[發明專利]一種直讀光譜分析試樣的定位裝置

在審

• 申請號: 201811533693.5
• 申請日: 2018-12-14
• 公開（公告）號: CN109490203A
• 公開（公告）日: 2019-03-19
• 發明（設計）人: 劉多宇;高樹峰;劉鵬宇;樂建鳳;付微
• 申請（專利權）人: 河鋼股份有限公司承德分公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/67
• 代理公司: 石家莊冀科專利商標事務所有限公司 13108
• 代理人: 曹淑敏

一種直讀光譜分析試樣的定位裝置，屬于鋼鐵材料檢測設備技術領域，用于直讀光譜分析試樣的定位。其技術方案是：固定座和旋轉軌道為相同直徑的金屬圓環體，固定座安裝在激發臺上，固定座的中心與激發孔的中心重合，旋轉軌道放置在固定座上，旋轉軌道圓周沿著固定座圓周轉動，套管固定在旋轉軌道上，測量桿插在套管中，測量桿的下端與激發孔相對，測量桿與套管為滑動配合，測量桿上有刻度，套管上端有垂直的頂絲孔，頂絲穿過頂絲孔與測量桿頂緊。本發明結構簡單、操作方便、測量穩定，可以準確檢測或定位不規則試樣壓制在激發臺的位置，檢查試樣圓周各點是否能夠覆蓋激發孔，避免發生激發孔漏光現象，有利于提高直讀光譜分析的準確性。

技術領域

本發明涉及一種用于直讀光譜分析試樣的簡易定位裝置，屬于鋼鐵材料檢測設備技術領域。

背景技術

火花原子發射光譜技術是原子在熱光源下利用放電原理的分析技術，這種分析技術可以有效地降低背景等效濃度，具有快速、準確、可同時檢測多元素等優點，因此被廣泛應用于鋼鐵材料檢測領域。在進行材料檢測前，需要制備試樣。鋼鐵材料試樣可使用砂輪機、砂帶機、或砂紙磨盤等制樣設備來磨制，以去除試樣表面的氧化層。制備好的試樣表面應平整潔凈，紋路清晰，平面應大于激發孔的面積（激發孔Φ（12～15）mm），即磨制后的試樣應可以完全覆蓋激發孔。但在實際工作中經常會遇見一些不規則的試樣，如在鋼鐵冶煉過程中的連鑄坯需要檢測成分時，工作人員為了減少對連鑄坯的破壞而切割下來的鑒定試樣較小，有些檢定試樣較窄部位與激發孔直徑幾乎相近，檢測人員磨制試樣后無法判斷其是否完全覆蓋激發孔，如不能完全覆蓋，激發試樣過程中會出現漏光現象，會造成數據準確度降低或失真等現象。目前存在的問題是，工作人員在制備試樣時，無法檢測或定位試樣是否能夠完全覆蓋激發孔，一般都是依靠檢測人員目測判斷，具有很大的誤差和不確定性，亟待加以改進。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種直讀光譜分析試樣的定位裝置，這種定位裝置可以檢測或定位試樣覆蓋激發孔情況，更好地將試樣對準電極并完全覆蓋激發孔，避免出現漏光現象，提高直讀光譜分析準確度。

解決上述技術問題的技術方案是：

一種直讀光譜分析試樣的定位裝置，它由固定座、旋轉軌道、套管、測量桿、頂絲組成，固定座和旋轉軌道為相同直徑的金屬圓環體，固定座安裝在激發臺上，固定座的中心與激發孔的中心重合，旋轉軌道放置在固定座上，旋轉軌道圓周沿著固定座圓周轉動，旋轉軌道下表面與固定座上表面為滑動配合，套管固定在旋轉軌道上，套管的中心軸線與旋轉軌道圓環的一個直徑重合，測量桿插在套管中，測量桿的下端與激發孔相對，測量桿與套管為滑動配合，測量桿上有刻度，套管上端有垂直的頂絲孔，頂絲穿過頂絲孔與測量桿頂緊。

上述直讀光譜分析試樣的定位裝置，所述圓環形固定座的圓環上部為環形的三角形凸起，相對的圓環形旋轉軌道的圓環下部為環形的三角形凹槽，固定座的上部環形三角形凸起與旋轉軌道的下部環形三角形凹槽相匹配，環形三角形凸起與環形三角形凹槽為滑動配合。

上述直讀光譜分析試樣的定位裝置，所述圓環形旋轉軌道的上表面為向圓環形中心傾斜的環形傾斜面，套管沿著傾斜面固定，套管中的測量桿的前端與激發孔的上表面相對。

本發明的有益效果是：

本發明的固定座固定放置在激發孔的外圓周，旋轉軌道可以帶動套管和測量桿沿著固定座旋轉，測量桿的刻度可以顯示測量桿前端與激發孔上覆蓋的試樣邊緣的距離，以此測量試樣是否覆蓋住了激發孔。

本發明結構簡單、操作方便、測量穩定準確，可以準確檢測或定位不規則試樣壓制在激發臺的位置，檢查試樣圓周各點是否能夠覆蓋激發孔，避免發生激發孔漏光現象，有利于提高直讀光譜分析的準確性。

附圖說明

圖1是本發明的結構示意圖；

圖2是圖1的A-A剖視圖。