[發(fā)明專利]一種基于深度學(xué)習(xí)的天線下傾角測量方法

在審

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• 申請日: 2018-12-14
• 公開（公告）號: CN109870138A
• 公開（公告）日: 2019-06-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鄧文博;翟懿奎;柯琪銳;伍月婷;徐穎;王天雷;甘俊英;吳細;陳麗燕
• 申請（專利權(quán)）人: 五邑大學(xué)
• 主分類號: G01C9/00
• 分類號: G01C9/00;G01B21/22;G06T7/00;G06T7/60;G06K9/62
• 代理公司: 廣州嘉權(quán)專利商標事務(wù)所有限公司 44205
• 代理人: 梁嘉琦

1.一種基于深度學(xué)習(xí)的天線下傾角測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

建立天線數(shù)據(jù)庫并進行量化處理；

天線圖片輸入到深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，并進入特征提取網(wǎng)絡(luò)以獲取天線特征圖像；

天線圖片進入SE表征增強網(wǎng)絡(luò)有選擇性地加強包含有用特征并抑制無用特征；

天線圖片進入目標識別網(wǎng)絡(luò)對天線進行識別候選并得到天線下傾角角度；

其中SE表征增強網(wǎng)絡(luò)設(shè)有壓縮激勵單元對通道間的依賴關(guān)系進行建模，并自適應(yīng)的調(diào)整各通道的特征響應(yīng)值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的天線下傾角測量方法，其特征在于，所述壓縮激勵單元對天線圖片進行壓縮操作和激勵操作。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的天線下傾角測量方法，其特征在于，所述壓縮操作包括以下步驟：

順著空間維度來進行特征壓縮，將每個二維的特征通道變成一個實數(shù)；

壓縮全局空間信息形成一個通道描述符并使用全局平均池化來生成各通道的統(tǒng)計量。

4.根據(jù)權(quán)利要求2或3任一項所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的天線下傾角測量方法，其特征在于，所述激勵操作通過sigmoid激活函數(shù)的門限機制實現(xiàn)；將特征維度降低到輸入的1/r；再經(jīng)過非線性激活后再通過一個全連接層升回到原來的維度；其中r為超參數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的天線下傾角測量方法，其特征在于，所述激勵操作對天線特征圖像進行以下處理：F_tr:I→U,I∈R^W'×H'×C',U∈R^W×H×C；

其中，F(xiàn)_tr表示一次或者多次卷積操作的卷積操作符，I表示原始的圖像特征，U表示獲取的圖像特征，W×H表示特征圖的維度，C表示通道個數(shù)；

其中，V_c＝[v₁,v₂,...v_C]表示學(xué)習(xí)的卷積核集合，v_c表示第c個卷積核參數(shù)，其輸出為Uc＝[u1，u2，...u_c]；

其中，Zc為通過U的空間維度HxW生成的一個統(tǒng)計量的第c個元素；

s＝F_ex(z,W)＝σ(g(z,W))＝σ(W₂δ(W₁z))；

其中，δ是線性激活函數(shù)操作，

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的天線下傾角測量方法，其特征在于，所述的建立天線數(shù)據(jù)庫并進行量化處理包括以下步驟：輸入帶有標簽的天線圖片樣本；所述標簽包括天線經(jīng)緯度、天線方向角和天線下傾角。

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的天線下傾角測量方法，其特征在于，所述的建立天線數(shù)據(jù)庫并進行量化處理包括以下步驟：將天線圖片樣本按照下傾角的角度0－16度且度數(shù)跨度為0.5度分類為30個等級。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的天線下傾角測量方法，其特征在于，所述特征提取網(wǎng)絡(luò)包括級聯(lián)非線性激活函數(shù)和輕量級網(wǎng)絡(luò)。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的天線下傾角測量方法，其特征在于，所述目標識別網(wǎng)絡(luò)為faster CNCC的識別檢測模塊。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種基于深度學(xué)習(xí)的天線下傾角測量方法，其特征在于，所述目標識別網(wǎng)絡(luò)的目標函數(shù)為其中，i表示網(wǎng)絡(luò)中候選框的索引，pi表示前向分類預(yù)測值，pi＊表示候選框的預(yù)測值概率。