[發明專利]一種功率器件制備方法及功率器件在審
| 申請號: | 201811511251.0 | 申請日: | 2018-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN109755129A | 公開(公告)日: | 2019-05-14 |
| 發明(設計)人: | 不公告發明人 | 申請(專利權)人: | 泉州臻美智能科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/329 | 分類號: | H01L21/329;H01L29/06;H01L29/861 |
| 代理公司: | 深圳市知頂頂知識產權代理有限公司 44504 | 代理人: | 馬世中 |
| 地址: | 362216 福建省泉州市*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 功率器件 制備 擊穿電壓穩定性 常規產品 隔離結構 雙向功能 應用成本 應用過程 制造成本 面積比 放電 襯底 次光 多路 刻蝕 原胞 離子 電路 側面 | ||
1.一種功率器件制備方法,其特征在于,包括:
提供第一導電類型的襯底;
在所述襯底的側壁刻蝕形成第一橫向溝槽和第二橫向溝槽;
在所述第一橫向溝槽和所述第二橫向溝槽內進行熱氧化形成氧化硅;
在所述襯底上表面刻蝕形成第三溝槽和第四溝槽,所述第三溝槽和所述第四溝槽分別與所述第一橫向溝槽和所述第二橫向溝槽內的氧化硅接觸;
在所述第三溝槽和所述第四溝槽內填充第二導電類型雜質分別形成第一外延層和第二外延層;
在所述襯底表面制備形成介質層,所述介質層覆蓋所述第三溝槽和所述第四溝槽;
在所述襯底上表面和下表面制備金屬層。
2.根據權利要求1所述的功率器件制備方法,其特征在于,所述第一橫向溝槽和所述第二橫向溝槽在所述襯底內的位置左右對稱。
3.根據權利要求1所述的功率器件制備方法,其特征在于,所述第一橫向溝槽和所述第二橫向溝槽采用干法刻蝕形成。
4.根據權利要求1所述的功率器件制備方法,其特征在于,所述第三溝槽和所述第四溝槽在所述襯底內的位置左右對稱。
5.根據權利要求1所述的功率器件制備方法,其特征在于,所述第一外延層和所述第二外延層通過氣相外延生長法形成。
6.根據權利要求1所述的功率器件制備方法,其特征在于,所述第一金屬和所述第二金屬采用金屬濺射法淀積形成。
7.根據權利要求1所述的功率器件制備方法,其特征在于,所述介質層為二氧化硅。
8.一種功率器件,其特征在于,包括:
第一導電類型的襯底;
形成于所述襯底側壁的第一橫向溝槽和第二橫向溝槽,所述第一橫向溝槽和所述第二橫向溝槽內填充氧化硅;
第三溝槽和第四溝槽,所述第三溝槽和所述第四溝槽分別與所述第一橫向溝槽和所述第二橫向溝槽內的氧化硅接觸;
第一外延層和第二外延層,所述第一外延層和所述第二外延層分別填充所述第三溝槽和所述第四溝槽;
介質層,所述介質層覆蓋所述第三溝槽和所述第四溝槽;
第一金屬和第二金屬,所述第一金屬和所述第二金屬分別形成于所述襯底上表面和下表面。
9.根據權利要求8所述的功率器件,其特征在于,所述第一橫向溝槽和所述第二橫向溝槽成中心對稱。
10.根據權利要求8所述的功率器件,其特征在于,所述介質層為二氧化硅。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





