 寧波市鄞州甬致專利代理事務所(普通合伙) 33228
• 代理人: 潘李亮

本發明涉及光學技術領域，尤其涉及一種激光參數測試平臺。它包括待測激光器（101）以及多種測試裝置，它包括平臺本體（102），所述平臺本體（102）內設有至少一塊供激光反射和透射的楔形劈板。這種激光參數測試平臺能同時測量多個激光參數。

技術領域

本發明涉及光學技術領域，尤其涉及一種激光參數測試平臺。

背景技術

激光是一種高相干度的光源，衡量激光光束品質的技術指標包括激光功率、光功率譜、時域波形以及光束質量等。

要對激光束的性能進行測試，常規的做法是針對不同的激光參數，使用不同的測試光路和測量器件，來進行測量，但是這種測量方式一次只能對單個指標進行測量，效率低下，而且各參數的關聯性差。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：提供一種能同時測量多個激光參數的激光參數測試平臺。

本發明所采用的技術方案是：一種激光參數測試平臺，它包括待測激光器以及多種測試裝置，它包括平臺本體，平臺本體內設有至少一塊供激光反射和透射的楔形劈板。

作為優選，楔形劈板為三塊，且分別為第一楔形劈板、第二楔形劈板以及第三楔形劈板，測試裝置包括第一測試裝置、第二測試裝置、第三測試裝置以及第四測試裝置，其中：

待測激光器輸出激光，入射到第一楔形劈板上，入射光一部分被反射，射向第二楔形劈板，一部分透射后射向第一測試裝置；

射向第二楔形劈板的光一部分被反射，射向第三楔形劈板，一部分透射后射向第二測試裝置；

射向第三楔形劈板的光一部分被反射，射向第三測試裝置，一部分透射后射向第四測試裝置。

作為優選，第一測試裝置為光功率計，第二測試裝置為光譜分析儀，第三測試裝置光束質量分析儀，第四測試裝置為光電探頭。

作為優選，平臺本體內設有三維可調光學鏡架，且楔形劈板設置在三維可調光學鏡架上。

作為優選，楔形劈板的背面為傾斜面。

作為優選，平臺本體內壁上設有用于吸收雜散光的消光裝置。

作為優選，消光裝置包括帶有收光孔的收光筒、設置在收光筒內用于將從收光孔射入收光筒內的雜散光反射在收光筒內壁上的反光錐以及設置在收光筒內壁上的吸光結構。

作為優選，吸光結構為設置在收光筒內壁上由深牙螺紋構成的凹凸不平的表面。

作為優選，收光筒內還設有冷卻水道，收光筒外設有入水接頭與出水接頭，入水接頭以及出水接頭分別連接在冷卻水道兩端。

作為優選，收光筒采用黑化材料制成。

采用以上結構與現有技術相比，本發明具有以下優點：通過多塊楔形劈板分光，利用楔形劈板多次反射和透射形成的多路光束，可以同時對激光的各個參數進行測量。

設置三塊楔形劈板，這樣既能同時實現四個參數的測量。

因為第一楔形劈板透射光功率最強，最接近于入射光功率，所以將光功率計設置在第一楔形劈板的透射光處測量激光功率，可以通過標定分光比例系數得到實際輸出功率數值。

在平臺本體內設置三維可調光學鏡架，并且將多塊楔形劈板設置在三維可調光學鏡架上，這樣可以通過調整固定位置和姿態來對準光軸，使用更加方便。

將楔形劈板的背面設置成傾斜的，這樣可以減少楔形劈板背光面反射光斑與迎光面反射光斑的重疊，特別是光束質量的測量，需要采用迎光面反射光進行測量，從而避免楔形劈板自身面型誤差引入的波前畸變對測試結果的影響。