[發(fā)明專利]一種非線性效應(yīng)放大和探測電子超快過程的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811539628.3 | 申請日: | 2018-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN109782508B | 公開(公告)日: | 2022-01-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蔣尋涯;竇宇身;汝廣喆;李裘粹 | 申請(專利權(quán))人: | 復(fù)旦大學(xué) |
| 主分類號: | G02F1/35 | 分類號: | G02F1/35;G02F1/355 |
| 代理公司: | 上海正旦專利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陸飛;陸尤 |
| 地址: | 200433 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 非線性 效應(yīng) 放大 探測 電子 過程 方法 | ||
1.一種非線性效應(yīng)放大和探測電子超快過程的方法,其特征在于,具體步驟如下:
步驟1、初步選定包含非線性材料的光子晶體系統(tǒng);引入相對強(qiáng)度弱的超短信號脈沖和相對強(qiáng)度強(qiáng)的超短泵浦脈沖,兩者強(qiáng)度相差至少一個量級;其中,來自外部的低強(qiáng)度信號脈沖和高強(qiáng)度泵浦脈沖從不同光路到達(dá)光子晶體,兩者均為高斯調(diào)制脈沖、相同的中心頻率3.75×1014Hz和相同的脈沖時間長度6fs;在該光子晶體中,信號脈沖的駐留時間為60fs,即泵浦脈沖時間長度明顯小于信號脈沖在光子晶體中的駐留時間;超短泵浦脈沖是用于激發(fā)材料的非線性,即在某段時間內(nèi)改變材料介電常數(shù)或磁導(dǎo)率;
步驟2、探測并記錄超短信號脈沖的透射場或反射場;在時域觀察信號脈沖的透射場或反射場,由多個脈沖組合而成,這是由于信號脈沖在光子晶體中受到多次散射所致,把它們分為一階脈沖和高階脈沖,一階脈沖就是原始信號脈沖經(jīng)過散射后的剩余部分,高階脈沖包含二階脈沖、三階脈沖、四階脈沖,是由于多次散射產(chǎn)生的;經(jīng)過傅里葉變換,獲得信號脈沖在某個頻率的透射率或反射率;在無泵浦脈沖時,選取光子晶體某個“低透射率或低反射率”的頻率作為關(guān)注頻率;所觀察到的低透射率或低反射率,是由于一階脈沖與高階脈沖在特定頻率上的“相干相消”所造成的;
步驟3、改變“信號脈沖與泵浦脈沖到達(dá)的時間差”,每改變一次時間差,就是確定一種實(shí)驗(yàn)狀態(tài),對于每一種實(shí)驗(yàn)狀態(tài),分別測量超短信號脈沖的透射場或反射場;通過改變時間差來實(shí)現(xiàn)多個實(shí)驗(yàn)狀態(tài),通過測量透射場或反射場,得到每種狀態(tài)下的信號脈沖在所關(guān)注頻率的透射率或反射率,最終獲得信號脈沖在所關(guān)注頻率的透射率或反射率隨時間差變化的曲線,即“透射率變化vs泵浦時間”曲線;在選取的關(guān)注頻率,觀察到透射率或反射率隨時間差的變化而出現(xiàn)顯著變化,即在某些特定時間差的區(qū)間,透射率或反射率會出現(xiàn)顯著增加;
步驟4、由于介電常數(shù)或磁導(dǎo)率的非線性變化是由于非線性材料內(nèi)部的電子過程決定的,電子體系的過程參量就會影響“非線性變化vs時間”的曲線;改變非線性材料內(nèi)部電子體系的過程參量和脈沖參數(shù),分別重復(fù)步驟1-步驟3,得到“不同電子體系情況下”的“透射率變化vs泵浦時間”曲線;
步驟5、基于步驟4獲得“不同電子體系情況下”的曲線,觀察曲線特征隨體系內(nèi)部電子體系過程參量的變化規(guī)律,并以此為定標(biāo),根據(jù)“實(shí)際得到的曲線”來反推體系內(nèi)部的電子體系過程參量,從而獲取電子內(nèi)部超快過程的參量信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非線性效應(yīng)放大和探測電子超快過程的方法,其特征在于,步驟1中,所述的非線性材料為一種或多種三階非線性材料、二階非線性材料和其他可以被外電磁場調(diào)控的非線性材料;所述的光子晶體包含各種晶格類型、晶格常數(shù)、填充比、單個原胞內(nèi)的結(jié)構(gòu)形狀和結(jié)構(gòu)參數(shù);所述的超短信號脈沖、超短泵浦脈沖包括高斯脈沖、調(diào)制高斯脈沖,涉及不同的脈沖參數(shù):脈沖時域及頻域范圍、脈沖強(qiáng)度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的非線性效應(yīng)放大和探測電子超快過程的方法,其特征在于,步驟3中,對于低透射率情況的透射場,在特定時間進(jìn)行泵浦,一階脈沖和高階脈沖之間的“相干相消”被顯著破壞,從而導(dǎo)致透射率大幅上升,其中:(i)一階脈沖開始離開系統(tǒng)之前進(jìn)行泵浦,透射率沒有明顯變化;(ii)在一階脈沖剛剛開始離開體系之后進(jìn)行泵浦,透射率開始出現(xiàn)明顯升高;(iii)當(dāng)“在一階脈沖恰好完全離開體系時”進(jìn)行泵浦,透射率達(dá)到最大值,是整個曲線的主峰;(iv)繼續(xù)進(jìn)行泵浦,透射率比最大值開始緩慢下降;在二階、三階脈沖離開體系時,有對應(yīng)的小峰。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的非線性效應(yīng)放大和探測電子超快過程的方法,其特征在于,步驟4中,所述的非線性材料內(nèi)部的電子過程包括二能級、三能級、四能級和能帶電子體系中的電子激發(fā)、衰減等任何可以影響材料介電常數(shù)、磁導(dǎo)率的內(nèi)部電子過程;所述的電子體系的過程參量包括電子過程的響應(yīng)時間和弛豫時間,電子體系各能級的壽命,響應(yīng)時間和弛豫時間的尺度包括飛秒或阿秒量級的時間尺度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非線性效應(yīng)放大和探測電子超快過程的方法,其特征在于,步驟5中曲線特征包括透射率最大值、透射率下降快慢、小峰的位置和高度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于復(fù)旦大學(xué),未經(jīng)復(fù)旦大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811539628.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨(dú)立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的





