[發明專利]銻納米片及其剝離方法、以及柔性光探測器及其制備方法

有效

• 申請號: 201811528364.1
• 申請日: 2018-12-13
• 公開（公告）號: CN109648095B
• 公開（公告）日: 2021-12-14
• 發明（設計）人: 張浩力;肖琪
• 申請（專利權）人: 蘭州大學
• 主分類號: B22F9/16
• 分類號: B22F9/16;B22F1/00;H01L31/032;H01L31/0336;H01L31/109;H01L31/18;B82Y40/00;B82Y30/00;B82Y15/00
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 李佳

1.一種銻納米片的剝離方法，其特征在于，包括如下步驟：

將銻粉與液相剝離液混合，超聲處理2-4h；

其中，所述液相剝離液為稀釋液和高聚物離子液的混合物，所述稀釋液為油性溶劑，所述高聚物離子液為聚1-乙烯基-3-丙基咪唑六氟磷酸和/或聚1-乙烯基-3-丙基咪唑雙三氟甲烷磺酰亞胺；所述稀釋液選自N-甲基吡咯烷酮、二氯甲烷、乙酸乙酯、石油醚和N，N-二甲基甲酰胺中的至少一種；所述銻粉是由銻晶體研磨5-15min后，再球磨2-4h；

所述銻粉用量為每毫升所述液相剝離液中加入0.5-2mg，所述聚1-乙烯基-3-丙基咪唑六氟磷酸在所述稀釋液中的濃度為12-14mg/mL，所述聚1-乙烯基-3-丙基咪唑雙三氟甲烷磺酰亞胺在所述稀釋液中的濃度為7-8mg/mL。

2.根據權利要求1所述的銻納米片的剝離方法，其特征在于，所述稀釋液為N，N-二甲基甲酰胺。

3.根據權利要求1所述的銻納米片的剝離方法，其特征在于，所述銻粉用量為每毫升所述液相剝離液中加入0.7-1.2mg。

4.根據權利要求1所述的銻納米片的剝離方法，其特征在于，所述球磨過程中的轉速是450-550rpm。

5.一種銻納米片，其特征在于，其由權利要求1-4中任一項所述的銻納米片的剝離方法制備而得，所述銻納米片為Sb/P([VPIm]PF₆)納米片或Sb/P([VPIm]TFSI)納米片。

6.一種光探測器的制備方法，其特征在于，其包括以下步驟：

根據權利要求1-4中任一項所述的銻納米片的剝離方法制備待加工納米片，所述待加工納米片為Sb/P([VPIm]PF₆)納米片或Sb/P([VPIm]TFSI)納米片；

將所述待加工納米片與硫化鎘量子點復合。

7.根據權利要求6所述的光探測器的制備方法，其特征在于，將所述待加工納米片與所述硫化鎘量子點復合的過程包括以下步驟：

將所述待加工納米片濃縮至0.1-0.3mg/mL，然后在基底薄膜上干燥成膜得到具有納米片層的基底材料；

采用順序化學浴沉積法在所述具有納米片層的基底材料上復合硫化鎘量子點。

8.根據權利要求7所述的光探測器的制備方法，其特征在于，所述基底薄膜為ITO/PET基底，所述待加工納米片的成膜厚度為4-6μm，電極間隔為90-110nm。

9.根據權利要求7所述的光探測器的制備方法，其特征在于，在所述具有納米片層的基底材料上復合所述硫化鎘量子點的過程包括：將所述具有納米片層的基底材料依次浸入四個不同器皿中，每次停留時間為25-35s；其中，第一個器皿中裝有CdCl₂水溶液，第二個器皿中裝有Na₂S水溶液，第三個器皿和第四個器皿中均裝有水。

10.根據權利要求9所述的光探測器的制備方法，其特征在于，所述CdCl₂水溶液和所述Na₂S水溶液的濃度均為0.04-0.06mol/L。

11.根據權利要求10所述的光探測器的制備方法，其特征在于，將所述有納米片層的基底材料依次浸入四個不同器皿中的操作重復8-12次。

12.一種柔性光探測器，其特征在于，其應用權利要求6-11中任一項所述的光探測器的制備方法制備而得。