[發明專利]一種電子元件質量檢測治具

在審

• 申請號: 201811522709.2
• 申請日: 2018-12-13
• 公開（公告）號: CN111323532A
• 公開（公告）日: 2020-06-23
• 發明（設計）人: 白大好
• 申請（專利權）人: 江蘇福田電氣有限公司
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種電子元件質量檢測治具，包括檢測臺（1），其特征在于：所述檢測臺（1）的頂部開設有支架槽（2），所述支架槽（2）的左右兩側壁均設置有滑軌（3），兩組所述滑軌（3）相互貼近一側滑動設置有安裝支架（4），所述安裝支架（4）的頂部均勻開設有多組置放槽（5），所述檢測臺（1）頂部左右兩側對稱設置有固定座（6），兩組固定座（6）之間固定設置有固定桿（7）；

所述檢測臺（1）頂部左右兩側開設有活動槽（9），左側所述活動槽（9）的內腔設置有轉動棍（10），所述轉動棍（10）的頂部和底部均通過軸承與檢測臺（1）轉動連接，所述轉動棍（10）的頂部轉動連接有電機（11），所述電機（11）固定于檢測臺（1）的外側壁，所述轉動棍（10）的外側壁開設有螺旋滑槽（12），右側所述活動槽（9）的內腔設置有固定輥（13），所述固定輥（13）的頂部和底部分別與活動槽（9）的頂部和底部相固接，所述固定輥（13）的頂部開設有滑槽（14），所述滑槽（14）和螺旋滑槽（12）的內腔均滑動設置有滑桿（15），所述滑桿（15）的頂部固定設置有活動板（8），所述活動板（8）活動套接于固定桿（7）的外側壁。

2.根據權利要求1所述的一種電子元件質量檢測治具，其特征在于：兩組所述活動槽（9）的頂部均設置有密封蓋（16），所述密封蓋（16）通過鎖緊螺釘（17）與檢測臺（1）的頂部相連接。

3.根據權利要求2所述的一種電子元件質量檢測治具，其特征在于：所述密封蓋（16）的頂部開設有供滑桿（15）滑動的滑動槽（18）。

4.根據權利要求1所述的一種電子元件質量檢測治具，其特征在于：所述活動板（8）的底部左右兩側對稱設置有掃描檢測探頭（19）。

5.根據權利要求4所述的一種電子元件質量檢測治具，其特征在于：所述掃描檢測探頭（19）與計算機電性連接。