[發(fā)明專利]一種電源芯片低噪聲特性測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811535481.0
• 申請日: 2018-12-14
• 公開（公告）號: CN109471019B
• 公開（公告）日: 2021-10-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 孫泉;齊敏;萬中強
• 申請（專利權(quán)）人: 江蘇集萃微納自動化系統(tǒng)與裝備技術(shù)研究所有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/40
• 代理公司: 蘇州市中南偉業(yè)知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32257
• 代理人: 曹成俊

本發(fā)明公開了一種電源芯片低噪聲特性測試裝置，包括被測電源芯片；與被測電源芯片連接的工頻信號陷波電路；與所述工頻信號陷波電路連接的可調(diào)節(jié)增益的低噪聲放大器；與所述低噪聲放大器連接的單端輸入轉(zhuǎn)差分輸入電路；與所述單端輸入轉(zhuǎn)差分輸入電路連接的差分輸入高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器；與所述差分輸入高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器連接的處理單元；所述處理單元與電平轉(zhuǎn)換器連接，所述電平轉(zhuǎn)換器與數(shù)據(jù)接收設(shè)備連接的技術(shù)方案，本發(fā)明可用于電源芯片低噪聲特性的測試。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種電源芯片低噪聲特性測試裝置。

背景技術(shù)

在芯片測試低噪聲參考電壓有很低的噪聲頻譜，測試設(shè)備的本底噪聲需要遠(yuǎn)低于待測信號頻譜才能準(zhǔn)確完成測試，通常情況下測試設(shè)備的本底噪聲達不到測量低噪聲參考電壓噪聲頻譜的要求。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種電源芯片低噪聲特性測試裝置，其可以將待測信號噪聲放大一定倍數(shù)，使得放大后的噪聲遠(yuǎn)大于測試設(shè)備本底噪聲，從而實現(xiàn)低噪聲參考電壓頻譜的準(zhǔn)確測量。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下：一種電源芯片低噪聲特性測試裝置，包括被測電源芯片；與被測電源芯片連接的工頻信號陷波電路，通過所述工頻信號陷波電路對工頻信號進行濾波；與所述工頻信號陷波電路連接的可調(diào)節(jié)增益的低噪聲放大器，通過所述低噪聲放大器將被測低噪聲信號進行放大；與所述低噪聲放大器連接的單端輸入轉(zhuǎn)差分輸入電路，通過所述單端輸入轉(zhuǎn)差分輸入電路有效抑制電源頻率從而有更好的輸出擺幅；與所述單端輸入轉(zhuǎn)差分輸入電路連接的差分輸入高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器，通過所述差分輸入高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器將模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號；與所述差分輸入高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器連接的處理單元，通過所述處理單元對數(shù)字信號進行處理采集；所述處理單元與電平轉(zhuǎn)換器連接，通過所述電平轉(zhuǎn)換器將數(shù)字電平轉(zhuǎn)換成模擬電平，所述電平轉(zhuǎn)換器與數(shù)據(jù)接收設(shè)備連接。

進一步的，優(yōu)選地，所述工頻信號陷波電路與被測電源芯片之間連接有隔直流部件。

更優(yōu)選地，所述隔直流部件、所述工頻信號陷波電路、所述低噪聲放大器、所述單端輸入轉(zhuǎn)差分輸入電路、所述差分輸入高精度數(shù)模轉(zhuǎn)換器、所述處理單元與所述電平轉(zhuǎn)換器均設(shè)置在屏蔽盒內(nèi)。

更優(yōu)選地，所述隔直流部件與被測電源之間通過高屏蔽連接器連接。

更優(yōu)選地，所述電平轉(zhuǎn)換器與所述數(shù)據(jù)接收設(shè)備之間通過標(biāo)準(zhǔn)UARTRS2323接口連接。

優(yōu)選地，所述數(shù)據(jù)接收設(shè)備包括上位機、示波器或者質(zhì)譜儀。

更優(yōu)選地，所述隔直流部件包括電容。

優(yōu)選地，處理單元包括FPGA或微處理器。

更優(yōu)選地，所述低噪聲放大器包括AD797放大器，所述AD797放大器的正極輸入端與第一電容和第一電阻連接，所述第一電容另一端與所述工頻信號陷波電路連接，所述第一電阻另一端接地，所述AD797放大器的負(fù)極輸入端與可調(diào)電阻連接，所述AD797放大器的負(fù)極輸入端與輸出端之間連接有第二電阻，所述AD797放大器的輸出端與第二電容連接，所述第二電容另一端與所述單端輸入轉(zhuǎn)差分輸入電路連接。

更優(yōu)選地，所述可調(diào)電阻的可調(diào)范圍為10Ω～200Ω。

本發(fā)明的有益效果：本發(fā)明通過低噪聲放大器將待測信號噪聲進行放大，使得放大后的噪聲遠(yuǎn)大于測試設(shè)備本底噪聲，從而實現(xiàn)低噪聲參考電壓頻譜的準(zhǔn)確測量，降低了測試設(shè)備的本底噪聲以及數(shù)模轉(zhuǎn)換器的精度要求。

附圖說明

圖1是本發(fā)明一種電源芯片低噪聲特性測試裝置的結(jié)構(gòu)原理圖；

圖2是本發(fā)明的低噪聲放大器的結(jié)構(gòu)原理圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明作進一步說明，以使本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以更好地理解本發(fā)明并能予以實施，但所舉實施例不作為對本發(fā)明的限定。