[發明專利]一種光譜儀波長標定裝置及方法

有效

• 申請號: 201811535556.5
• 申請日: 2018-12-14
• 公開（公告）號: CN109724695B
• 公開（公告）日: 2020-07-14
• 發明（設計）人: 胡獻恩;許寧
• 申請（專利權）人: 執鼎醫療科技（杭州）有限公司
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;G01J3/02
• 代理公司: 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙) 44288
• 代理人: 胡擁軍;糜婧

本發明提供了一種光譜儀波長標定裝置，包括OCT系統、標定模型、圖像模塊、分析模塊和校正模塊，標定模型包括透鏡和玻璃，透鏡設于OCT系統和玻璃之間；OCT系統提供光源，光源通過透鏡入射到玻璃，圖像模塊獲取所述玻璃所對應的干涉光譜信號；分析模塊初始化OCT系統的光譜校正參數，并將所述干涉光譜信號轉換為對應的A?Scan圖像，獲取A?Scan圖像中的第一波峰對應的第一半高峰寬，以及第二波峰對應的第二半高峰寬；校正模塊判斷第一半高峰寬是否接近于第二半高峰寬，且二者均為最小值，若是，則對應的光譜校正參數為最優值，否則，調節OCT系統的光譜校正參數，并重復執行分析模塊，提高了波長標定結果的精確。

技術領域

本發明涉及醫療成像技術領域，尤其涉及一種光譜儀波長標定裝置及方法。

背景技術

光譜測量具有靈敏度高、分析速度快等特點，可對不同的吸收光譜(如紫外光、可見光、近紅外光等吸收光譜)、反射和輻射光譜等多種光譜進行定性定量分析。由于被測樣品吸收或者反射的光強是光波波長的函數，所以使用光譜儀進行樣品成分測量的依據是被測樣品在各光波波長下吸收或者反射的光強大小。因此在實際測量中，光譜儀中各CCD或者CMOS像素所對應的實際光波波長必須準確，否則，測量的準確度就會降低。

光譜儀在出廠時都已經精確標定，但是在使用一段時間后光波波長與光纖光譜儀中的CCD像素間的關系會發生變化，并且CCD部件的電路漂移也會引起光譜儀中的CCD像素間的關系會發生變化，并且CCD部件的電路漂移也會引起光波波長與像素之間的變化，所以在實際使用中，都要定期進行標定。在光譜儀中，一個復合光經光柵分光后，會將不同波長的依次排開照射在相機的不同像素上。波長標定就是將不同像素對應的波長值標示出來。波長標定過程的思路是，采用含有已知波長的線狀特征譜線的標準光源作為依據，將該光源的光信號輸入到光譜儀中后獲取從儀器輸出的譜線數據，對數據進行處理并找出所有特征譜線的峰值所對應的像素位置，結合于相應特征譜線的峰值波長真值，得出譜線的“峰值波長-像素位置”數據組。用多項式函數擬合所述數據獲得該光譜儀輸出波長與像素位置之間的關系函數，依次就可以推出每個像素對應的波長值，達到波長標定的目的。現有技術中，通過搭建標定系統并進行波長標定實驗，通常采用低壓汞氬燈作為標準光源，實驗中通常采用光纖來實現光路耦合。由于光纖較窄，入射到光譜儀中的光能量就會減少，因此光能量不能容易耦合進光譜儀，影響波長標定的精確度。其次，光譜儀的分辨率較低的話，也會影響波長標定的準確度。

因此，為解決上述技術問題，本發明提出一種光譜儀波長標定裝置及方法，解決波長標定過程中出現的問題，提高波長標定的準確度。

發明內容

為了克服現有技術的不足，本發明提供一種光譜儀波長標定裝置及方法，提高了波長標定結果的精確度。

根據上述發明目的，本發明一種提供種光譜儀波長標定裝置，所述標定裝置包括OCT系統、標定模型、圖像模塊、分析模塊和校正模塊，所述標定模型包括透鏡和玻璃，其中，

所述透鏡設于所述OCT系統和所述玻璃之間；

所述OCT系統，用于提供光源，所述光源通過所述透鏡入射到所述玻璃；

所述圖像模塊，用于獲取所述玻璃所對應的干涉光譜信號；

所述分析模塊，用于初始化所述OCT系統的光譜校正參數，并將所述干涉光譜信號轉換為對應的A-Scan圖像，獲取所述A-Scan圖像中的第一波峰對應的第一半高峰寬，以及第二波峰對應的第二半高峰寬；

所述校正模塊，用于判斷所述第一半高峰寬是否接近于第二半高峰寬，且二者均為最小值，若是，則對應的光譜校正參數為最優值，否則，調節所述OCT系統的光譜校正參數，并重復執行所述分析模塊。

優選地，所述玻璃是為石英玻璃，所述玻璃的厚度為2mm。

優選地，所述透鏡與所述玻璃之間的距離為17mm。