[發(fā)明專(zhuān)利]一種運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的檢測(cè)門(mén)限生成方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811526972.9 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109613527B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-11-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 景凱;田超;盧博;尚悅 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北京無(wú)線(xiàn)電測(cè)量研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01S13/50 | 分類(lèi)號(hào): | G01S13/50;G01S7/36;G01S7/292 |
| 代理公司: | 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212 | 代理人: | 楊立;孟鵬超 |
| 地址: | 100854 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 運(yùn)動(dòng) 目標(biāo) 檢測(cè) 門(mén)限 生成 方法 裝置 | ||
本發(fā)明提供了一種運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的檢測(cè)門(mén)限生成方法,其包括:利用從脈沖多普勒雷達(dá)獲取的一個(gè)相參處理時(shí)間內(nèi)采集的脈沖信息,生成多個(gè)多普勒通道的待檢測(cè)信號(hào);對(duì)所述待檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行單元平均恒虛警率處理,生成均勻背景下的檢測(cè)門(mén)限;根據(jù)獲取的雷達(dá)系統(tǒng)靜止雜波特征,計(jì)算地雜波副瓣門(mén)限;計(jì)算所述待檢測(cè)信號(hào)中的脈沖干擾信息對(duì)距離多普勒域的干擾參考門(mén)限;通過(guò)所述檢測(cè)門(mén)限、所述地雜波副瓣門(mén)限以及所述干擾參考門(mén)限對(duì)所述脈沖信息進(jìn)行檢測(cè),得到二值檢測(cè)結(jié)果。在單元平均恒虛警率方法的基礎(chǔ)上,利用當(dāng)前數(shù)據(jù)的靜止雜波分布以及干擾分布結(jié)合雷達(dá)系統(tǒng)相參特性?xún)?yōu)化檢測(cè)門(mén)限的生成,降低檢測(cè)中由于雜波及干擾引起的虛警率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及雷達(dá)系統(tǒng)及雷達(dá)信號(hào)處理技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的檢測(cè)門(mén)限生成方法及裝置。
背景技術(shù)
雷達(dá)具有全天候全天時(shí)發(fā)現(xiàn)目標(biāo)的能力,PD(Pulse Doppler,脈沖多普勒)相參體制雷達(dá)因具有良好雜波抑制能力而被廣泛應(yīng)用。但是隨著各類(lèi)具有電磁輻射能力設(shè)備的發(fā)展應(yīng)用,電磁環(huán)境的日益復(fù)雜導(dǎo)致干擾的普遍存在,這會(huì)引起脈沖間相參性的破壞,在雜波背景與干擾同時(shí)存在時(shí),雜波背景的均勻性被破壞,雜波的多普勒副瓣導(dǎo)致運(yùn)動(dòng)目標(biāo)被淹沒(méi),給控制目標(biāo)檢測(cè)的虛警率帶來(lái)困難,這是脈沖體制雷達(dá)在干擾下虛警過(guò)多的原因之一。現(xiàn)有技術(shù)中,沒(méi)有降低檢測(cè)中由于雜波及干擾引起的虛警方法有和裝置。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的檢測(cè)門(mén)限生成方法及裝置。
本發(fā)明解決上述技術(shù)問(wèn)題的技術(shù)方案如下:一種運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的檢測(cè)門(mén)限生成方法,其包括:
利用從脈沖多普勒雷達(dá)獲取的一個(gè)相參處理時(shí)間內(nèi)采集的脈沖信息,生成多個(gè)多普勒通道的待檢測(cè)信號(hào);
對(duì)所述待檢測(cè)信號(hào)進(jìn)行單元平均恒虛警率處理,生成均勻背景下的檢測(cè)門(mén)限;
根據(jù)獲取的雷達(dá)系統(tǒng)靜止雜波特征,計(jì)算地雜波副瓣門(mén)限;
計(jì)算所述待檢測(cè)信號(hào)中的脈沖干擾信息對(duì)距離多普勒域的干擾參考門(mén)限;
通過(guò)所述檢測(cè)門(mén)限、所述地雜波副瓣門(mén)限以及所述干擾參考門(mén)限對(duì)所述脈沖信息進(jìn)行檢測(cè),得到二值檢測(cè)結(jié)果。
本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明針對(duì)同時(shí)存在地雜波及同頻異步干擾情況下雷達(dá)恒虛警率檢測(cè)虛警多的問(wèn)題,在單元平均恒虛警率方法的基礎(chǔ)上,利用當(dāng)前數(shù)據(jù)的靜止雜波分布以及干擾分布結(jié)合雷達(dá)系統(tǒng)相參特性?xún)?yōu)化檢測(cè)門(mén)限的生成,能夠快速的適應(yīng)復(fù)雜的地面強(qiáng)靜止雜波以及干擾同時(shí)存在的環(huán)境,降低檢測(cè)中由于雜波及干擾引起的虛警率。
