[發明專利]分光光度計檢測系統及其檢測方法

有效

• 申請號: 201811542110.5
• 申請日: 2018-12-17
• 公開（公告）號: CN111323380B
• 公開（公告）日: 2021-12-24
• 發明（設計）人: 陳巍;祝銘;李劍平;張亮;周志盛;梁元博;趙強星;周軒;呂建成
• 申請（專利權）人: 中國科學院深圳先進技術研究院
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01N21/25;G01N21/01
• 代理公司: 深圳市銘粵知識產權代理有限公司 44304
• 代理人: 孫偉峰

1.一種分光光度計檢測系統，其特征在于，包括：

光源裝置(10)，用于提供入射光束；

樣品容納裝置(20)，包括多個用于容納待測樣品的容置腔；

光束掃描裝置(30)，用于將入射光束反射穿過所述容置腔；

光譜探測裝置(40)，用于接收穿過所述容置腔的光束，并獲取穿過所述容置腔的光束的光譜；

驅動裝置(50)，用于驅動所述光束掃描裝置(30)轉動，進行分時地空間掃描，以分時、分空間地將入射光束反射穿過各個容置腔；

所述光譜探測裝置(40)包括：

多條多模光纖(41)，每條多模光纖(41)包括相對的第一端面(41a)和第二端面(41b)，所述多條多模光纖(41)的第二端面(41b)呈線性排列，所述第一端面(41a)和所述容置腔一一對應，所述第一端面(41a)用于接收穿過對應的所述容置腔的光束；

光纖光譜儀(42)，其入射狹縫與線性排列的多個第二端面(41b)對合，所述光纖光譜儀(42)用于接收所述第二端面(41b)出射的光束；

所述分光光度計檢測系統還包括第二透鏡(80)，所述第二透鏡(80)用于將穿過對應的所述容置腔的光束聚焦至所述第一端面(41a)上，且所述第一端面(41a)位于所述第二透鏡(80)的焦點處，所述第一端面(41a)與穿過對應的所述容置腔的光束的光軸垂直。

2.根據權利要求1所述的分光光度計檢測系統，其特征在于，分光光度計檢測系統還包括：多個反射鏡(60)，所述反射鏡(60)與所述容置腔一一對應，所述反射鏡(60)用于將所述光束掃描裝置(30)反射入射光束至其上的光束反射穿過對應的所述容置腔。

3.根據權利要求2所述的分光光度計檢測系統，其特征在于，所述光源裝置(10)包括：

發光元件(11)，用于發射入射光束；

光束整形器(12)，用于將所述發光元件(11)發射的入射光束進行準平行整形。

4.根據權利要求1所述的分光光度計檢測系統，其特征在于，分光光度計檢測系統還包括：具有正屈光力的第一透鏡(70)，所述第一透鏡(70)的焦點與所述光束掃描裝置(30)的中心重合，所述第一透鏡(70)用于將所述光束掃描裝置(30)分時地反射入射光束至其上的光束反射穿過各個容置腔。

5.根據權利要求4所述的分光光度計檢測系統，其特征在于，所述光源裝置(10)包括：

發光元件(11)，用于發射入射光束；

具有正屈光力的光學元件組(13)，用于將所述發光元件(11)發射的入射光束聚焦到所述光束掃描裝置(30)的中心上。

6.根據權利要求1所述的分光光度計檢測系統，其特征在于，所述樣品容納裝置(20)包括容納盤(21)、第一窗蓋(22)和第二窗蓋(23)，所述容納盤(21)中設置有多個貫穿所述容納盤(21)的相對的第一表面和第二表面的通孔(21a)，所述第一窗蓋(22)設置于所述第一表面上，所述第二窗蓋(23)設置于所述第二表面上，從而形成多個所述容置腔。

7.一種液體原位分光光度計檢測系統，其特征在于，包括外殼(90)和權利要求1至6任一項所述的分光光度計檢測系統，所述分光光度計檢測系統設置于外殼(90)內，所述外殼(90)部分凹陷形成液體原位測量窗口(91)，所述液體原位測量窗口(91)的相對兩側分別設置有第一透光部(92)和第二透光部(93)，所述光束掃描裝置(30)還用于將入射光束反射依次穿過所述第一透光部(92)和所述第二透光部(93)，所述光譜探測裝置(40)還用于接收穿過所述第二透光部(93)的光束，并獲取所述第二透光部(93)的光束的光譜。

8.一種如權利要求1至6任一項所述的分光光度計檢測系統的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括：

光源裝置(10)提供入射光束；

光束掃描裝置(30)將入射光束反射穿過樣品容納裝置(20)的容置腔，其中，所述樣品容納裝置(20)的容置腔中包含待測樣品以及參比樣品；

光譜探測裝置(40)接收穿過所述容置腔的光束，并獲取穿過所述容置腔的光束的光譜，其中，所述光譜包括待測樣品的光譜以及所述參比樣品的光譜；

根據待測樣品的光譜以及所述參比樣品的光譜得到待測樣品的吸收光譜。