[發明專利]復合探測裝置

有效

• 申請號: 201811541860.0
• 申請日: 2018-12-17
• 公開（公告）號: CN109581460B
• 公開（公告）日: 2021-02-26
• 發明（設計）人: 牛明;花城;姜浩;肖鵬;謝慶國
• 申請（專利權）人: 蘇州瑞派寧科技有限公司;華中科技大學
• 主分類號: G01T1/16
• 分類號: G01T1/16;G01T1/202;G01T1/203
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種復合探測裝置，其特征在于，所述復合探測裝置包括：

探測單元，其包括依次設置的塑料閃爍體、無機閃爍晶體陣列和光電轉換器陣列，所述塑料閃爍體用于接收從目標樣品發出的放射性射線并產生對應的第一可見光信號，所述無機閃爍晶體陣列用于接收從所述目標樣品發出的放射性射線并產生對應的第二可見光信號，所述光電轉換器陣列用于將所述第一可見光信號和所述第二可見光信號分別轉換為第一電信號和第二電信號，其中，所述塑料閃爍體與所述無機閃爍晶體陣列通過第一結構連接，所述無機閃爍晶體陣列與所述光電轉換器陣列通過第二結構連接；

信號處理單元，其用于對所述光電轉換器陣列產生的所述第一電信號和所述第二電信號進行處理以確定所述放射性射線的類型，所述放射性射線的類型包括β射線和γ射線，所述γ射線的能量高于511keV；以及

成像單元，其用于根據所述信號處理單元的信號處理結果對所述目標樣品進行成像，包括：根據所述信號處理結果中的時間信息進行符合事件處理，并且根據所得到的符合事件的信息進行圖像重建處理以獲得所述目標樣品的圖像，

其中，當所述目標樣品的厚度為20μm～100μm時，位于所述目標樣品兩側的相對的兩個所述塑料閃爍體之間的間距為1mm～10mm。

2.根據權利要求1所述的復合探測裝置，其特征在于，所述塑料閃爍體的厚度為0.01mm～5mm，其長度和寬度均為5mm～50mm。

3.根據權利要求1所述的復合探測裝置，其特征在于，所述無機閃爍晶體陣列中相鄰的兩個無機閃爍晶體之間的間隙為0.05mm～0.9mm，并且每個所述無機閃爍晶體的厚度均為0.01mm～10mm。

4.根據權利要求1所述的復合探測裝置，其特征在于，所述無機閃爍晶體陣列中的與所述塑料閃爍體和所述光電轉換器陣列接觸的兩個表面中的至少一個表面被拋光。

5.根據權利要求1所述的復合探測裝置，其特征在于，所述光電轉換器陣列包括硅光電倍增器、光電倍增管、電荷耦合器件和/或雪崩光電二極管。

6.根據權利要求1所述的復合探測裝置，其特征在于，所述第一結構和所述第二結構均包括粘接結構或者承接結構與粘接結構的組合。

7.根據權利要求6所述的復合探測裝置，其特征在于，所述粘接結構由光學膠水、硅膠、AB膠和/或UV膠組成，所述承接結構包括光學光導、光學玻璃或光纖。

8.根據權利要求7所述的復合探測裝置，其特征在于，所述承接結構被部分切割或全切割，并且所述承接結構的切割縫隙的寬度均為0.1mm～0.5mm。

9.根據權利要求6-8任一項所述的復合探測裝置，其特征在于，所述承接結構為單層結構或者為小于10層的多層結構，并且所述承接結構的總厚度為0.1mm～10mm。

10.根據權利要求1所述的復合探測裝置，其特征在于，所述探測單元還包括：

信號復用電路，其用于對所述光電轉換器陣列產生的所述第一電信號和所述第二電信號進行信號復用處理并將處理后的所述第一電信號和所述第二電信號發送給所述信號處理單元。

11.根據權利要求1所述的復合探測裝置，其特征在于，所述信號處理單元包括：

采樣子單元，其用于根據預設電壓閾值對所述第一電信號和所述第二電信號進行采樣，以記錄所述第一電信號和所述第二電信號的下降沿衰減時間；

確定子單元，其用于根據所述第一電信號和所述第二電信號的下降沿衰減時間來確定所述放射性射線的類型。

12.根據權利要求1所述的復合探測裝置，其特征在于，所述信號處理單元包括：

第一子單元，其用于將所述第一電信號分為第一路電信號A和第二路電信號A，將所述第二電信號分為第一路電信號B和第二路電信號B，并且對所述第一路電信號A和所述第一路電信號B的時間進行延遲處理，對所述第二路電信號A和所述第二路電信號B的幅度進行衰減處理；

第二子單元，其用于對比所述第一路電信號A的幅度與所述第二路電信號A的幅度并記錄所述第一路電信號A的幅度與所述第二路電信號A的幅度相等時的第一時間點，以及對比所述第一路電信號B的幅度與所述第二路電信號B的幅度并記錄所述第一路電信號B的幅度與所述第二路電信號B的幅度相等時的第二時間點；

第三子單元，其用于根據所述第一時間點和所述第二時間點來確定所述放射性射線的類型。