[發(fā)明專利]一種自動駕駛車輛多測試場景分析與數目化簡方法

有效

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• 申請日: 2018-12-10
• 公開（公告）號: CN109753623B
• 公開（公告）日: 2020-05-01
• 發(fā)明（設計）人: 羅禹貢;齊蘊龍;李克強;孔偉偉;卜德旭;王永勝;徐明暢
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G06F17/00
• 分類號: G06F17/00
• 代理公司: 北京格允知識產權代理有限公司 11609
• 代理人: 張沫

1.一種自動駕駛車輛多測試場景分析與數目化簡方法，其特征在于，

首先完成指定測試場景和測試任務下的測試車輛的所有軌跡規(guī)劃，并從中找出未完成測試任務的失敗軌跡；

其次在對所述失敗軌跡分析的基礎上，得出導致任務未完成的測試場景特性參數；

然后利用多測試場景特性參數間相互重疊或包含的關系，找出測試場景間的重疊或包含關系；

最后利用測試場景間的重疊或包含關系，去除冗余測試場景，化簡測試場景數目；

具體包括如下步驟：

S1：建立測試場景集；

S2：測試場景參數化；

S3：測試場景基于軌跡的遍歷分析；

S4：失敗軌跡故障樹建立；

S5：建立失敗軌跡下的測試場景特性參數組；

S6：多測試場景數目的化簡；

其中，

所述步驟S2中，測試場景用定量和/或定性參數表征；

所述步驟S3中，利用軌跡規(guī)劃算法對測試車輛在同一測試場景、同一測試任務下的行駛軌跡進行遍歷規(guī)劃，從中找出所有未能完成測試任務的失敗軌跡，用于下一步的故障分析；

所述步驟S4中，針對每一失敗軌跡進行故障分析，并建立針對每一失敗軌跡的故障樹，所述故障樹結構為：頂層為故障事件，底層為引起故障的基本事件，中間各層為由基本事件導致故障事件的中間事件；

所述步驟S5中，針對每一失敗軌跡以及故障樹，找出對應于基本事件的測試場景特性參數，然后總結多個失敗軌跡，建立對應的多測試場景特性參數組；

所述步驟S6中，針對步驟S5總結的多測試場景特性參數組進行化簡，去除冗余測試場景。

2.根據權利要求1所述的自動駕駛車輛多測試場景分析與數目化簡方法，其特征在于，所述基本事件分為兩類，一類為發(fā)生即可導致頂事件發(fā)生的基本事件；另一類為需要兩個或兩個以上基本事件間的組合才能導致頂事件發(fā)生的基本事件。

3.根據權利要求1所述的自動駕駛車輛多測試場景分析與數目化簡方法，其特征在于，在尋找與失敗軌跡相關的測試場景特性參數時，選取原則是在同一類參數中選擇最嚴格的參數。

4.根據權利要求1所述的自動駕駛車輛多測試場景分析與數目化簡方法，其特征在于，去除冗余測試場景的方法是，利用多測試場景特性參數之間相互重疊或包含的關系，去除特性參數被完全重疊或包含的所在一組測試場景。