[發明專利]一種超導薄膜壓縮時臨界電流密度和臨界溫度的測量裝置

在審

• 申請號: 201811512830.7
• 申請日: 2018-12-11
• 公開（公告）號: CN109406861A
• 公開（公告）日: 2019-03-01
• 發明（設計）人: 張興義;蘇西洋;王軍;劉聰;周軍;周又和
• 申請（專利權）人: 蘭州大學
• 主分類號: G01R19/08
• 分類號: G01R19/08;G01K13/00
• 代理公司: 北京中譽威圣知識產權代理有限公司 11279
• 代理人: 席勇

1.一種超導薄膜壓縮時臨界電流密度和臨界溫度的測量裝置，其特征在于，包括真空箱、試驗機壓頭、玻璃纖維板和超導薄膜樣品施壓夾具，所述真空箱的頂部插入試驗機壓頭，試驗機壓頭與真空箱接觸的部位上套設波紋管，所述玻璃纖維板包括上玻璃纖維板和下玻璃纖維板，所述上玻璃纖維板設置于試驗機壓頭的下方，所述下玻璃纖維板固定于真空箱底部，所述玻璃纖維板和超導薄膜樣品施壓夾具設置于真空箱中，所述上玻璃纖維板和下玻璃纖維板之間放置超導薄膜樣品施壓夾具，所述超導薄膜樣品施壓夾具包括上夾具、鈹銅梁和下夾具，所述上夾具和下夾具分別夾持鈹銅梁的頂面和底面，所述鈹銅梁的頂面中間開有放置超導薄膜樣品的凹槽，所述超導薄膜樣品的上表面固定溫度計和應變片；所述鈹銅梁通過銅編帶與設置于真空箱上的制冷機二級冷頭連接，鈹銅梁上設有加熱電阻，所述真空箱上設有真空插座和真空閥；所述超導薄膜樣品、溫度計、應變片和加熱電阻通過導線連接至真空插座上，所述真空插座與外部采集測試儀器相連。

2.如權利要求1所述的超導薄膜壓縮時臨界電流密度和臨界溫度的測量裝置，其特征在于，所述上夾具的底面設置兩個上夾頭，所述下夾具的頂面設置兩個下夾頭，所述兩個下夾頭之間的距離大于所述兩個上夾頭之間的距離，所述兩個上夾頭之間的距離大于所述凹槽的寬度。

3.如權利要求2所述的超導薄膜壓縮時臨界電流密度和臨界溫度的測量裝置，其特征在于，所述上夾頭的橫截面呈倒三角形，所述下夾頭的橫截面呈正三角形。

4.如權利要求1所述的超導薄膜壓縮時臨界電流密度和臨界溫度的測量裝置，其特征在于，所述超導薄膜樣品通過膠水固定于凹槽中，所述焊點與導線連接后再連接至真空插座上。