[發明專利]一種新型陷光裝置

在審

• 申請號: 201811513579.6
• 申請日: 2018-12-11
• 公開（公告）號: CN109459356A
• 公開（公告）日: 2019-03-12
• 發明（設計）人: 康學亮;張白
• 申請（專利權）人: 北方民族大學
• 主分類號: G01N15/06
• 分類號: G01N15/06
• 代理公司: 北京市領專知識產權代理有限公司 11590
• 代理人: 林輝輪;張玲

本發明涉及一種新型陷光裝置，包括第一反射鏡組，所述第一反射鏡組包括至少一個第一反射鏡，每個第一反射鏡包括反射面一與反射面二；第二反射鏡組，所述第二反射鏡組包括至少一個第二反射鏡，每個第二反射鏡包括反射面三與反射面四；所述反射面三與反射面二平行，所述反射面四與反射面一平行；每個反射面一的背面、反射面二的背面、反射面三的背面、反射面四的背面均設置有第一吸光材料。本陷光裝置通過入射激光在第一反射鏡組與第二反射鏡組間來回反射，且每次入射激光入射至反射面時，均有部分激光透過反射鏡并由第一吸光材料吸收，通過對入射激光進行多次反射與吸收，大大提高了陷光裝置吸收光的能力。

技術領域

本發明涉及光學領域，具體涉及一種新型陷光裝置。

背景技術

目前主要的檢測空氣中塵埃粒子濃度的方法有接觸測量法與非接觸測量法。接觸測量法包括稱重法、沉降法，篩分法等。非觸測量法包括光散射法與光透射法。雖然稱重法精度高，但是檢測方式復雜，對稱重環境要求極高，耗時長，浪費人工，且不能實時顯示檢測結果，更無法實現連續檢測。因此，光學法測塵埃粒子雖然精度相較稱重法低，但是其具有可以實時監測、耗時短、節省人力、可以連續檢測等優點，因此更適合應用在工業生產等場合。

散射式塵埃粒子計數器原理：激光光源發射激光，穿過與氣流通道交叉的光敏感區域發生MIE散射現象，散射光照射到光學傳感器上。因為塵埃粒子的粒徑大小不同，發生散射所產生的散射光強度不同，產生的電流大小也不同。經過濾波，整流，經由微弱信號放大電路將微弱的電流信號轉換放大為電壓信號。然后CPU根據強弱不同的電脈沖信號甄別出不同粒徑大小的塵埃粒子，根據電脈沖的數量來確定微粒的數量最后計數。結構圖如圖5所示，其中系統必不可少的結構是光陷阱結構。然而現有的光陷阱結構吸光能力低，且存在光反射回測量系統內造成背景噪聲偏大的問題。

發明內容

本發明的目的在于改善現有技術中所存在的不足，提供一種新型陷光裝置。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：

一種新型陷光裝置，包括：

第一反射鏡組，所述第一反射鏡組包括至少一個第一反射鏡，每個第一反射鏡包括反射面一與反射面二；

第二反射鏡組，所述第二反射鏡組包括至少一個第二反射鏡，每個第二反射鏡包括反射面三與反射面四；

所述反射面三與反射面二平行，所述反射面四與反射面一平行；每個反射面一的背面、反射面二的背面、反射面三的背面、反射面四的背面均設置有第一吸光材料；

所述第一反射鏡的反射面一，用于接收入射激光，并使入射激光發生反射；

所述第二反射鏡的反射面三，用于接收所述反射面一反射的入射激光，且使接收的入射激光反射至所述反射面四；

所述第一反射鏡的反射面二，用于接收所述反射面四反射的入射激光，且使接收的入射激光反射至下一個第一反射鏡的反射面一。

通過入射激光在第一反射鏡組與第二反射鏡組間來回反射，且每次入射激光入射至反射面時，均有部分激光透過反射鏡并由第一吸光材料吸收，通過對入射激光進行多次反射與吸收，大大提高了陷光裝置吸收光的能力。

在進一步的方案中，所述反射面一與反射面二頭尾相接，組成帶有直角夾角的的第一反射鏡，所述至少一個第一反射鏡沿入射激光的入射方向依次分布；所述反射面三與反射面四頭尾相接，組成帶有直角夾角的的第二反射鏡，所述至少一個第二反射鏡沿入射激光的入射方向依次分布。

在進一步的方案中，所述反射面一與反射面二頭尾相接且平行放置，所述第一反射鏡組整體構成一字型結構；所述反射面三與反射面四頭尾相接且平行放置，所述第二反射鏡組整體構成一字型結構。