[發(fā)明專利]一種新型寬禁帶功率半導(dǎo)體器件及其制作方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811501679.7 | 申請日: | 2018-12-10 |
| 公開(公告)號: | CN109390336A | 公開(公告)日: | 2019-02-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李鵬;顏劍;譚在超;丁國華;羅寅;張玉明 | 申請(專利權(quán))人: | 西安電子科技大學(xué);蘇州鍇威特半導(dǎo)體有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/06 | 分類號: | H01L27/06;H01L29/872;H01L21/8234 |
| 代理公司: | 南京眾聯(lián)專利代理有限公司 32206 | 代理人: | 顧進(jìn) |
| 地址: | 710075*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 導(dǎo)電型 注入?yún)^(qū) 襯底 功率半導(dǎo)體器件 歐姆接觸電極 肖特基接觸 摻雜層 寬禁帶 電極 導(dǎo)電型外延層 背面電極 正面電極 鈍化層 外延層 氧化層 續(xù)流 阱區(qū) 沉積 填充 制作 | ||
1.一種新型寬禁帶功率半導(dǎo)體器件,其特征在于:包括第一導(dǎo)電型襯底、沉積在襯底之上的第一導(dǎo)電型外延層、位于外延層內(nèi)部的第一和第二阱區(qū)、第一和第二阱區(qū)內(nèi)具有第二導(dǎo)電型、設(shè)置于第一和第二阱區(qū)內(nèi)的第一導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)和第二導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)、設(shè)置于第一和第二阱區(qū)內(nèi)側(cè)的多個溝槽、設(shè)置在第一導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)和第二導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)上部的歐姆接觸電極、設(shè)置在溝槽一側(cè)的第二導(dǎo)電型摻雜層、設(shè)置在第二導(dǎo)電型摻雜層之間頂部的肖特基接觸電極,溝槽向襯底方向延伸,在溝槽中填充POLY柵,在POLY柵的周圍設(shè)置能包裹住POLY柵的氧化層,在歐姆接觸電極和肖特基接觸電極之間設(shè)置一鈍化層,在第一導(dǎo)電型襯底的底部設(shè)置背面電極,在歐姆接觸電極、肖特基接觸電極和鈍化層的頂部設(shè)置正面電極。
2.如權(quán)利要求1所述的一種新型寬禁帶功率半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述第二導(dǎo)電型摻雜層采用角度注入第一導(dǎo)電型外延層內(nèi),第二導(dǎo)電型摻雜層對POLY柵形成半包結(jié)構(gòu)。
3.如權(quán)利要求2所述的一種新型寬禁帶功率半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述第二導(dǎo)電型摻雜層注入的角度范圍為22°-45°。
4.如權(quán)利要求3所述的一種新型寬禁帶功率半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述肖特基接觸電極與第二導(dǎo)電型摻雜層的表面相接觸。
5.如權(quán)利要求4所述的一種新型寬禁帶功率半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述第一導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)和第二導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)均位于第一和第二阱區(qū)的頂部,歐姆接觸電極與第一導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)和第二導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)的表面相接觸,歐姆接觸電極覆蓋第二導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)的整個表面,第二導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)覆蓋第一導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)的一部分表面,鈍化層覆蓋第一導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)的剩余部分表面。
6.如權(quán)利要求5所述的一種新型寬禁帶功率半導(dǎo)體器件,其特征在于,所述鈍化層覆蓋住POLY柵及其周圍的氧化層的整個上表面。
7.如權(quán)利要求1-6任一項所述的新型寬禁帶功率半導(dǎo)體器件的制作方法,其特征在于,具體包括如下步驟:
(1)第一和第二阱區(qū)制作:提供第一導(dǎo)電型襯底,然后將外延層沉積在此襯底上,外延層具有第一導(dǎo)電型,最后上光罩,在外延層表面進(jìn)行選擇性離子注入,并在外延層的頂部兩側(cè)形成第一和第二阱區(qū),在第一和第二阱區(qū)中注入P型離子形成第二導(dǎo)電型;
(2)溝槽刻蝕:在第一和第二阱區(qū)內(nèi)側(cè)進(jìn)行Trench溝槽刻蝕,并且使得溝槽向襯底方向延伸;
(3)第二導(dǎo)電型摻雜層制作:上光罩進(jìn)行選擇性離子注入,并在溝槽一側(cè)采用角度注入制作第二導(dǎo)電型摻雜層;
(4)柵極氧化層和POLY柵制作:在溝槽中沉積POLY柵,并采用高溫柵氧化工藝在POLY柵的周圍設(shè)置能包裹住POLY柵的柵極氧化層;
(5)第一導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)和第二導(dǎo)電型注入?yún)^(qū)制作:上光罩,在外延層表面進(jìn)行選擇性離子注入,在第一和第二阱區(qū)內(nèi)注入第一導(dǎo)電型形成第一導(dǎo)電型注入?yún)^(qū),而在第一和第二阱區(qū)內(nèi)注入第二導(dǎo)電型形成第二導(dǎo)電型注入?yún)^(qū);
(6)鈍化層沉積和歐姆接觸電極及肖特基接觸電極制作:在襯底外延層表面淀積一層鈍化層,該鈍化層是含硅的絕緣隔離材質(zhì),然后上光罩,刻蝕出歐姆接觸孔,再濺射歐姆金屬,并高溫快速退火,在金屬與半導(dǎo)體接觸面反應(yīng)生成金屬硅化物形成歐姆接觸;然后再上光罩,刻蝕肖特基接觸孔,再濺射肖特基金屬,并高溫快速退火,在該金屬與半導(dǎo)體接觸表面形成肖特基接觸;
(7)正面電極、背面電極制作:在歐姆接觸電極、肖特基接觸電極和鈍化層的頂部上金屬鋁,然后上光罩,進(jìn)行金屬刻蝕形成正面電極,在第一導(dǎo)電型襯底的底部上金屬形成背面電極。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





