[發明專利]顯示面板測試裝置及顯示裝置

在審

• 申請號: 201811521785.1
• 申請日: 2018-12-12
• 公開（公告）號: CN109389921A
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發明（設計）人: 單劍鋒
• 申請（專利權）人: 惠科股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

本發明公開一種顯示面板測試裝置及顯示裝置，顯示面板測試裝置包括測試信號輸入端、短路柵、N個單向導通組件和N個導電線路，所述測試信號輸入端輸入的顯示面板測試信號依次經所述短路柵、單向導通組件、N個導電線路之后輸出至顯示面板，以對顯示面板進行測試。本發明解決了現有技術中顯示面板的G暗線相互干擾的問題。

技術領域

本發明涉及顯示裝置技術領域，特別涉及一種顯示面板測試裝置及顯示裝置。

背景技術

現有顯示面板(TFT-LCD)的生產工藝中，會有一道短棒測試(Shorting BarTesting)程序，其測試原理是在顯示面板的測試線路注入測試信號把面板點亮，通過控制測試程序產生一些簡單的測試畫面，如果面板存在缺陷(如黑點、彩點、劃線和灰度不均等)，缺陷就會在這些畫面顯示出來，再由人工或者缺陷自動檢測系統把不良面板檢測出來，保證不合格的產品不進入下道IC綁定程序，避免不必要的驅動芯片(IC)以及異方性導電膠膜(ACF)等材料的浪費，提高顯示面板產品的合格率、降低物耗成本。

但是在進行驅動芯片和顯示面板的連接(bonding)之前，需要將短路柵(shortingbar)與連接區(Gate IC產生的信號到達玻璃端的橋梁)內的走線鐳射掉，如果鐳射后有兩條以上走線短路，就會有G暗線發生，從而影響顯示面板的顯示結果。

發明內容

本發明的主要目的是提出一種顯示面板測試裝置，實現了顯示面板的G暗線相不干擾的目的。

為實現上述目的，本發明提出一種顯示面板測試裝置，所述顯示面板測試裝置包括：

測試信號輸入端，用于對應接收測試設備輸入的顯示面板測試信號；

短路柵，所述短路柵具有公共輸入端和與所述公共輸入端連接的N個輸出端，所述短路柵的公共輸入端與所述測試信號輸入端連接；

N個單向導通組件，所述單向導通組件具有輸入端和輸出端，所述單向導通組件自其輸入端至其輸出端單向導通，N個所述單向導通組件的輸入端與所述短路柵的N個輸出端一對一連接；

N個導電線路，N個導電線路的輸入端與N個所述單向導通組件的輸出端一對一連接；N個導電線路的輸出端用于連接顯示面板；N個導電線路自其輸入端至其輸出端依次分為鐳射區和連接區；

所述測試信號輸入端輸入的顯示面板測試信號依次經所述短路柵、單向導通組件、N個導電線路之后輸出至顯示面板，以對顯示面板進行測試。

可選地，所述單向導通組件為二極管，所述二極管的陽極為輸入端，所述二極管的陰極為輸出端。

可選地，所述顯示面板測試裝置還包括扇出區，N個導電線路自其輸入端至其輸出端依次分為鐳射區、連接區和扇出區。

可選地，所述測試信號輸入端、短路柵、N個單向導通組件、N個導電線路中的至少兩者設置在同一電路板上。

可選地，所述導電線路為鋪設于所述電路板上的導電膜。

可選地，所述導電線路為鋪設于所述電路板上的銅片。

可選地，所述導電線路為所述電路板經過蝕刻形成的導電層。

為實現上述目的，本發明還提出一種顯示面板測試裝置，所述顯示面板測試裝置包括：

M個測試信號輸入端，用于對應接收測試設備輸入的顯示面板測試信號；

M個短路柵，每一所述短路柵具有公共輸入端和與所述公共輸入端連接的N/M個輸出端，M個所述短路柵的公共輸入端與M個所述測試信號輸入端一對一連接；

N個單向導通組件，所述單向導通組件具有輸入端和輸出端，所述單向導通組件自其輸入端至其輸出端單向導通，N個所述單向導通組件的輸入端與所述短路柵的N/M個輸出端一對一連接；