[發明專利]NVME硬盤壽命的檢測方法、裝置、系統及存儲介質

在審

• 申請號: 201811536308.2
• 申請日: 2018-12-14
• 公開（公告）號: CN109558288A
• 公開（公告）日: 2019-04-02
• 發明（設計）人: 王相宇
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

本發明公開了一種NVME硬盤壽命的檢測方法、裝置、系統及計算機可讀存儲介質，該方法包括采用BMC讀取NVME硬盤的管理寄存器，獲取相應的寄存器信息；對所述寄存器信息進行解析得到所述NVME硬盤的使用壽命百分比；將所述使用壽命百分發送至終端設備進行顯示。本申請能夠通過BMC讀取NVME硬盤的管理寄存器的寄存器信息，并對該寄存器信息解析后得到該NVME硬盤的使用壽命百分比，通過終端設備對NVME硬盤的使用壽命百分比進行顯示，以便工作人員及時對壽命將盡的NVME硬盤進行更換，提高了檢測的實時性和準確性，并且不需要額外的檢測工具，節約成本。

技術領域

本發明實施例涉及存儲設備技術領域，特別是涉及一種NVME硬盤壽命的檢測方法、裝置、系統及計算機可讀存儲介質。

背景技術

NVME硬盤是一種使用非易失性內存主機控制器接口規范(Non-Volatile Memoryexpress)的固態硬盤，通過PCI-Express(PCIe)總線進行讀寫操作，相對于普通固態硬盤性能有數倍提升。每個NVME硬盤均具有一定的使用壽命，并且NVME硬盤在壽命將盡時往往容易出現損壞，進而造成所存儲的數據的丟失，因此，需要對NVME硬盤進行壽命檢測。

目前，現有技術中主要是通過在系統下運行廠家提供的硬盤檢測工具或者其他硬盤檢測工具來預估NVME硬盤的壽命，一方面，增加檢測成本、無法對NVME硬盤的壽命進行實時檢測；另一方面，由于各個機器配置不同，硬盤廠家不同，導致檢測工具的通用性較差，不能夠準確的檢測出VME硬盤的壽命。

鑒于此，如何提供一種解決上述技術問題的NVME硬盤壽命的檢測方法、裝置、系統及計算機可讀存儲介質成為本領域技術人員需要解決的問題。

發明內容

本發明實施例的目的是提供一種NVME硬盤壽命的檢測方法、裝置、系統及計算機可讀存儲介質，在使用過程中提高了檢測的實時性和準確性，并且不需要額外的檢測工具，節約成本。

為解決上述技術問題，本發明實施例提供了一種NVME硬盤壽命的檢測方法，包括：

采用BMC讀取NVME硬盤的管理寄存器，獲取相應的寄存器信息；

對所述寄存器信息進行解析得到所述NVME硬盤的使用壽命百分比；

將所述使用壽命百分發送至終端設備進行顯示。

可選的，還包括：

判斷所述使用壽命百分比是否大于預設值，若是，則發出告警提示。

可選的，所述發出告警提示的過程為：

通過短信息的形式向客戶端發送告警提示。

可選的，所述采用BMC讀取NVME硬盤的管理寄存器的過程為：

采用BMC通過SMBUS協議讀取NVME硬盤的管理寄存器。

可選的，在所述使用壽命百分比大于預設值時，還包括：

檢測所述NVME硬盤的硬盤背板的數據信息；

依據所述硬盤背板的數據信息對所述NVME硬盤進行定位，獲取所述NVME硬盤的位置信息。

本發明實施例相應的提供了一種NVME硬盤壽命的檢測裝置，包括：

讀取模塊，用于采用BMC讀取NVME硬盤的管理寄存器，獲取相應的寄存器信息；

解析模塊，用于對所述寄存器信息進行解析得到所述NVME硬盤的使用壽命百分比；

發送模塊，用于將所述使用壽命百分發送至終端設備進行顯示。

可選的，還包括：