本發(fā)明解決上述技術(shù)問(wèn)題的另一種技術(shù)方案如下:
一種運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的檢測(cè)門(mén)限生成裝置,其包括:
存儲(chǔ)器,用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序;
處理器,用于執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序,實(shí)現(xiàn)如上任一項(xiàng)所述的運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的檢測(cè)門(mén)限生成方法。
本發(fā)明解決上述技術(shù)問(wèn)題的另一種技術(shù)方案如下:
一種存儲(chǔ)介質(zhì),所述存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有指令,當(dāng)計(jì)算機(jī)讀取所述指令時(shí),使所述計(jì)算機(jī)執(zhí)行如上任一項(xiàng)所述的運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的檢測(cè)門(mén)限生成方法。
本發(fā)明附加的方面的優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出,部分將從下面的描述中變得明顯,或通過(guò)本發(fā)明實(shí)踐了解到。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的門(mén)限生成方法的示意性流程圖之一。
圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的門(mén)限生成裝置的示意性結(jié)構(gòu)框圖。
圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的門(mén)限生成方法的示意性流程圖之二。
具體實(shí)施方式
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01S 無(wú)線(xiàn)電定向;無(wú)線(xiàn)電導(dǎo)航;采用無(wú)線(xiàn)電波測(cè)距或測(cè)速;采用無(wú)線(xiàn)電波的反射或再輻射的定位或存在檢測(cè);采用其他波的類(lèi)似裝置
G01S13-00 使用無(wú)線(xiàn)電波的反射或再輻射的系統(tǒng),例如雷達(dá)系統(tǒng);利用波的性質(zhì)或波長(zhǎng)是無(wú)關(guān)的或未指明的波的反射或再輻射的類(lèi)似系統(tǒng)
G01S13-02 .利用無(wú)線(xiàn)電波反射的系統(tǒng),例如,初級(jí)雷達(dá)系統(tǒng);類(lèi)似的系統(tǒng)
G01S13-66 .雷達(dá)跟蹤系統(tǒng);類(lèi)似系統(tǒng)
G01S13-74 .應(yīng)用無(wú)線(xiàn)電波再輻射的系統(tǒng),例如二次雷達(dá)系統(tǒng);類(lèi)似系統(tǒng)
G01S13-86 .雷達(dá)系統(tǒng)與非雷達(dá)系統(tǒng)
G01S13-87 .雷達(dá)系統(tǒng)的組合,例如一次雷達(dá)與二次雷達(dá)
- 運(yùn)動(dòng)座椅運(yùn)動(dòng)控制裝置
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- 運(yùn)動(dòng)解析裝置、運(yùn)動(dòng)解析系統(tǒng)以及運(yùn)動(dòng)解析方法
- 運(yùn)動(dòng)解析裝置、運(yùn)動(dòng)解析方法及運(yùn)動(dòng)解析系統(tǒng)
- 運(yùn)動(dòng)提示裝置、運(yùn)動(dòng)提示方法以及運(yùn)動(dòng)提示程序
- 運(yùn)動(dòng)提示裝置、運(yùn)動(dòng)提示方法以及運(yùn)動(dòng)提示程序
- 一種運(yùn)動(dòng)方法、運(yùn)動(dòng)設(shè)備及運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)
- 運(yùn)動(dòng)水杯(運(yùn)動(dòng))
- 目標(biāo)檢測(cè)裝置、學(xué)習(xí)裝置、目標(biāo)檢測(cè)系統(tǒng)及目標(biāo)檢測(cè)方法
- 目標(biāo)監(jiān)測(cè)方法、目標(biāo)監(jiān)測(cè)裝置以及目標(biāo)監(jiān)測(cè)程序
- 目標(biāo)監(jiān)控系統(tǒng)及目標(biāo)監(jiān)控方法
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤裝置
- 目標(biāo)檢測(cè)方法和目標(biāo)檢測(cè)裝置
- 目標(biāo)跟蹤方法、目標(biāo)跟蹤裝置、目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)跟蹤系統(tǒng)及目標(biāo)跟蹤方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
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