[發明專利]一種光電穩定平臺通用測試平臺及方法

在審

• 申請號: 201811537661.2
• 申請日: 2018-12-15
• 公開（公告）號: CN111323045A
• 公開（公告）日: 2020-06-23
• 發明（設計）人: 張明月;張宏巍;劉慧
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00;G01D21/02;G05B23/02
• 代理公司: 深圳市科進知識產權代理事務所(普通合伙) 44316
• 代理人: 曹衛良

1.一種光電穩定平臺通用測試平臺，其特征在于，包括光學平臺(1)，光學平臺(1)上安裝有器件測試平臺(2)，器件測試平臺(2)連接有目標機(3)，目標機(3)內安裝有數據采集卡(4)和串口卡(5)，目標機(3)通過數據線連接有宿主機(6)。

2.根據權利要求1所述的光電穩定平臺通用測試平臺，其特征在于，所述目標機(3)的輸出端連接有電機驅動器(7)，電機驅動器(7)與器件測試平臺(2)連接。

3.根據權利要求1所述的光電穩定平臺通用測試平臺，其特征在于，所述器件測試平臺(2)包括底座(21)，底座(21)安裝于光學平臺(1)上，底座(21)上安裝有支撐架(22)，支撐架(22)上分別安裝有導電滑環(23)、陀螺(24)、電機(25)和編碼器(26)，陀螺(24)上連接有慣量塊(27)，導電滑環(23)與陀螺(24)電連接；導電滑環(23)、電機(25)、編碼器(26)均與目標機(3)電連接。

4.一種光電穩定平臺通用測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

a)裝配：將目標器件安裝到器件測試平臺(2)上，將器件測試平臺(2)安裝在光學平臺(1)上，將器件測試平臺(2)與目標機(3)連接，目標機(3)與宿主機(6)連接；目標器件連接目標機(3)內的串口卡(5)，目標器件兩端加上電源；

b)待測性能測試：在宿主機(6)上搭建用于生成XPC實時內核的Simulink模型，根據所用的串口卡(5)的類型選擇對應的Simulink模塊，并進行配置，根據數據傳輸協議搭建解碼模型；采用XPCTarget技術生成實時內核，運行得到特定目標器件的動靜態特性或輸出信息；在MATLAB中進行分析得到待測性能的具體特性，對待測性能的具體特性進行評價。

5.根據權利要求4所述的光電穩定平臺通用測試方法，其特征在于，在步驟a)中根據所采用的目標器件的通訊協議選擇串口卡(5)。

6.根據權利要求4或5所述的光電穩定平臺通用測試方法，其特征在于，待測性能為編碼器(26)性能時：

在步驟a)中，目標器件為編碼器(26)；

在步驟b)中，采用XPCTarget技術生成實時內核，運行得到編碼器(26)的動靜態特性；在MATLAB中進行分析得到編碼器(26)動靜態數據，對編碼器(26)性能進行評價。

7.根據權利要求4或5所述的光電穩定平臺通用測試方法，其特征在于，待測性能為陀螺(24)性能時：

在步驟a)中，目標器件為陀螺(24)和導電滑環(23)，陀螺(24)和導電滑環(23)均安裝于器件測試平臺(2)上，陀螺(24)與導電滑環(23)電連接，導電滑環(23)連接目標機(3)內的串口卡(5)，陀螺(24)兩端加上電源；

在步驟b)中，采用XPCTarget技術生成實時內核，運行得到陀螺(24)的動靜態特性；在MATLAB中進行分析得到陀螺(24)動靜態數據，對陀螺(24)性能進行評價。