[發明專利]一種共焦掃面顯微鏡光源調制方法有效
| 申請號： | 201811525282.1 | 申請日： | 2018-12-13 |
| 公開（公告）號： | CN109917538B | 公開（公告）日： | 2020-04-03 |
| 發明（設計）人： | 張金蓮;張杰 | 申請（專利權）人： | 南京智博醫療器械有限公司 |
| 主分類號： | G02B21/00 | 分類號： | G02B21/00;G02B21/06 |
| 代理公司： | 北京智丞瀚方知識產權代理有限公司 11810 | 代理人： | 楊樂 |
| 地址： | 210000 江蘇省南京市*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 共焦掃面 顯微鏡 光源 調制 方法 | ||
1.一種共焦掃面顯微鏡光源調制方法，其特征在于，包括如下步驟：
采用光源功率調制器對光源進行調制，對光源的發射端功率通過所述光源功率調制器按正弦曲線或余弦曲線進行非線性調制；
對光源輸出端在快速共振鏡的正向掃描采樣窗口和逆向掃描采樣窗口同時進行功率調制；或對光源輸出端在正向掃描采樣窗口進行功率調制；或者對光源輸出端在逆向掃描采樣窗口進行功率調制。
2.根據權利要求1所述共焦掃面顯微鏡光源調制方法，其特征在于，所述光源功率調制器為聲光調制器AOM。
3.根據權利要求2所述共焦掃面顯微鏡光源調制方法，其特征在于，對光源的發射端功率通過聲光調制器AOM進行非線性調制，得到光源在樣本空間的輻射量分布：
I′(x)＝ΔI(x)/Δx＝k·P0/ω
其中：ΔI(x)為掃描樣本的單位空間尺寸接收到的輻射量；Δx為位置；k是AOM的衰減系數，為一個常數；P0是光源的發射端功率；ω為快速共振鏡的角速度。
4.一種共焦掃面顯微鏡光源調制方法，其特征在于，包括如下步驟：
采用光源功率調制器對光源進行調制，對光源的發射端功率通過所述光源功率調制器按正弦曲線或余弦曲線進行非線性調制；
對光源輸出端在快速共振鏡的正向掃描圖像窗口和逆向掃描圖像窗口同時進行功率調制；或對光源輸出端在正向掃描圖像窗口進行功率調制；或，對光源輸出端在逆向掃描圖像窗口進行功率調制。
5.根據權利要求4所述共焦掃面顯微鏡光源調制方法，其特征在于，所述光源功率調制器為聲光調制器AOM。
6.根據權利要求5所述共焦掃面顯微鏡光源調制方法，其特征在于，對光源的發射端功率通過聲光調制器AOM進行非線性調制，得到光源在樣本空間的輻射量分布：
I′(x)＝ΔI(x)/Δx＝k·P0/ω
其中：ΔI(x)為掃描樣本的單位空間尺寸接收到的輻射量，x為位置；Δx為位置偏移量；k是AOM的衰減系數，為一個常數；P0是光源的發射端功率；ω為快速共振鏡的角速度。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于南京智博醫療器械有限公司，未經南京智博醫療器械有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811525282.1/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種共焦掃面顯微鏡光源調制方法
- 下一篇：一種便于電池片觀測的顯微鏡測試工裝
