[發(fā)明專利]一種拉曼光譜數(shù)據(jù)的處理方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811533229.6 | 申請日: | 2018-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN109632761B | 公開(公告)日: | 2021-11-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張健偉;段貴嬌;陳魯;張志彬;陳遲;霍劍 | 申請(專利權(quán))人: | 廣東環(huán)凱微生物科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 44205 | 代理人: | 譚英強 |
| 地址: | 510663 廣東省廣州*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光譜 數(shù)據(jù) 處理 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明公開了一種拉曼光譜數(shù)據(jù)的處理方法及系統(tǒng),方法包括以下步驟:通過拉曼光譜儀采集測試樣品的第一拉曼光譜數(shù)據(jù);對所述第一拉曼光譜數(shù)據(jù)進行去本底處理得到第二拉曼光譜數(shù)據(jù);根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)樣品的拉曼光譜數(shù)據(jù)庫和第二拉曼光譜數(shù)據(jù),對測試樣品中的成分進行識別,得到識別結(jié)果。本發(fā)明通過對測試樣品的第一拉曼光譜數(shù)據(jù)進行去本底處理,得到第二拉曼光譜數(shù)據(jù),再根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)樣品的拉曼光譜數(shù)據(jù)庫和第二拉曼光譜數(shù)據(jù),對測試樣品中的成分進行識別,得到識別結(jié)果,通過去本底處理,避免識別過程中本底光譜對測試結(jié)果的影響,保證識別結(jié)果的準(zhǔn)確性。本發(fā)明可廣泛應(yīng)用于光譜數(shù)據(jù)處理領(lǐng)域。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光譜數(shù)據(jù)處理領(lǐng)域,尤其是一種拉曼光譜數(shù)據(jù)處理方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
拉曼光譜分析技術(shù)是利用激光刺激被測樣品,被測樣品受激輻射拉曼信號,由于不同物質(zhì)的內(nèi)部分子結(jié)構(gòu)不同,使得樣品受激能夠產(chǎn)生特定的拉曼散射光譜,從而可以通過分析拉曼信號研究分子結(jié)構(gòu)和成分構(gòu)成。隨著激光技術(shù)和光電探測技術(shù)的進步,拉曼技術(shù)在成分檢測領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。近年來,國內(nèi)對食品藥品安全監(jiān)督的力度越來越大,相比較傳統(tǒng)氣相液相分析設(shè)備,采用拉曼光譜檢測設(shè)備進行成分檢測具有檢測周期短、成本低和攜帶方便的優(yōu)勢。但是,由于拉曼信號非常弱,尤其是小型輕量化設(shè)備的激光能量弱,其對散射光的收集能力也有限,導(dǎo)致探測器件得到的拉曼信號容易受到本底光譜、噪聲和雜散光的干擾,如果直接對探測器采集的數(shù)據(jù)進行處理和分析,則會影響對測試樣品進行成分判斷的準(zhǔn)確性。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明的目的在于:提供一種能有效地檢測出測試樣品中是否含有標(biāo)準(zhǔn)樣品成分的拉曼光譜數(shù)據(jù)的處理方法及系統(tǒng)。
本發(fā)明采用的第一種技術(shù)方案是:一種拉曼光譜數(shù)據(jù)的處理方法,包括以下步驟:
通過拉曼光譜儀采集測試樣品的第一拉曼光譜數(shù)據(jù);
對所述第一拉曼光譜數(shù)據(jù)進行去本底處理得到第二拉曼光譜數(shù)據(jù);
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)樣品的拉曼光譜數(shù)據(jù)庫和第二拉曼光譜數(shù)據(jù),對測試樣品中的成分進行識別,得到識別結(jié)果。
進一步地,所述對所述第一拉曼光譜數(shù)據(jù)進行去本底處理得到第二拉曼光譜數(shù)據(jù),具體為:
通過高通濾波器矩陣和懲罰函數(shù)對第一拉曼光譜數(shù)據(jù)進行去本底處理,得到第二拉曼光譜數(shù)據(jù),所述第二拉曼光譜數(shù)據(jù)的計算公式為:
其中,為第二拉曼光譜數(shù)據(jù),y為第一拉曼光譜數(shù)據(jù),x為迭代光譜數(shù)據(jù),F(xiàn)(x)為評價函數(shù),H為有限域高通濾波器矩陣,φ為懲罰函數(shù),λ為權(quán)重系數(shù),Di為第i階微分,M為微分總階數(shù),Ni為第i階微分?jǐn)?shù)據(jù)長度。
進一步地,所述有限域高通濾波器矩陣,通過以下步驟獲取:
獲取第一微分算子和截斷算子;
根據(jù)第一微分算子和截斷算子,得到第一增廣矩陣和第二增廣矩陣;
獲取延展模式變換矩陣;
根據(jù)第一增廣矩陣和延展模式變換矩陣,得到截斷矩陣;
根據(jù)第二增廣矩陣和延展模式變換矩陣,得到微分矩陣;
根據(jù)截斷矩陣和微分矩陣得到有限域高通濾波器矩陣。
進一步地,在對所述第一拉曼光譜數(shù)據(jù)進行去本底處理之前,還包括以下步驟:
根據(jù)拉曼光譜儀的波長分辨率計算波數(shù)最小分辨率,得到波數(shù)分度值,所述波數(shù)分度值的計算公式為:
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 數(shù)據(jù)顯示系統(tǒng)、數(shù)據(jù)中繼設(shè)備、數(shù)據(jù)中繼方法、數(shù)據(jù)系統(tǒng)、接收設(shè)備和數(shù)據(jù)讀取方法
- 數(shù)據(jù)記錄方法、數(shù)據(jù)記錄裝置、數(shù)據(jù)記錄媒體、數(shù)據(jù)重播方法和數(shù)據(jù)重播裝置
- 數(shù)據(jù)發(fā)送方法、數(shù)據(jù)發(fā)送系統(tǒng)、數(shù)據(jù)發(fā)送裝置以及數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)
- 數(shù)據(jù)顯示系統(tǒng)、數(shù)據(jù)中繼設(shè)備、數(shù)據(jù)中繼方法及數(shù)據(jù)系統(tǒng)
- 數(shù)據(jù)嵌入裝置、數(shù)據(jù)嵌入方法、數(shù)據(jù)提取裝置及數(shù)據(jù)提取方法
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