[發明專利]一種CCY-2型測磁儀測量精度檢測裝置及其使用方法

有效

• 申請號: 201811500309.1
• 申請日: 2018-12-08
• 公開（公告）號: CN109581262B
• 公開（公告）日: 2021-08-31
• 發明（設計）人: 隗燕琳;李濤;閆偉冬;陳敬超;孫韜;曽祥子;蔣遠翔;宋博文;葛利蕊
• 申請（專利權）人: 李濤
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

1.一種CCY-2型測磁儀測量精度檢測裝置，其特征在于：包括檢測開關、標準可調恒流源、電流控制芯片、A/D轉換模塊、電流采集模塊、信號處理芯片以及與信號處理芯片電性連接的顯示板；CCY-2型測磁儀的測量電路的輸出端接入電流采集模塊的輸入端，所述電流采集模塊的輸出端分別接入電流控制芯片的輸入端和信號處理芯片的輸入端；所述電流控制芯片的輸出端接至標準可調恒流源的輸入端，所述標準可調恒流源的輸出端經過檢測開關接至所述CCY-2型測磁儀的標準測量線圈的輸入端；所述標準可調恒流源的輸出端還與A/D轉換模塊的輸入端相連，所述A/D轉換模塊的輸出端接至信號處理芯片的輸入端；在待檢測CCY-2型測磁儀上增設精度檢測端口，所述檢測裝置以外接設備的形式通過精度檢測端口與CCY-2型測磁儀對接；待檢測CCY-2型測磁儀中的測量線圈更換成線圈常數經過專業計量的標準測量線圈：CCY-2型測磁儀首次正式使用前，必須通過CCY-2型測磁儀精度檢測裝置測量并存儲磁場檢測曲線，該檢測曲線即為后續CCY-2型測磁儀磁場測量精度的檢測標準。

2.根據權利要求1所述的CCY-2型測磁儀測量精度檢測裝置的方法，其特征在于，所述檢測曲線的獲取方法，包括以下具體步驟：

(1)CCY-2型測磁儀首次經過參數調整及系統調試運行正常后，由精度檢測端口接入CCY-2型測磁儀測量精度檢測裝置；

(2)啟動檢測開關后，所述檢測裝置將由電流控制芯片根據CCY-2型測磁儀的磁場測量值經電流采集模塊的反饋信號控制標準可調恒流源，在標準測量線圈上施加補償電流，使得CCY-2型測磁儀的磁場測量值為0μT；

(3)電流控制芯片控制標準可調恒流源的輸出，在此補償電流的基礎上呈線性變化，使標準測量線圈的磁場測量值符合實際所需測量磁場值的閉區間；

(4)步驟(3)所形成的磁場值與施加的線性電流構成的曲線稱為磁場檢測曲線，存儲在電流控制芯片及信號處理芯片中，作為后續CCY-2型測磁儀磁場測量精度的檢測標準。

3.根據權利要求2所述的CCY-2型測磁儀測量精度檢測裝置的方法，其特征在于：信號處理芯片中的電流值由標準可調恒流源輸出，經A/D轉換模塊送入。

4.根據權利要求2或3所述的CCY-2型測磁儀測量精度檢測裝置的方法，其特征在于：在CCY-2型測磁儀首次使用后，進行測磁儀測量精度檢測，包括以下具體步驟：

(a)啟動檢測開關后，所述檢測裝置將由電流控制芯片根據CCY-2型測磁儀磁場測量值的反饋信號控制標準可調恒流源，在標準測量線圈上施加補償電流，使得CCY-2型測磁儀的磁場測量值為0μT；

(b)電流控制芯片控制標準可調恒流源的輸出按照磁場檢測曲線中電流的離散值變化，電流輸出值實時經A/D轉換模塊送入信號處理芯片中；

(c)CCY-2型測磁儀的標準測量線圈的磁場測量值通過電流采集模塊也同時輸入到信號處理芯片中；

(d)信號處理芯片將步驟(b)中輸入的電流值與磁場值形成磁場測量曲線；

(e)信號處理芯片將磁場測量曲線與磁場檢測曲線進行比對，以誤差形式顯示在顯示板上。

5.根據權利要求4所述的CCY-2型測磁儀測量精度檢測裝置的方法，其特征在于：當CCY-2型測磁儀測量精度檢測裝置顯示標準測量線圈的測量誤差較大時，需要按照CCY-2型測磁儀的使用說明書進行CCY-2型測磁儀參數調整；當參數調整完成后，用所述檢測裝置重新檢測CCY-2型測磁儀的測量精度，仍顯示誤差較大，說明CCY-2型測磁儀的標準測量線圈的線圈常數已發生變化或線圈已損壞，需要重新定標或更換。